公开(公告)号：CN108225558A

公开(公告)日：2018-06-29

申请号：CN201611151516.1

申请日：2016-12-14

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司

Inventor： 郑乃仁 ,  林耀祯

IPC: G01J3/02 ,  G02B7/02 ,  G02B7/00

CPC classification number: G01J3/0202 ,  G01J3/0291 ,  G02B7/00 ,  G02B7/025

Abstract: 本发明公开了一种光学量测装置，其包括壳体以及光学组件。壳体包括壁板，而壁板具有至少一开口。光学组件配置于壳体内，并包括一光学部件。壁板遮盖光学部件，而开口暴露部分光学部件。如此，固化胶可从开口形成，并连接壳体与光学部件，以帮助固定光学部件于壳体上。此外，一种光学部件的安装方法在此也提出。

公开(公告)号：CN108121025A

公开(公告)日：2018-06-05

申请号：CN201711207398.6

申请日：2017-11-27

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 野泽武史

IPC: G02B5/28 ,  G02B7/00

CPC classification number: G02B26/001 ,  B41J2/01 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/50 ,  H02N1/006 ,  G02B5/28 ,  G02B7/006

Abstract: 本发明提供一种光学模块以及电子设备。光学模块包括：具有隔着反射膜间间隙对置的2个反射膜以及变更反射膜间间隙的间隙量的静电致动器的波长可变干涉滤波器；以及被来自电力供给部的多个供给电压驱动，向所述静电致动器施加驱动电压的电压控制部，在所述多个供给电压中的任一低于预定的阈值的情况下，所述电压控制部降低所述驱动电压。

公开(公告)号：CN105960579B

公开(公告)日：2018-02-16

申请号：CN201580007240.7

申请日：2015-02-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/021 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18

Abstract: 分光器(1A)具备：光检测元件(20)，其设置有光通过部(21)及光检测部(22)；支撑体(30)，其以在与光通过部(21)及光检测部(22)之间形成空间(S)的方式固定于光检测元件(20)；第1反射部(11)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)中，将通过光通过部(21)的光(L1)反射；第2反射部(12)，其设置于光检测元件(20)，且在空间(S)中，将由第1反射部(11)反射的光(L1)反射；以及分光部(40)，其设置于支撑体(30)，且在空间(S)中，将由第2反射部(12)反射的光(L1)相对于光检测部(22)进行分光并反射。

公开(公告)号：CN107690576A

公开(公告)日：2018-02-13

申请号：CN201680033014.0

申请日：2016-04-07

Applicant: 雷神公司

Inventor： 埃里克·J·格里芬 ,  卡林·斯帕廖苏 ,  埃里克·D·约翰逊

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/71 ,  G01N33/00 ,  G01N15/14 ,  B66C1/10 ,  B66C13/16

CPC classification number: G01N21/63 ,  B64F1/32 ,  B64F1/368 ,  B66C1/101 ,  B66C13/18 ,  B66C19/002 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/443 ,  G01N1/2226 ,  G01N1/24 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/25 ,  G01N21/6404 ,  G01N21/718 ,  G01N33/004 ,  G01N33/0057 ,  G01N2015/0046 ,  G01N2021/6406 ,  G01N2201/06113 ,  G01V5/0091 ,  G06Q10/083 ,  B66C13/16

Abstract: 提供了检测器设备(10)，检测器设备(10)包括可取得气态流体的样品的收集器(20)；以及耦接至收集器(20)并设置成远离收集器(20)的测试器(40)。测试器(40)包括：样品从收集器(20)导入其中的测试室(41)；激发元件43如激光器，用于激发测试室(41)中的样品；和光谱分析装置(44)如光谱仪，其耦接至测试室(41)以分析经激发的样品，优选地产生等离子体或细丝，以获得气态流体中的关注颗粒如同位素分子的浓度超过阈值浓度的证据。阈值浓度根据关注颗粒的类型和样品的停留时间来限定。特别地，所述设备用于在港口(运输集装箱在该处通过起重机系统装载或卸载)或者在检查点处(当集装箱在移动或通过检查点的货车上时)对运输集装箱中的隐藏或屏蔽的特殊核材料(SNM)或走私的核武器进行放射性异常检测。

公开(公告)号：CN105164513B

公开(公告)日：2018-02-02

申请号：CN201380076163.1

申请日：2013-06-04

Applicant: 福斯分析股份公司

Inventor： 佩尔·瓦本·汉森

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01N21/35 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/42 ,  G01J3/45 ,  G01N21/274 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/12746

Abstract: 本发明涉及一种确定一个样品(610)的一个路径长度偏差的方法，该方法包括：将该样品(610)暴露到多个波数下的电磁辐射，确定在该多个波数下该样品(610)中的电磁吸收，确定与一个吸收谱带的一个第一吸收水平相关联的一个第一波数及与该吸收谱带的一个第二吸收水平相关联的一个第二波数，其中该第二波数不同于该第一波数，确定该第一波数与该第二波数之间的一个差，以及基于该差确定该路径长度偏差。

公开(公告)号：CN107430057A

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201580072472.0

申请日：2015-12-03

Applicant: 马昆麦崔斯股份有限公司

Inventor： B·J·马夸特 ,  J·S·范武伦

IPC: G01N21/00

CPC classification number: G02B7/14 ,  G01J3/00 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0291 ,  G01N21/15 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/015 ,  G01N2021/656 ,  G01N2201/0221 ,  G01N2201/0245 ,  G01N2201/065 ,  G02B7/027

Abstract: 本发明揭示可移除光学组件的示例实施例。可移除光学组件被可移除地附着至光学分析仪的探头。该可移除光学组件可包括球形光学元件。该可移除光学组件的一个实施例可允许接触探询样本。在一些实施例中，该可移除光学组件可包括内部光学元件。在其它实施例中，该可移除光学组件可包括外部光学元件。该可移除光学组件的制造可包括整体式实施例或包括多个子组件的组装式实施例。该可移除光学组件的实施例可为圆锥形的、圆柱形的或平面的形状。在一些实施例中，该可移除光学组件可为消耗性的及/或一次性的。

公开(公告)号：CN107203036A

公开(公告)日：2017-09-26

申请号：CN201710164678.7

申请日：2017-03-17

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J.C.拜利 ,  N.V.尼尔马兰 ,  M.萨卡米 ,  C.D.马蒂亚斯 ,  王光华 ,  R.W.小费里

IPC: G02B23/24

CPC classification number: F01D21/003 ,  B33Y80/00 ,  F01D5/10 ,  F01D5/12 ,  F01D25/04 ,  F01D25/24 ,  F05D2220/30 ,  F05D2220/32 ,  F05D2260/96 ,  F05D2270/8041 ,  G01J3/0291 ,  G01J5/0088 ,  G01J5/0205 ,  G01J2005/0077 ,  G02B23/2476 ,  G02B23/2484

Abstract: 一种燃气涡轮发动机具有光学成像系统，所述光学成像系统具有配置成用于安装到涡轮发动机的壁的外壳，从外壳延伸并具有纵向轴线的中空探头，以及在中空探头的端部处的图像接收装置，所述图像接收装置配置成接收透视或图像中的至少一种。

公开(公告)号：CN106644065A

公开(公告)日：2017-05-10

申请号：CN201611008180.3

申请日：2016-11-16

Applicant: 中国科学院光电研究院

Inventor： 王欣 ,  何晓英 ,  卜美侠 ,  冯蕾 ,  周锦松 ,  景娟娟 ,  李雅灿

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/0291 ,  G01J3/2823

Abstract: 本发明实施例公开了一种光谱相机的支撑箱体，在支撑箱体的立壁上设置光谱相机的光机组件接口，且所述光机组件接口处设置有外沿周向加强筋；所述支撑箱体的顶部设置有周向整圈加强筋，内部的立壁进一步设置有四处加强筋；在所述支撑箱体的四个安装孔处每个均设计有两处立壁加强筋，共设计8处立壁加强筋。该支撑箱体的结构能够解决现有技术箱体结构利用率低，且占用空间尺寸大、重量大的问题。

公开(公告)号：CN106574866A

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：CN201580041617.0

申请日：2015-06-22

Applicant: 卡尔蔡司光谱有限公司

Inventor： 约尔格·马格雷夫 ,  延斯·蒙德里

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/08 ,  G01J3/10 ,  G01J3/50 ,  G01N21/47

CPC classification number: G01J3/0251 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/08 ,  G01J3/10 ,  G01J3/50 ,  G01J2001/0481 ,  G01N21/27 ,  G01N21/4738 ,  G01N21/474 ,  G01N21/86 ,  G01N2021/4754 ,  G01N2021/8618 ,  G01N2201/065

Abstract: 本发明涉及一种用于在样本(04、21、42、54)的生产过程中检测样本(04、21、42、54、66)的绝对反射光谱的测量装置。测量装置包括：光源，其用于产生测量光；均化器，其用于产生测量光的均匀的空间照度分布；可移动反射器(6、16、39、52、59、62)和接收器(07、22、37、53)，其用于收集从样本(04、21、42、54)和/或反射器(6、16、39、52)反射的测量光。根据本发明，不仅用于参考测量而且用于样本测量的反射器(6、16、39、52、59、62)定位在观察光路中并且配置在样本(04、21、42、54、66)的与光源的同一侧，以便将反射的测量光导入到接收器(07、22、37、53)。

公开(公告)号：CN102902059B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201210251682.4

申请日：2012-07-19

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 松下友纪 ,  松野靖史

IPC: G02B26/00 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0291 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/32 ,  G01J3/44 ,  G01J3/51 ,  G02B5/284 ,  G02B26/001

Abstract: 本发明提供一种波长可变干涉滤波器、滤光器模块以及光分析装置。该波长可变干涉滤波器具备：固定基板；可动基板，与固定基板相对；第一反射膜，形成于固定基板的与可动基板相对的面；第二反射膜，设置于可动基板，并与第一反射膜有间隙地对置；第一电极，设置于固定基板的与可动基板相对的面；第二电极，设置于可动基板，并与第一电极相对；接合部，设置于固定基板和可动基板互相对置的面，接合固定基板与可动基板；以及槽部，设置于固定基板和可动基板彼此相对的面中的至少一个面，其中，形成第一反射膜与第二反射膜之间的间隙的空间与外部经由槽部连通。