公开(公告)号：CN1957508A

公开(公告)日：2007-05-02

申请号：CN200680000256.6

申请日：2006-03-17

Applicant: 安立股份有限公司

Inventor： 森浩

IPC: H01S5/125 ,  H01S5/06

CPC classification number: H01S5/06256 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/399 ,  H01L2224/48091 ,  H01S5/02208 ,  H01S5/02248 ,  H01S5/02415 ,  H01S5/02438 ,  H01S5/026 ,  H01S5/0425 ,  H01S5/0612 ,  H01S5/06258 ,  H01S5/1203 ,  H01S5/2231 ,  H01S5/227 ,  H01L2924/00014

Abstract: 本发明涉及一种可变波长半导体激光器元件，包括：波长控制区域，形成在光波导中并至少部分地设置有衍射光栅，该光波导包括形成在半导体衬底上的有源层并引导该有源层中产生的光，该衍射光栅用于从该有源层产生的光选择具有预定波长的光；第一和第二驱动电极，具有盖层和形成在该盖层上的绝缘层，且形成在该半导体衬底之下和该盖层之上；加热部分，形成在该绝缘层上且至少部分地加热该波长控制区域；第一和第二加热端子，设置在该加热部分；以及第一和第二连接线，用于通过电源串联连接该第一和第二驱动电极。该可变波长半导体激光器通过改变从该电源施加到通过该加热部分串联连接的该第一和第二连接线的电流可控制从该光波导传出的光的波长。

公开(公告)号：CN1938621A

公开(公告)日：2007-03-28

申请号：CN200580010448.0

申请日：2005-02-02

Applicant: 佐勒技术公司

Inventor： B.·P.·马斯特森 ,  艾利克·C.·休尔森 ,  伊恩·S.·史密斯

IPC: G02B6/26

CPC classification number: G01N21/3504 ,  F23N5/082 ,  G01D5/35345 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/108 ,  G01J3/42 ,  G01J5/0014 ,  G01J5/0018 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/58 ,  G01K11/32 ,  G01N21/39 ,  G02B6/14

Abstract: 一种光模式噪声平均装置(304)，包括：多模光纤(302)和平均装置(308)，用于平均该多模光纤(302)内传播的光模式噪声诱发的信号强度变化。在一个选取的时间段内，通过周期性改变多模光纤(302)的折射率，扰乱多模光纤(302)内的光分布，或二者，平均装置可以平均模式噪声诱发的信号强度变化。通过周期性改变多模光纤(302)的温度，可以周期性改变该多模光纤的折射率。或者，通过周期性操作多模光纤(302)，可以改变折射率或可以扰乱该多模光纤内的光分布。

公开(公告)号：CN1813167A

公开(公告)日：2006-08-02

申请号：CN200480018076.1

申请日：2004-06-14

Applicant: 西默股份有限公司

Inventor： R·J·拉法克

IPC: G01B9/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J1/4257 ,  G01J3/027 ,  G01J3/28 ,  G01J3/45 ,  G01J9/00 ,  H01S3/1305 ,  H01S3/225

Abstract: 本发明公开了一种控制激光器系统的设备和方法，它可以包括用来测量由激光器发射的激光的光谱未知宽度的光谱仪，该光谱仪可包含光学带宽测量单元，用于提供作为输出的测量参数，其表示被测光谱未知带宽的参数；报道参数计算单元，按照下面的公式来计算被测光谱未知带宽的报道参数：报道参数(“RP”)＝A*(测量参数(“MP”))+C，其中RP和MP是不同类型的参数，而A和C的数值则是根据光学带宽测量单元中MP对已知RP数值的光的响应的校准来确定的。光学带宽测量单元可以包含诸如标准具的干涉测量的或者色散的光学仪器。RP可以是在，譬如说FWXM处，而MP可以在FWX’M处，其中X≠X’。RP可以是在，譬如说EX％处，而MP可以是例如在FWXM处。

公开(公告)号：CN1192271A

公开(公告)日：1998-09-02

申请号：CN96195864.2

申请日：1996-06-04

Applicant: 马西默有限公司

Inventor： M·K·迪尔布 ,  E·基尔尼-阿扎尔贝亚 ,  C·R·拉斯达勒 ,  小·J·M·勒佩尔

IPC: G01J3/10

CPC classification number: A61B5/1495 ,  A61B5/0205 ,  A61B5/02427 ,  A61B5/14552 ,  A61B5/6826 ,  A61B5/6838 ,  A61B2562/08 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0275 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J2003/2866 ,  G01N21/255 ,  G01N21/274 ,  G01N21/31 ,  G01N21/3151 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/3144 ,  G01N2201/0627

Abstract: 本发明的方法和设备提供了这样一种系统,其中,可以通过选择它们的驱动电流在给定的范围内调节发光二极管(LEDs)162,以便获得准确的波长。本发明还提供了一种校准和利用LED探头150的方法,这样与已知的驱动电流的变化相对应的波长移动是一个已知量。通常,为了在LED传感器的应用中更好地实现校准和增加灵活性,特别是当为了获得精确的测量结果而需要精确的波长时,利用了LED的波长随驱动电流的变化而移动的原理。本发明还提供了一种系统,在其中不需要知道精确的LED波长,而在以前的系统中需要精确的波长。最后,本发明提供了一种判定发光元件例如发光二极管的工作波长的方法和设备。

公开(公告)号：CN109724700A

公开(公告)日：2019-05-07

申请号：CN201811251237.1

申请日：2018-10-25

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 斋藤大辅

IPC: G01J3/443 ,  G01N21/64 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/027 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/255 ,  G01N21/64 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6421

Abstract: 本发明提供一种分光测量装置、分光测量方法，能够高精度地测量多个荧光各自的荧光特性的。分光测量装置包括：激发光源，对测量对象输出激发光；光源控制部，控制所述激发光源的驱动；以及测量部，对由所述测量对象反射的光实施分光测量，对应于峰值波长各自不同的多个荧光设置多个所述激发光源，所述光源控制部以开启多种所述激发光源中的一种所述激发光源并关闭其他所述激发光源的方式依次改变开启的所述激发光源。

公开(公告)号：CN108955879A

公开(公告)日：2018-12-07

申请号：CN201810374024.1

申请日：2018-04-24

Applicant: 广州星博科仪有限公司 ,  公安部物证鉴定中心 ,  武汉大学

Inventor： 罗旭东

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/027 ,  G01J2003/2826

Abstract: 本发明公开了一种便携式液晶多光谱成像系统，包括CCD、中继成像镜组、液晶可调滤光器、物镜和控制系统。其中，液晶可调滤光器为光谱分光器件，通过调节施加在液晶上的电压可连续改变滤光器透射光谱，从而获得同一目标不同的光谱图像。本发明将图像探测器和专门设计的小型化光学镜头有机组合，研制成一种便携式液晶多光谱成像系统，其特点是体积小、重量轻、工作过程中没有机械运动、可连续分光、光谱分辨率和空间分辨率高等。

公开(公告)号：CN105391306B

公开(公告)日：2018-09-04

申请号：CN201510541315.1

申请日：2015-08-28

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 土生俊也

IPC: H02M3/338

CPC classification number: H05H1/46 ,  G01J3/027 ,  H01J37/321 ,  H01J37/32174 ,  H05H1/36 ,  H05H2001/4652 ,  H05H2001/4682

Abstract: 本发明提供一种高频电源装置，其将变压器(6)形成为大致U字形。由此，能够确保变压器(6)的长度，同时缩短变压器(6)的次级线圈的输入端和输出端、与半导体元件的控制端子之间的图案布线(12)。另外，平行地配置变压器(6)的初级线圈以及次级线圈。由此，初级线圈以及次级线圈的耦合度变大。在框体内收容除去感应线圈的LC谐振电路、开关电路以及变压器。在框体内设置水冷式的散热器，并且通过空冷风机一边将框体内的空气引导到散热器一边使其循环。本发明是一种通过增大反馈电压而不需要向半导体元件的控制端子供给直流偏置电压、能够防止装置内的部件被装置外的空气污染的、高可靠性、高效率、电路结构简单的高频电源装置。

公开(公告)号：CN104769421B

公开(公告)日：2018-06-08

申请号：CN201380055603.5

申请日：2013-10-23

Applicant: 菲尼克斯电气公司

Inventor： 弗雷德·格鲁纳特 ,  弗雷德里克·海勒尔 ,  托马斯·尼姆茨

IPC: G01N21/89

CPC classification number: G01J3/0297 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01N21/31 ,  G01N21/8806

Abstract: 一种材料表面照明设备，包括：通过校准光(105)照明所述材料表面(103)的照明设备(101)；用于记录所述材料表面(103)响应于所述校准光(105)而发射的测量光(109)的记录设备(107)；以及用于记录所述测量光(109)的光谱特性的处理设备(111)，所述光谱特性表征了所述材料表面(103)的漫反射光谱，其中，所述照明设备(101)用于生成照明所述材料表面(103)的照明光(113)，该照明光具有与所述测量光(109)相对应的光谱特性。

公开(公告)号：CN106233105B

公开(公告)日：2018-04-20

申请号：CN201580022231.5

申请日：2015-04-14

Applicant: 柯尼卡美能达株式会社

Inventor： 长井庆郎

IPC: G01J3/50

CPC classification number: G01J3/52 ,  G01J3/027 ,  G01J3/50

Abstract: 在本发明的测色装置以及该方法中，通过输送部对彩色图进行输送，从而取得所述彩色图的整体图像，通过输送部对彩色图进行再输送，从而取得所述彩色图的部分图像，基于这些所述整体图像以及所述部分图像，求得在所述输送和所述再输送之间产生的所述彩色图的位置偏差量。并且，一边以该求得的位置偏差量对测量位置进行校正，一边通过测色部对所述彩色图中的多个色标各自的颜色进行测量。

公开(公告)号：CN107873088A

公开(公告)日：2018-04-03

申请号：CN201580076750.X

申请日：2015-12-22

Applicant: 国家科学研究中心 ,  里尔第一大学 ,  里尔高等电子与数字学院

Inventor： 阿诺·德沃

IPC: G02B27/40 ,  G02B26/06 ,  G02B21/24 ,  G02B7/28 ,  G01J3/02 ,  G01J3/42

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/42 ,  G01J11/00 ,  G01N21/1717 ,  G02B7/28 ,  G02B21/247 ,  G02B26/06 ,  G02B27/40

Abstract: 本发明涉及一种使用来源于短脉冲光源(2)的至少一个光束(fu)将光学机构重新聚焦在目标表面(100)上的方法，所述光学机构包括用于将所述光束(fu)聚焦在所述目标表面(100)上的至少一个光学器件(5)，其中所述重新聚焦在知悉了所述光学机构被视为聚焦的参考条件(d1)之后发生。根据方法：检测聚焦信号，其表示由所述目标表面(100)反射的光束(fr)与不由所述目标表面(100)反射且从所述源(2)导出的参考光束(fref)之间的脉冲的时间叠加，所述光束中的一个由延迟线(14)延迟，基于所述参考条件，使得其上放置了所述延迟线(14)的所述光束的光学路径变化以导致所述聚焦信号到达或超过预定义阈值，以及基于对在参考条件(d1)与所述聚焦信号到达或超过所述预定义阈值的第二条件(d2)之间的光学路径的变化的知悉，重新调节所述聚焦。