Invention Grant
CN107144529B 一种用于椭偏仪精确定位测量的装置及方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种用于椭偏仪精确定位测量的装置及方法
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Application No.: CN201710418023.8Application Date: 2017-06-06
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Publication No.: CN107144529BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 陈莉 , 徐征 , 刘军山 , 刘冲 , 尹鹏和
- Applicant: 大连理工大学
- Applicant Address: 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
- Assignee: 大连理工大学
- Current Assignee: 大连理工大学
- Current Assignee Address: 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
- Agency: 大连智高专利事务所
- Agent 刘文平
- Main IPC: G01N21/21
- IPC: G01N21/21 ; G01N21/01

Abstract:
本发明公开了一种用于椭偏仪精确定位测量的装置及方法。该装置包括定位片、样品台、自动二维移动平台、光强探测器、微型真空泵、显微镜成像系统、照明光源和计算机。利用定位片上的定位孔可清晰界定光斑轮廓,定位孔正下方的光强探测器嵌于样品台中央,随自动二维移动平台沿X轴和Y轴按一定步长精确移动,在使用显微成像系统观察、初步确定定位孔位置的基础上,利用光强探测器获得的光强值精确调整定位孔位置,使光斑和定位孔完全重合,再将显微成像系统的捕捉框移动到定位孔上,捕捉框就代表了光斑的精确位置,使捕捉框位于样品待测结构中,即可开始椭偏测量。本发明实现了针对具体结构的精密定位测量,操作方便,工作效率高。
Public/Granted literature
- CN107144529A 一种用于椭偏仪精确定位测量的装置及方法 Public/Granted day:2017-09-08
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