本申请实施例公开了一种存储器检测方法、集成电路装置、存储介质及激光雷达，涉及集成电路技术领域。该方法包括：确定当前检测分区，当前检测分区为多个预设的存储分区中的一个存储分区；接收访问端发起的针对存储器的访问命令；若访问命令为针对当前检测分区的访问命令，则对访问命令进行拦截；若访问命令为针对存储器的当前检测分区之外的区域的访问命令，则将访问命令发送至存储器；对当前检测分区进行检测。根据本申请实施例的技术方案，能够改善当前存储器持续不能进行访问的时间较长，而使得芯片的性能受到影响的现状。