Invention Publication
- Patent Title: 封装堆叠结构及其制造方法
- Patent Title (English): Encapsulation stack structure and manufacture method thereof
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Application No.: CN201710130725.6Application Date: 2017-03-07
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Publication No.: CN108573963APublication Date: 2018-09-25
- Inventor: 陈裕纬 , 徐宏欣 , 王启安
- Applicant: 力成科技股份有限公司
- Applicant Address: 中国台湾新竹县湖口乡新竹工业区大同路26号
- Assignee: 力成科技股份有限公司
- Current Assignee: 力成科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 中国台湾新竹县湖口乡新竹工业区大同路26号
- Agency: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- Agent 马雯雯; 臧建明
- Main IPC: H01L25/10
- IPC: H01L25/10 ; H01L23/31 ; H01L21/98

Abstract:
本发明提供一种包括第一封装结构及第二封装结构的封装堆叠结构。第一封装结构包括第一载板、第一芯片、第一绝缘密封体、导电结构、晶种层以及线路层。载板接垫、第一芯片、第一绝缘密封体以及导电结构位于第一载板的第一表面上。第一绝缘密封体包括第一开孔以及沟渠。第一绝缘密封体包括封装胶以及分散于封装胶中的填充物以及金属盐类。晶种层包括金属盐类还原的金属,且配置于第一开孔以及沟渠的表面。线路层配置于晶种层上。第二封装结构与线路层电性连接。此外,本发明还提供一种封装堆叠结构的制造方法。
Public/Granted literature
- CN108573963B 封装堆叠结构及其制造方法 Public/Granted day:2019-10-11
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IPC分类: