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公开(公告)号：CN111668695B
公开(公告)日：2024-07-16
申请号：CN202010139281.4
申请日：2020-03-03
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: H01S5/024 , G01J3/10 , G01J3/42 , G01N21/31 , G01N21/3504 , G01N21/3554
Abstract: 本发明提供半导体激光装置以及分析装置。一种半导体激光装置，用于光学分析，能够减小检测半导体激光元件的温度的温度检测元件的测定误差，高精度地进行半导体激光元件的温度控制，其中，具备：半导体激光元件(2)；温度检测元件(3)，检测半导体激光元件(2)的温度；输出端子(T1、T2)，将温度检测元件3的输出向外部输出；布线(L1、L2)，将温度检测元件(2)与输出端子(T1、T2)电连接；以及热容量增大部(7)，夹设在温度检测元件(3)与输出端子(T1、T2)之间，与布线(L1、L2)的至少一部分接触而增大布线(L1、L2)的热容量。
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公开(公告)号：CN115298531A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202180023296.7
申请日：2021-03-24
Applicant: 株式会社堀场制作所
Abstract: 本发明提供稀释器、分析系统和分析方法。均匀稀释样品气体所含的颗粒状物质。稀释器(3、3’、3”)包括流入部(31)、混合部(32、32”)、排出部(35)、连接部(33)和导入部(34)。流入部(31)使样品气体(SG)流入。混合部(32、32”)具有比流入部(31)的内径大的内径，混合样品气体(SG)和稀释气体(AR)而生成稀释样品气体(DG)。排出部(35)排出稀释样品气体(DG)。连接部(33)具有内径从与流入部(31)连接侧朝向与混合部(32、32”)连接侧变大的第一锥形部分(33a)。导入部(34)从比连接第一锥形部分(33a)和流入部(31)的位置更靠下游的位置向内部空间(IS1)导入稀释气体(AR)。
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公开(公告)号：CN118591717A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202380018108.0
申请日：2023-03-02
Applicant: 株式会社堀场制作所
Abstract: 本发明提供皮托管式流量计、气体分析装置以及气体分析方法。本发明难以受到由皮托管式流量计的上游侧的流道形状引起的流速分布的影响，具备：皮托管(21)，具有用于检测流体的全压(P1)的全压孔(H1)以及用于检测流体的静压(P2)的静压孔(H2)；以及压差传感器(22)，与皮托管(21)连接，检测全压(P1)与静压(P2)的压差(ΔP)，皮托管(21)具有：主管部(211)，具有连接压差传感器(22)的连接口(CP1、CP2)，并且形成有全压孔(H1)及静压孔(H2)；以及多个支管部(212)，从主管部(21)分支，形成有全压孔(H1)及静压孔(H2)，主管部(211)及多个支管部(212)分别具有降低压力损失的形状。
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公开(公告)号：CN111668695A
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN202010139281.4
申请日：2020-03-03
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: H01S5/024 , G01J3/10 , G01J3/42 , G01N21/31 , G01N21/3504 , G01N21/3554
Abstract: 本发明提供半导体激光装置以及分析装置。一种半导体激光装置，用于光学分析，能够减小检测半导体激光元件的温度的温度检测元件的测定误差，高精度地进行半导体激光元件的温度控制，其中，具备：半导体激光元件(2)；温度检测元件(3)，检测半导体激光元件(2)的温度；输出端子(T1、T2)，将温度检测元件3的输出向外部输出；布线(L1、L2)，将温度检测元件(2)与输出端子(T1、T2)电连接；以及热容量增大部(7)，夹设在温度检测元件(3)与输出端子(T1、T2)之间，与布线(L1、L2)的至少一部分接触而增大布线(L1、L2)的热容量。
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