脈衝式電漿半導體裝置製造中自由基密度、離子密度及離子能量之獨立控制用方法與系統
    91.
    发明专利
    脈衝式電漿半導體裝置製造中自由基密度、離子密度及離子能量之獨立控制用方法與系統 审中-公开
    脉冲式等离子半导体设备制造中自由基密度、离子密度及离子能量之独立控制用方法与系统

    公开(公告)号:TW201727692A

    公开(公告)日:2017-08-01

    申请号:TW105135198

    申请日:2016-10-31

    Abstract: 針對第一時期,施加較高的射頻功率,俾產生電漿以暴露到基板,同時施加低偏壓至基板位準。針對第二時期,施加較低的射頻功率,俾產生電漿,同時施加高偏壓至基板位準。以交替且接續的方式重複執行第一時期與第二時期,達在基板上產生期望效果所必需的總時期。在一些實施例中,第一時期比第二時期短,使得在時間平均的基礎上,電漿具有比自由基密度大的離子密度。在一些實施例中,第一時期比第二時期長,使得在時間平均的基礎上,電漿具有比自由基密度小的離子密度。

    Abstract in simplified Chinese: 针对第一时期,施加较高的射频功率,俾产生等离子以暴露到基板,同时施加低偏压至基板位准。针对第二时期,施加较低的射频功率,俾产生等离子,同时施加高偏压至基板位准。以交替且接续的方式重复运行第一时期与第二时期,达在基板上产生期望效果所必需的总时期。在一些实施例中,第一时期比第二时期短,使得在时间平均的基础上,等离子具有比自由基密度大的离子密度。在一些实施例中,第一时期比第二时期长,使得在时间平均的基础上,等离子具有比自由基密度小的离子密度。

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