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    엘이디 면조명 장치
    1.
    发明公开
    엘이디 면조명 장치 有权
    LED面灯照明设备

    公开(公告)号：KR1020130017613A

    公开(公告)日：2013-02-20

    申请号：KR1020110080167

    申请日：2011-08-11

    Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단

    Inventor： 정미숙 ,  허지민 ,  김지혜 ,  이지훈 ,  유한제

    IPC: F21V8/00 ,  F21V19/00 ,  F21Y101/02

    CPC classification number: G02B6/0011 ,  F21V19/003 ,  F21V2200/00 ,  F21Y2115/10 ,  Y10S362/80

    Abstract: PURPOSE: An LED face lighting device is provided to secure uniform illumination of an illuminated surface by using a light guide plate having an intaglio grid structure. CONSTITUTION: LED light sources are arranged to a grid structure. A light guide plate(200) comprises an entry face(210) and an exit face(220). The entry face has a grid structure of intaglio patterns. A housing accommodates the LED light sources and the light guide plate.

    Abstract translation: 目的：提供一种LED面照明装置，通过使用具有凹版网格结构的导光板来确保照明表面的均匀照明。 规定：LED光源排列成网格结构。 导光板（200）包括入射面（210）和出射面（220）。 入口面具有凹版图案的网格结构。 壳体容纳LED光源和导光板。

    광학계의 왜곡 수차 측정 방법 및 왜곡 수차 측정 장치
    3.
    发明授权
    광학계의 왜곡 수차 측정 방법 및 왜곡 수차 측정 장치 有权
    用于测量光学系统失真的方法和装置

    公开(公告)号：KR101264547B1

    公开(公告)日：2013-05-14

    申请号：KR1020110098577

    申请日：2011-09-28

    Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단

    Inventor： 정미숙 ,  유진근 ,  주예나 ,  이지훈

    IPC: G01M11/02 ,  G03F7/20 ,  H01L21/02

    Abstract: 본발명은광학계의왜곡수차측정방법및 왜곡수차측정장치에관한것이다. 본발명에따른광학계의왜곡수차측정방법은조명부에서마스크로광을조사시키고, 마스크를통과한광이렌즈부에의해집중되어측정평면에스팟어레이를형성한다. 센서부는측정평면에형성된스팟어레이의군을측정하고스테이지에의해이동하여다음스팟어레이의군을측정한다. 이때스테이지의반복정밀도에러를줄이기위해서첫 번째군에포함된스팟어레이의마지막열과두 번째군의첫 번째열이일치하도록센서어레이의군을측정한다. 이러한방식으로스테이지를이동하면서스팟어레이로구성된군들을원하는측정면적만큼반복측정한다. 제어부는두 개의인접한이미지에포함된동일한스팟어레이의열이중첩되도록정렬하여복수의이미지를결합하고, 결합된이미지상의스팟의위치와이론적인스팟의위치를비교하여왜곡수차를계산한다. 본발명에따른광학계의왜곡수차측정방법은인접한이미지에서동일한스팟을포함하도록촬영하고동일한스팟을중첩시켜하나의이미지로결합하여왜곡수차를구함으로써, 스테이지의위치결정오차에의한영향을받지않는다. 또한, 스팟어레이를한번에촬영해나가므로테스트패턴의위치측정에걸리는시간을줄일수 있어왜곡수차를빨리측정할수 있다.

    엘이디 면조명 장치
    4.
    发明授权
    엘이디 면조명 장치 有权
    LED面灯照明装置

    公开(公告)号：KR101240780B1

    公开(公告)日：2013-03-11

    申请号：KR1020110080167

    申请日：2011-08-11

    Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단

    Inventor： 정미숙 ,  허지민 ,  김지혜 ,  이지훈 ,  유한제

    IPC: F21V8/00 ,  F21V19/00 ,  F21Y101/02

    Abstract: 본 발명은 복수의 패턴이 형성된 도광판을 이용한 LED 면조명 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 LED 면조명 장치는 복수의 LED 광원과 격자 구조로 배열된 복수의 패턴이 형성된 도광판을 포함한다. 복수의 패턴의 형상은 사각뿔, 사각뿔대, 구면 형상일 수 있으며, 도광판에 음각으로 형성된다.
    본 발명에 따르면 도광판에 패턴이 형성됨으로써 LED 광원으로부터의 광이 균일하게 확산되어 LED 면조명 장치의 효율이 좋고, 금형을 이용하여 패턴을 형성하기 때문에 도광판의 제작이 용이하다.

    광학계의 왜곡 수차 측정 방법 및 왜곡 수차 측정 장치
    6.
    发明公开
    광학계의 왜곡 수차 측정 방법 및 왜곡 수차 측정 장치 有权
    用于测量光学系统失真的方法和装置

    公开(公告)号：KR1020130034521A

    公开(公告)日：2013-04-05

    申请号：KR1020110098577

    申请日：2011-09-28

    Applicant: 한국산업기술대학교산학협력단

    Inventor： 정미숙 ,  유진근 ,  주예나 ,  이지훈

    IPC: G01M11/02 ,  G03F7/20 ,  H01L21/02

    Abstract: PURPOSE: A method and a device for measuring a distortion difference of an optical system are provided to measure the distortion of the optical system without influence of the movement of a stage and position determining errors. CONSTITUTION: A device(300) for measuring a distortion difference of an optical system comprises a lighting unit(310), a mask(320), a lens unit(330), a measurement plane(340), a sensor unit(350), and a control unit(380). The mask includes patterns of a lattice shape and transmits lights irradiated from the lighting unit. The lens unit focuses the lights has passed through the mask. The lights focused on the measurement plane form a spot array. The sensor unit photographs the spot array several times while moving. Two adjacent images are photographed, thereby including the heat of an identical spot array. The control unit aligns the heat of the identical spot array includes in the two image to be overlapped, joins the images, and compares a theoretical position of the spot array and the spot array on the images, thereby calculating a distortion difference. [Reference numerals] (310) Lighting unit; (330) Lens unit; (350) Sensor unit; (380) Control unit;

    Abstract translation: 目的：提供一种用于测量光学系统的失真差异的方法和装置，以测量光学系统的失真，而不受舞台移动和位置确定误差的影响。 构成：用于测量光学系统的畸变差异的装置（300）包括照明单元（310），掩模（320），透镜单元（330），测量平面（340），传感器单元（350） ，和控制单元（380）。 掩模包括格子形状的图案并透射从照明单元照射的光。 镜头单元聚焦，灯已经通过面罩。 聚焦在测量平面上的灯形成一个点阵列。 传感器单元在移动时多次拍摄点阵列。 拍摄两个相邻的图像，从而包括相同的点阵列的热量。 控制单元对准要重叠的两个图像中的相同光点阵列的热量，连接图像，并且将图像上的光点阵列和光点阵列的理论位置进行比较，从而计算失真差异。 （附图标记）（310）照明单元; （330）镜头单元; （350）传感器单元; （380）控制单元;

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