公开(公告)号：CN103842784B

公开(公告)日：2015-09-02

申请号：CN201280049230.6

申请日：2012-09-10

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  笠原隆

IPC: G01J3/26 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1234 ,  G01J2003/2806

Abstract: 分光传感器（1）具备：具有空腔层（21）以及经由空腔层（21）而相对的第1以及第2镜层（22,23）并且对应于入射位置选择性地使规定的波长范围的光透过的干涉滤光部（20）、被配置于第1镜层（22）侧并且使入射到干涉滤光部（20）的光透过的光透过基板（3）、被配置于第2镜层（23）侧并且检测透过了干涉滤光部（20）的光的光检测基板（4）。空腔层（21）具有：被第1以及第2镜层（22,23）夹持的滤光区域（24）、从滤光区域（24）取得规定的距离来包围滤光区域（24）的环状的包围区域（25）、连接滤光区域（24）的光检测基板（4）侧的端部（24e）和包围区域（25）的光检测基板（4）侧的端部（25e）的环状的连接区域（26）。

公开(公告)号：CN104833634A

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201510303622.6

申请日：2013-10-02

Applicant: 国立大学法人香川大学

Inventor： 石丸伊知郎

IPC: G01N21/01

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/4531 ,  G01J3/4532 ,  G01N2021/3595

Abstract: 本发明的分光测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。

公开(公告)号：CN104819942A

公开(公告)日：2015-08-05

申请号：CN201510020487.4

申请日：2015-01-15

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 丰后一

IPC: G01N21/31

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/027 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/102

Abstract: 提供了分光光度计，具有：样本收容器(30)；光源单元(10)，用于将测量光投射到样本收容器(30)中；光检测器(40)，用于检测从用测量光照射的样本收容器(30)得到的光；分光器(20)，放置在光源单元(10)和样本收容器(30)之间；A/D变换器(50)，用于将来自光检测器(40)的检测信号变换为数字信号；以及A/D变换时间控制器(65)，用于控制A/D变换器(50)中的A/D变换时间。在每段A/D变换时间上，A/D变换器(50)接收由光检测器(40)依次产生的检测信号，并依次输出与接收的信号量相对应的值。在分光器(20)的波长正确性验证期间，A/D变换时间控制器(65)将A/D变换时间控制为商用电源的周期的五倍(优选地，十倍)或更长。

公开(公告)号：CN104583760A

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201380019930.5

申请日：2013-02-21

Applicant: 麻省理工学院

Inventor： J.鲍 ,  M.G.巴文迪

IPC: G01N21/62

CPC classification number: G01J3/28 ,  B82Y15/00 ,  B82Y20/00 ,  G01J1/429 ,  G01J3/0213 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1217 ,  G01N21/253 ,  G02B1/02 ,  G02B2207/101 ,  Y10T29/41 ,  Y10T29/49

Abstract: 光谱仪可包括多个半导体纳米晶体。光谱仪中的波长区别可通过不同种类半导体纳米晶体(例如，不同材料、尺寸或二者的种类)的不同的光吸收特性和发射特性实现。因此，光谱仪在不需要光栅、棱镜或类似光学部件的情况下进行工作。个人UV曝光跟踪装置可为便携的、牢固的和低廉的，并且包括半导体纳米晶体光谱仪来记录对使用者的UV辐射曝光。其它的应用包括其中集成半导体纳米晶体光谱仪的个人装置(例如，智能电话)或医疗装置。

公开(公告)号：CN104483820A

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN201410767630.1

申请日：2011-10-28

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 小林久伦 ,  古森慎 ,  尾原光裕

IPC: G03G15/00

CPC classification number: G01J3/502 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/04 ,  G01J3/20 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/50 ,  G01J2003/2866 ,  G03G15/5062 ,  G03G15/01

Abstract: 本发明涉及分光比色设备以及包括该分光比色设备的图像形成设备。该分光比色设备包括外壳，该外壳包括侧壁。侧壁的外表面是能够在将所述线性传感器附接到调整表面的同时通过移动调整所述线性传感器的位置的调整表面。线性传感器在邻接调整表面的同时被外壳的侧壁支撑并且接收由凹面反射型衍射元件色散并且通过开口部分的光束。调整表面平行于所述凹面反射型衍射元件的罗兰圆的由所述线性传感器接收的光束通过的部分处的切线。

公开(公告)号：CN102519944B

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN201110288954.3

申请日：2007-02-20

Applicant: 康宁股份有限公司

Inventor： J·高里尔 ,  G·A·皮尔驰 ,  M·B·韦伯 ,  邬起

IPC: G01N21/77 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/1895 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/7743

Abstract: 一种用于LID生物传感器谐振检测的优化方法，以及一种光盘查系统，这种系统能盘查标签无关检测(LID)生物传感器并监视生物传感器顶上的生物事件而不受成问题的杂光反射和/或成问题的像素化效应的影响。在一个实施例中，光盘查系统能够盘查生物传感器并使用低通滤波器算法，从而以数字方式去除包含在光谐振频谱中的构成问题的杂光反射，这更易于判断生物传感器上是否发生生物事件。在另一实施例中，光盘查系统能够盘查生物传感器并使用过采样/平滑算法来减少由成问题的像素化效应造成的光谐振的估计位置中的振荡，这更易于判断生物传感器上是否发生生物事件。

公开(公告)号：CN102378904B

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN201080015286.0

申请日：2010-01-25

Applicant: 莱布尼茨解析科学学院

Inventor： H.贝克-罗斯 ,  S.弗洛雷克 ,  M.奥克鲁斯

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/1809 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0213 ,  G01J3/2803 ,  G01J2003/1828

Abstract: 具有内部级次分离的中阶梯光栅光谱仪装置（10）包含中阶梯光栅（34）和色散元件（38）、成像光学系统（18，22，28，46）、面检测器（16）以及预色散装置（20），所述色散元件（38）用于进行级次分离，使得可产生具有多个被分离的级次（56）的二维谱，所述预色散装置（20）用于朝色散元件（38）的横向色散的方向使辐射预色散。该装置的特征在于：预色散装置（20）包括预色散元件，该预色散元件沿着光学路径被布置在光谱仪装置内部的入射缝隙（12）之后；成像光学系统被构造为使得预色散辐射可以被成像到附加的在预色散方向上无限制的图像平面（24）中，该图像平面（24）沿着光学路径被布置在预色散元件（20）和中阶梯光栅（34）之间；以及光学装置（20,68）被设置在预色散光谱的位置上，用于影响在检测器（16）上的空间和/或光谱辐射密度分布。

公开(公告)号：CN104390703A

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201310654165.6

申请日：2013-10-11

Applicant: VTT科技研究中心

Inventor： H·萨亚里 ,  J·梅克南 ,  C·霍姆伦德 ,  U·坎托杰维 ,  J·安蒂拉 ,  R·曼尼拉

IPC: G01J3/28

CPC classification number: H04N9/735 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/45 ,  G01J2003/2866 ,  H04N17/02

Abstract: 本发明涉及用于确定光谱仪的校准参数的方法。一种图像光谱仪包括法布里-珀罗干涉仪和具有色彩敏感像素的图像传感器。所述干涉仪具有第一透射峰和第二透射峰。一种校准光谱仪的方法包括：提供具有窄谱峰的第一校准光；当参考谱峰在第一光谱位置附近时，通过将第一校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第一探测器信号值；当参考谱峰在第二光谱位置附近时，通过将第一校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第二探测器信号值；提供具有宽带宽的第二校准光；并且通过将第二校准光耦合到光谱仪中而从图像传感器获取第三探测器信号值。

公开(公告)号：CN104350732A

公开(公告)日：2015-02-11

申请号：CN201380028379.0

申请日：2013-05-23

Applicant: 株式会社尼康

Inventor： 胜沼淳 ,  儿玉贤一

IPC: H04N5/225 ,  G03B11/00 ,  G03B15/00

CPC classification number: G03B17/14 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/2806 ,  G02B3/0056 ,  G02B5/20 ,  G02B5/201 ,  G02B9/64 ,  G02B13/0015 ,  G02B27/0025 ,  G03B11/00 ,  G03B13/32 ,  G03B15/00 ,  H04N5/2254 ,  H04N5/23212 ,  H04N5/332

Abstract: 摄像装置(1)具有：使来自物体的光透过的前置光学系统(10)；利用多个光谱过滤器使来自前置光学系统(10)的光透过的光谱过滤器阵列(20)；分别利用多个小透镜使来自多个光谱过滤器的光透过而使多个物体像成像的小透镜阵列(30)；分别对多个物体像进行摄像的摄像元件(50)；以及根据从摄像元件(50)输出的图像信号，求出物体像的二维光谱信息的图像处理部(60)，前置光学系统(10)构成为使来自所对焦的物体的光透过而成为平行光。

公开(公告)号：CN104114984A

公开(公告)日：2014-10-22

申请号：CN201280061394.0

申请日：2012-12-11

Applicant: 塞莫费雪科学(埃居布朗)有限公司

Inventor： F·德玛科 ,  J-L·道瑞尔 ,  E·豪拉斯

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/443 ,  G01J3/28 ,  G01J3/18

CPC classification number: G01J3/443 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/67

Abstract: 一种火花光发射光谱仪，该光谱仪包括：一个用于引起来自一个样品的光的火花诱导发射的火花源；一个单一的入口狭缝；一个用于引导该光通过该单一入口狭缝的超环面反射镜；多个用于对已经由该反射镜引导通过该入口狭缝的光进行衍射的衍射光栅，在此该多个衍射光栅被同时地照射；以及至少一个用于检测来自该多个衍射光栅的衍射光的阵列检测器，其中，该反射镜用于引导该光通过该入口狭缝，使得来自该火花源中不同区域的光在这些光栅处的该光的一个图像中在空间上被分离，在此一个第一衍射光栅优先地由来自该火花源的一个第一区域的光照射且同时一个第二衍射光栅优先地由来自该火花源的一个第二区域的光照射。