Invention Publication
- Patent Title: III族氮化物半导体及其制造方法
- Patent Title (English): GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR, AND METHOD FOR PRODUCING SAME
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Application No.: CN201710055495.1Application Date: 2017-01-24
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Publication No.: CN107403859APublication Date: 2017-11-28
- Inventor: 上田章雄 , 石桥明彦
- Applicant: 松下电器产业株式会社
- Applicant Address: 日本大阪府
- Assignee: 松下电器产业株式会社
- Current Assignee: 松下电器产业株式会社
- Current Assignee Address: 日本大阪府
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 葛凡
- Priority: 2016-101456 2016.05.20 JP
- Main IPC: H01L33/12
- IPC: H01L33/12 ; H01L33/32 ; H01L33/00 ; H01L21/20

Abstract:
在包含基板、和在基板上形成的III族氮化物结晶的III族氮化物半导体中,抑制构成基板的元素向III族氮化物结晶的扩散,且减少III族氮化物结晶的位错。在包含通式RAMO4所表示的单晶体(通式中,R表示选自Sc、In、Y、和镧系元素中的一个或多个三价元素,A表示选自Fe(III)、Ga、和Al中的一个或多个三价元素,M表示选自Mg、Mn、Fe(II)、Co、Cu、Zn、和Cd中的一个或多个二价元素)的RAMO4基板上,形成包含In和In以外的III族元素的氮化物的缓冲层,在缓冲层上形成III族氮化物结晶。
Public/Granted literature
- CN107403859B III族氮化物半导体及其制造方法 Public/Granted day:2019-07-05
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IPC分类: