Invention Grant
- Patent Title: 一种面结构光自动化三维测量中传感器测量视点规划方法
-
Application No.: CN201810994182.7Application Date: 2018-08-29
-
Publication No.: CN109163674BPublication Date: 2019-08-13
- Inventor: 李中伟 , 钟凯 , 韩沛文 , 韩利亚 , 刘洁 , 王从军 , 史玉升
- Applicant: 华中科技大学
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Assignee: 华中科技大学
- Current Assignee: 华中科技大学
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Agency: 华中科技大学专利中心
- Agent 梁鹏; 曹葆青
- Main IPC: G01B11/24
- IPC: G01B11/24

Abstract:
本发明属于三维测量的技术领域,并公开了一种面结构光自动化三维测量中传感器测量视点规划方法。该方法包括下列步骤:(a)采用多个立方体体积块包裹待测量对象的三维结构模型;(b)在每个体积块中构建六个半球面和候选测量视点;(c)将单个体积块与三维结构模型求交获得多个样条曲面,求解每个样条曲面的中心点、平均法矢和面积;(d)计算单个体积块中每个样条曲面的平均法矢在三维坐标系中的天顶角和方位角,确定每个样条曲面所属的区域;(e)计算候选测量视点的测量质量参数;(f)将每个候选测量视点对应的质量参数与预设阈值进行比较获得所需的测量视点。通过本发明,计算过程简单,自动化程度高,适用于复杂零件测量视点的规划。
Public/Granted literature
- CN109163674A 一种面结构光自动化三维测量中传感器测量视点规划方法 Public/Granted day:2019-01-08
Information query