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公开(公告)号：CN114688956A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202111622378.1
申请日：2021-12-28
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： C.R.哈姆纳
IPC: G01B7/004
Abstract: 一种用于扫描探头中的探针位置测量的感应位置检测器，包括沿着探头中的中心轴线定位的线圈板配置。线圈板配置包括围绕线圈板配置中的孔的场产生线圈配置、顶部轴向感测线圈配置和底部轴向感测线圈配置以及N个顶部旋转感测线圈和N个底部旋转感测线圈。一种探针联接的扰动器配置包括圆柱形扰动器元件，其配置为在线圈板配置的孔内移动和装配，并且在运动体积中沿着Z(轴向)和X‑Y(旋转)方向移动。场产生线圈配置产生变化的磁通量(例如包含圆柱形扰动器元件的全部或至少一部分)，并且线圈信号指示圆柱形扰动器元件和/或探针位置。
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公开(公告)号：CN114688958A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202111623134.5
申请日：2021-12-28
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： C.R.哈姆纳
IPC: G01B7/004
Abstract: 一种用于扫描探头中的探针位置测量的感应位置检测配置，包括沿着探针中的中心轴线布置的探针位置检测部分。探针位置检测部分包括场产生线圈配置以及顶部和底部轴向和旋转感测线圈配置。场产生线圈配置产生变化的磁通量，并且线圈信号指示导电扰动器元件和/或探针位置。场产生线圈耦合和串扰减少配置将信号处理和控制电路耦合到场产生线圈配置以提供线圈驱动信号，并且配置为减少串扰，否则如果场产生线圈配置直接连接到信号处理和控制电路而没有场产生线圈耦合和串扰减少配置，则串扰会发生。
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公开(公告)号：CN116379897A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202211643595.3
申请日：2022-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种用于坐标测量机的扫描探头包括：触针悬挂模块；触针位置检测模块；干扰器配置；以及信号处理和控制电路模块。该触针位置检测模块包括：传感器配置，该传感器配置包括各种线圈；以及屏蔽配置，该屏蔽配置围绕该传感器配置定位并且包括用于屏蔽该传感器配置的导电材料。该触针位置检测模块使用模块安装配置安装到该触针悬挂模块，该模块安装配置使得能够在该扫描探头的组装期间调整该传感器配置的相对位置以用于对准。
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公开(公告)号：CN116379896A
公开(公告)日：2023-07-04
申请号：CN202211641541.3
申请日：2022-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种用于坐标测量机的扫描探头的模块化配置包括：触针悬挂模块；触针位置检测模块；以及信号处理和控制电路模块。触针位置检测模块被配置成与触针悬挂模块分开组装，之后才安装到触针悬挂模块。信号处理和控制电路模块被配置成与触针位置检测模块和触针悬挂模块分开组装，之后才作为组装扫描探头的一部分刚性地耦接到触针位置检测模块。
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公开(公告)号：CN114688957B
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202111622422.9
申请日：2021-12-28
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： C.R.哈姆纳
IPC: G01B7/004
Abstract: 一种用于扫描探头中的探针位置测量的感应位置检测器，包括沿着探头中的中心轴线定位的线圈板配置。线圈板配置包括场产生线圈配置以及顶部和底部轴向和旋转感测线圈配置。场产生线圈配置产生变化的磁通量，并且线圈信号指示导电扰动器元件和/或探针位置。至少一个未对准补偿元件配置为减少由线圈板配置的至少一个线圈的未对准导致的信号偏移(例如，线圈板配置可以包括具有线圈位于其中的多个层的印刷电路板，并且至少一个线圈的未对准可以由作为制造过程的一部分的层对层配准中的配准误差导致，例如在制造公差内)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114688958B
公开(公告)日：2024-12-24
申请号：CN202111623134.5
申请日：2021-12-28
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： C.R.哈姆纳
IPC: G01B7/004
Abstract: 一种用于扫描探头中的探针位置测量的感应位置检测配置，包括沿着探针中的中心轴线布置的探针位置检测部分。探针位置检测部分包括场产生线圈配置以及顶部和底部轴向和旋转感测线圈配置。场产生线圈配置产生变化的磁通量，并且线圈信号指示导电扰动器元件和/或探针位置。场产生线圈耦合和串扰减少配置将信号处理和控制电路耦合到场产生线圈配置以提供线圈驱动信号，并且配置为减少串扰，否则如果场产生线圈配置直接连接到信号处理和控制电路而没有场产生线圈耦合和串扰减少配置，则串扰会发生。
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公开(公告)号：CN114688956B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202111622378.1
申请日：2021-12-28
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： C.R.哈姆纳
IPC: G01B7/004
Abstract: 一种用于扫描探头中的探针位置测量的感应位置检测器，包括沿着探头中的中心轴线定位的线圈板配置。线圈板配置包括围绕线圈板配置中的孔的场产生线圈配置、顶部轴向感测线圈配置和底部轴向感测线圈配置以及N个顶部旋转感测线圈和N个底部旋转感测线圈。一种探针联接的扰动器配置包括圆柱形扰动器元件，其配置为在线圈板配置的孔内移动和装配，并且在运动体积中沿着Z(轴向)和X‑Y(旋转)方向移动。场产生线圈配置产生变化的磁通量(例如包含圆柱形扰动器元件的全部或至少一部分)，并且线圈信号指示圆柱形扰动器元件和/或探针位置。
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公开(公告)号：CN114688954B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202111559678.X
申请日：2021-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了坐标测量机探头的感应式位置传感器信号增益控制。一种用于具有感应式位置传感器信号增益控制的坐标测量机的扫描探头包含具有场生成线圈和感测线圈的触针位置检测部分，并且对于所述触针位置检测部分，对应的输出信号指示触针的探头尖端的位置。信号处理和控制电路系统被配置成实施不同的操作区域，如对应于中心探头尖端位置范围的中心高增益操作区域以及其它较低增益操作区域，对于所述不同的操作区域，可以执行转变操作以调整增益。在各个实施方案中，用于调整增益的转变操作可以包含以下操作，如：调整场生成线圈配置的功率；调整前端放大器的增益；改变感测线圈的特性；调整模数转换器的输入范围等。
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公开(公告)号：CN114688957A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202111622422.9
申请日：2021-12-28
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： C.R.哈姆纳
IPC: G01B7/004
Abstract: 一种用于扫描探头中的探针位置测量的感应位置检测器，包括沿着探头中的中心轴线定位的线圈板配置。线圈板配置包括场产生线圈配置以及顶部和底部轴向和旋转感测线圈配置。场产生线圈配置产生变化的磁通量，并且线圈信号指示导电扰动器元件和/或探针位置。至少一个未对准补偿元件配置为减少由线圈板配置的至少一个线圈的未对准导致的信号偏移(例如，线圈板配置可以包括具有线圈位于其中的多个层的印刷电路板，并且至少一个线圈的未对准可以由作为制造过程的一部分的层对层配准中的配准误差导致，例如在制造公差内)。
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公开(公告)号：CN114688954A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202111559678.X
申请日：2021-12-20
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明公开了坐标测量机探头的感应式位置传感器信号增益控制。一种用于具有感应式位置传感器信号增益控制的坐标测量机的扫描探头包含具有场生成线圈和感测线圈的触针位置检测部分，并且对于所述触针位置检测部分，对应的输出信号指示触针的探头尖端的位置。信号处理和控制电路系统被配置成实施不同的操作区域，如对应于中心探头尖端位置范围的中心高增益操作区域以及其它较低增益操作区域，对于所述不同的操作区域，可以执行转变操作以调整增益。在各个实施方案中，用于调整增益的转变操作可以包含以下操作，如：调整场生成线圈配置的功率；调整前端放大器的增益；改变感测线圈的特性；调整模数转换器的输入范围等。
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