Invention Grant
- Patent Title: 半导体结构及其制作方法
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Application No.: CN201610099938.2Application Date: 2016-02-24
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Publication No.: CN106711083BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 吴铁将 , 施信益
- Applicant: 美光科技公司
- Applicant Address: 美国爱达荷州
- Assignee: 美光科技公司
- Current Assignee: 美光科技公司
- Current Assignee Address: 美国爱达荷州
- Agency: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- Agent 王允方
- Priority: 14/941,665 2015.11.16 US
- Main IPC: H01L21/768
- IPC: H01L21/768 ; H01L23/522 ; H01L23/64

Abstract:
本发明公开了一种半导体结构及其制作方法,此方法包含下列步骤,接收基板,基板具有上表面及下表面;形成第一凹槽从上表面向下表面延伸,第一凹槽具有第一深度;形成第二凹槽从上表面向下表面延伸,第二凹槽具有小于第一深度的第二深度;在第一凹槽及第二凹槽中形成第一导电层;在第一导电层上形成第一绝缘层;在第一绝缘层上形成第二导电层,第二导电层借由第一绝缘层与第一导电层隔离;以及从下表面薄化基板以暴露出第一凹槽中的第二导电层。借此,本发明的制作半导体结构的方法,由于可以利用相同的蚀刻工艺形成电容结构和通孔结构,而使得制作方法更为简单且成本更低。
Public/Granted literature
- CN106711083A 半导体结构及其制作方法 Public/Granted day:2017-05-24
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