半导体元件及其制造方法

Invention Grant

CN110120340B 半导体元件及其制造方法有权

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Patent Title: 半导体元件及其制造方法
Application No.: CN201910433747.9

Application Date: 2015-06-16
Publication No.: CN110120340B

Publication Date: 2024-01-05
Inventor: 孙志铭 , 徐新惠 , 蔡明翰
Applicant: 原相科技股份有限公司
Applicant Address: 中国台湾新竹
Assignee: 原相科技股份有限公司
Current Assignee: 原相科技股份有限公司
Current Assignee Address: 中国台湾新竹
Agency: 中原信达知识产权代理有限责任公司
Agent 李兰; 孙志湧
Main IPC: H01L21/306
IPC: H01L21/306 ; H01L21/308

Abstract:

本发明提出一种半导体元件及其制造方法。半导体元件的制造方法包括：提供基板；于基板上形成半导体堆叠结构；于半导体堆叠结构上形成堆叠覆盖层的至少一部分，其中堆叠覆盖层的至少一部分包括氮化层；移除氮化层的一部分；完成堆叠覆盖层的所有部分；于堆叠覆盖层上形成保护层，并蚀刻保护层，以形成至少一开孔，其中氮化层未被开孔所暴露；以及从开孔通入一蚀刻材料，以蚀刻基板。本发明另提出一种采用上述方法形成的半导体元件。

Public/Granted literature

CN110120340A 半导体元件及其制造方法 Public/Granted day:2019-08-13

Information query

Chinese Patent Announcement Global Dossier Espacenet

IPC分类:

H	电学
H01	基本电气元件
H01L	半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L21/00	专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02	.半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04	..至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件，例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18	...器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体，如掺杂材料
H01L21/30	....用H01L21/20至H01L21/26各组不包含的方法或设备处理半导体材料的（在半导体材料上制作电极的入H01L21/28）
H01L21/302	.....改变半导体材料的表面物理特性或形状的，例如腐蚀、抛光、切割
H01L21/306	......化学或电处理，例如电解腐蚀（形成绝缘层的入H01L21/31；绝缘层的后处理入H01L21/3105）