Invention Grant
- Patent Title: 减薄后的硅片背面注入工艺中的传送方法
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Application No.: CN201810024866.4Application Date: 2018-01-11
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Publication No.: CN108231515BPublication Date: 2019-10-11
- Inventor: 罗慧祥
- Applicant: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
- Agency: 上海浦一知识产权代理有限公司
- Agent 郭四华
- Main IPC: H01J37/317
- IPC: H01J37/317 ; H01L21/683 ; H01J37/20

Abstract:
本发明公开了一种减薄后的硅片背面注入工艺中的传送方法包括:步骤一、提供一采用太鼓减薄工艺减薄后的硅片。步骤二、将硅片的正面放置到静电吸盘上;对静电吸盘做如下设置:步骤21、对放电针位置进行设置,使放电针直接接触支撑环,确保放电针完全接触硅片正面的非绝缘位置;步骤22、按照减少初次弹跳量和消除二次弹跳量的方法设置静电吸盘的电源电压模式。步骤三、按照设定的电源电压模式设定电源电压并完成背面离子注入。步骤四、进行取片。本发明能减少初次弹跳量和消除二次弹跳量以及能消除取片前的静电残余,最后能防止硅片在背面离子注入完成后传送过程中产生掉片。
Public/Granted literature
- CN108231515A 减薄后的硅片背面注入工艺中的传送方法 Public/Granted day:2018-06-29
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