公开(公告)号：KR1020140045987A

公开(公告)日：2014-04-17

申请号：KR1020147001892

申请日：2012-06-27

Applicant: 오츠카 세이야쿠 가부시키가이샤

Inventor： 후쿠마,도모히로

IPC: G01N21/359 ,  G01N33/15

CPC classification number: G01N21/9508 ,  G01J3/06 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N21/85

Abstract: [과제] 본 발명은, 외관으로부터는 판별이 되지 않는 정제의 약제 성분의 양이 상이한 정제를 판별하는 것이 가능한, 약제 검사 장치 및 약제 검사 방법을 제공한다.
[해결수단] 본 발명은, 복수의 정제가 각각의 포켓에 수용되어 배열되는 열이 복수열에 걸쳐서 반송되고, 일렬마다 또는 포켓마다 상이한 약제 성분의 양을 함유하는 정제의 포장 공정에서 정제의 종류를 판별하는 약제 검사 장치이며, 정제에 근적외선을 포함하는 광선을 조사하는 조사 수단과, 정제로부터의 반사광이 입사되는 분광기와, 분광기에 의해 분광된 스펙트럼을 촬상하여, 촬상 데이터를 생성하는 근적외선 촬상 수단과, 촬상 데이터를 처리하여, 정제의 종류를 판별하는 연산을 행하는 제어 수단을 구비하고, 근적외선 촬상 수단은, 1회의 촬상으로 상기 열에서 정제가 배열되는 방향의 소정 길이로 할당된 소정수의 화소에서의 각 스펙트럼을 촬상하고, 제어 수단은 근적외선 촬상 수단이 상기 일렬로 포함되는 정제에 대하여 적어도 1회의 � ��상을 행하도록 제어하고, 포켓마다 정제 표면상의 화소에서의 스펙트럼을 평균화함으로써, 정제 1정당의 평균 스펙트럼 데이터를 산출하고, 평균 스펙트럼 데이터에 기초하여 정제의 종류를 판별한다.

公开(公告)号：KR1020020011385A

公开(公告)日：2002-02-08

申请号：KR1020017013338

申请日：2000-04-20

Applicant: 크로마겐

Inventor： 고울드진알. ,  콘라드마이클

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01J3/06 ,  G01J1/0437 ,  G01J3/02 ,  G01J3/12 ,  G01J3/18 ,  G01J3/1838 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6463 ,  G01N2021/6482

Abstract: 본발명은여기이중단색화장치(104), 동축여기/방사광 전달모듈(106), 및방사이중단색화장치(110)를구비한형광분광광도계에관한것이다. 각단색화장치는거울등의다른광학소자를사용하지않고입사하는광대역광으로부터소망하는대역의파장을정확하게선택하도록한 쌍의홀로그램오목격자(203,210)을포함한다. 선택된여기광은여기광을다중웰 플레이트의웰(108)의저부로직접정향시키도록동축여기거울(302)을포함하는광 전달모듈(106)에의해샘플웰(108) 내로정향된다. 웰개구를출사하는형광방사광은비교적큰 동축방사거울(304)에의해집광된다. 집광된방사광은방사이중단색화장치(110)에의해선택되는파장이다. 선택된방사광은광 검출기모듈(112)에의해검출된다.

Abstract translation: 具有激发双色单色器，同轴激发/发射光传输模块和发射双色单色仪的荧光分光光度计。 每个单色器包括一对全息凹面光栅，其安装成从入射的宽带光线精确地选择所需的波长带，而不使用诸如反射镜的其它光学元件。 所选择的激发光通过光传输模块被引导到样品阱中，所述光传输模块包括同轴激发反射镜，其被定位成将激发光直接引导到多孔板的阱的底部。 离开井口的荧光发射光由较大的同轴发射镜收集。 所收集的发射光是由发射双色仪选择的波长。 所选择的发射光由光电检测器模块检测。

公开(公告)号：KR1019900005331B1

公开(公告)日：1990-07-27

申请号：KR1019870005527

申请日：1987-05-30

Applicant: 주식회사 엘지이아이

Inventor： 양근영

IPC: G01N21/62

CPC classification number: G01J3/06 ,  G01J3/28 ,  G01J3/36 ,  G01J2001/446 ,  G01J2003/2866 ,  G01J2003/2893 ,  G01N21/67

Abstract: The measuring apparatus for determining mineral concentration, suits analysis of alloy including a little mineal element. The apparatus uses laser for getting variable wavelength, and composes spectrometer (20) using rotary polygon mirror (27) forming dual structure of grating (25) and reflector (26). The apparatus composes focus of spectrometer at outlet side slit (21); focusing lens (23) gathering beam of radiation from glow discharge lamping (22); laser beam radiation laser (24), the mirror driven by motor (27); focusing lens (29) gathering laser beam on slit plate (28) having sliparray; amplifier (36) for amplifying signal of photodiode (33); A/D convertor for photomultiplier tube.

Abstract translation: 用于确定矿物质浓度的测量装置，适合包括一些小矿物元素的合金分析。 该装置使用激光获取可变波长，并且使用形成光栅（25）和反射器（26）的双重结构的旋转多面镜（27）构成光谱仪（20）。 该装置构成出口侧狭缝21处的光谱仪的焦点; 聚焦透镜（23）聚集来自辉光放电灯（22）的辐射束; 激光束辐射激光器（24），由电机（27）驱动的反射镜; 聚焦透镜（29）将激光束聚集在具有滑纹的狭缝板（28）上; 放大器（36），用于放大光电二极管（33）的信号; A / D转换器用于光电倍增管。

公开(公告)号：TW201738538A

公开(公告)日：2017-11-01

申请号：TW106113016

申请日：2017-04-19

Applicant: 三美電機股份有限公司 ,  MITSUMI ELECTRIC CO., LTD.

Inventor： 齊藤政大 ,  SAITO, MASAHIRO

IPC: G01J3/18 ,  G02B5/18 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01J3/06 ,  G01J3/18 ,  G01N21/27

Abstract: 本發明提供一種小型分光器，其可以有效率地獲得廣域波長的光。此分光器(300)包含有：多個發出相互不同波長之光的光源(311,312)；旋轉於某一軸向的繞射格柵(401)；第一光學組件(321,322)，設置於多個光源(311,312)與繞射格柵(401)之間，將來自多個光源(311,312)的光，變換成平行光，且使來自多個光源(311,312)的光，以同一入射角入射至繞射格柵(401)；以及，第二光學組件(330)，用以將來自繞射格柵(401)的出射光集結起來。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种小型分光器，其可以有效率地获得广域波长的光。此分光器(300)包含有：多个发出相互不同波长之光的光源(311,312)；旋转于某一轴向的绕射格栅(401)；第一光学组件(321,322)，设置于多个光源(311,312)与绕射格栅(401)之间，将来自多个光源(311,312)的光，变换成平行光，且使来自多个光源(311,312)的光，以同一入射角入射至绕射格栅(401)；以及，第二光学组件(330)，用以将来自绕射格栅(401)的出射光集结起来。

公开(公告)号：TW201702574A

公开(公告)日：2017-01-16

申请号：TW104122825

申请日：2015-07-14

Applicant: 龍彩科技股份有限公司 ,  HC PHOTONICS CORP.

Inventor： 周明賢 ,  CHOU, MING HSIEN ,  蕭建隆 ,  XIAO, JIAN LONG ,  莊雅雯 ,  CHUANG, YA WEN ,  施至柔 ,  SZE, JYH ROU ,  陳柏睿 ,  CHEN, PO JUI ,  林群富 ,  LIN, CHUN FU ,  李龍正 ,  LEE, LONG JENG ,  張君勵 ,  CHANG, CHUN LI ,  黃吉宏 ,  HUANG, CHI HUNG ,  劉達人 ,  LIU, DA REN

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/06 ,  G01J3/2823 ,  G01J2001/442 ,  G01J2003/063 ,  G01N21/6408 ,  G01N21/6456 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2201/0697 ,  G01N2201/10

Abstract: 本發明為一種即時空間與時間光譜量測系統及其量測模組，其中即時空間與時間光譜量測系統包括激發光源及量測模組。激發光源用以激發螢光樣品，量測模組則接收並分析螢光樣品受激發後發出之螢光。量測模組包括單光子線性掃瞄偵測器及線性CCD光譜儀，單光子線性掃瞄偵測器能選擇性攔截螢光分光分波後具有多個波長的多波長光束中的特定波長，以產生單波長時間解析訊號，而線性CCD光譜儀則能接收多波長光束並產生螢光全光譜訊號。藉由本發明之實施，可以同時觀測螢光全光譜訊號與單波長時間解析訊號，進而提高螢光光譜儀的使用便利性。

Abstract in simplified Chinese: 本发明为一种实时空间与时间光谱量测系统及其量测模块，其中实时空间与时间光谱量测系统包括激发光源及量测模块。激发光源用以激发萤光样品，量测模块则接收并分析萤光样品受激发后发出之萤光。量测模块包括单光子线性扫瞄侦测器及线性CCD光谱仪，单光子线性扫瞄侦测器能选择性拦截萤光分光分波后具有多个波长的多波长光束中的特定波长，以产生单波长时间解析信号，而线性CCD光谱仪则能接收多波长光束并产生萤光全光谱信号。借由本发明之实施，可以同时观测萤光全光谱信号与单波长时间解析信号，进而提高萤光光谱仪的使用便利性。

公开(公告)号：NO20045400A

公开(公告)日：2005-03-01

申请号：NO20045400

申请日：2004-12-10

Applicant: BAKER HUGHES INC

Inventor： DIFOGGIO ROCCO ,  WALKOW ARNOLD M ,  BERGREN PAUL A

IPC: G01V1/00 ,  E21B49/08 ,  G01J3/06 ,  G01J3/26 ,  G01J3/433 ,  G01J3/44 ,  G01N21/03 ,  G01N21/35 ,  G01N21/64 ,  G01N21/85 ,  G01V8/02

CPC classification number: G01J3/26 ,  E21B49/08 ,  E21B2049/085 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/06 ,  G01J3/433 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/0317 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/359 ,  G01N21/64 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6439 ,  G01N2021/6482 ,  G01N2021/855

公开(公告)号：TWI377337B

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：TW097134718

申请日：2008-09-10

Applicant: 塞米西斯科股份有限公司

Inventor： 李淳鍾 ,  禹奉周

IPC: G01J

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/06

Abstract: 一種光譜儀。此光譜儀配置成使得作為光譜儀元件的偵測器與印刷電路板(printed circuit board，PCB)可進行角度調節以及來回往復移動，並且光纖分支成若干條線且設置於檢測目標之光學埠的前透明窗上。結果，可以廣泛地收集特定空間內產生之光學發射(optical emission)的光譜。因此，可以檢查未知材質的化學成分並且更精確地偵測已知材質或目標的結構、操作或環境特徵(內部溫度、壓力、磁強度(magnetic magnitude)等等)的詳情。

Abstract in simplified Chinese: 一种光谱仪。此光谱仪配置成使得作为光谱仪组件的侦测器与印刷电路板(printed circuit board，PCB)可进行角度调节以及来回往复移动，并且光纤分支成若干条线且设置于检测目标之光学端口的前透明窗上。结果，可以广泛地收集特定空间内产生之光学发射(optical emission)的光谱。因此，可以检查未知材质的化学成分并且更精确地侦测已知材质或目标的结构、操作或环境特征(内部温度、压力、磁强度(magnetic magnitude)等等)的详情。

公开(公告)号：TW432203B

公开(公告)日：2001-05-01

申请号：TW089107462

申请日：2000-07-19

Applicant: 邱梅格公司

Inventor： 君 R 古德 ,  麥克 J 康雷

IPC: G01J ,  G01N

CPC classification number: G01J3/06 ,  G01J1/0437 ,  G01J3/02 ,  G01J3/12 ,  G01J3/18 ,  G01J3/1838 ,  G01J3/4406 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6463 ,  G01N2021/6482

Abstract: 一種螢光分光光度計設有一激發雙組單色光鏡、一同軸對齊激發暨發射之光線傳送模組，以及一發射雙組單色光鏡。每一單色光鏡包含一對全真攝影之凹面光柵，其安裝方式可以不需要使用他種光學元件(例如鏡片)，即可精確的由入射之寬頻帶光線，篩選所希望之波長頻寬。所篩選激發光線，將經由一光線傳送模組導引至一待測物源井處;光線傳送模組包含一同軸對齊激發鏡片，其位置可以直接導引激發光線至複式源井板片一源井底部。發射光線之螢光於離開源井開口，將為一相對較大同軸對齊發射鏡片所收集。所收集發射光線波長，係由發射雙組單色光鏡所篩選之波長。所篩選發射光線，將為光檢測器所偵測出。

Abstract in simplified Chinese: 一种萤光分光光度计设有一激发双组单色光镜、一同轴对齐激发暨发射之光线发送模块，以及一发射双组单色光镜。每一单色光镜包含一对全真摄影之凹面光栅，其安装方式可以不需要使用他种光学组件(例如镜片)，即可精确的由入射之宽带带光线，筛选所希望之波长带宽。所筛选激发光线，将经由一光线发送模块导引至一待测物源井处;光线发送模块包含一同轴对齐激发镜片，其位置可以直接导引激发光线至复式源井板片一源井底部。发射光线之萤光于离开源井开口，将为一相对较大同轴对齐发射镜片所收集。所收集发射光线波长，系由发射双组单色光镜所筛选之波长。所筛选发射光线，将为光检测器所侦测出。

公开(公告)号：TW228568B

公开(公告)日：1994-08-21

申请号：TW081106083

申请日：1992-07-31

Applicant: 德國太空研究所

Inventor： 沃克.泰克 ,  彼得.哈斯克伯格 ,  柏克哈德.傑森

IPC: G01J ,  G01B

CPC classification number: G01J3/06 ,  G01J3/453

Abstract: 一種邁克爾生干涉儀（IF)之每一臂中，一所具光圈平面垂直地對準光軸的後向反射器（110；110'）係裝置在一個別的固定器（106;106'），該固定座依序係堅固地接至可旋轉地裝置在一連接構件（103;103'）內的一軸(105;105')之一端。第一齒輪(1071;1071'）係固定於該軸(105;105'）的另一端，而該第一齒輪係經由一有齒帶(109;109'）而耦合至結構相同的第二齒輪（107;107'），該第二齒輪與電動馬達(101;101')之驅動軸(102;102')同心，且係牢固地與其機殼(1010;1010')連接。距該軸(105;105')一預定的距離驅動軸(102;102')係固定地接至連接構件(103;103')，以致在該馬達驅動軸(102;102')轉動時，光路的長度在一干涉儀的臂內會縮短，而在另一干涉儀的臂內則會隨其同步地伸長，反之亦然。
另外，兩後向反射器(110,110')的光圈平面係經常保持不變而垂直地對準該光軸(第２圖)。

Abstract in simplified Chinese: 一种迈克尔生干涉仪（IF)之每一臂中，一所具光圈平面垂直地对准光轴的后向反射器（110；110'）系设备在一个别的固定器（106;106'），该固定座依序系坚固地接至可旋转地设备在一连接构件（103;103'）内的一轴(105;105')之一端。第一齿轮(1071;1071'）系固定于该轴(105;105'）的另一端，而该第一齿轮系经由一有齿带(109;109'）而耦合至结构相同的第二齿轮（107;107'），该第二齿轮与电动马达(101;101')之驱动轴(102;102')同心，且系牢固地与其机壳(1010;1010')连接。距该轴(105;105')一预定的距离驱动轴(102;102')系固定地接至连接构件(103;103')，以致在该马达驱动轴(102;102')转动时，光路的长度在一干涉仪的臂内会缩短，而在另一干涉仪的臂内则会随其同步地伸长，反之亦然。 另外，两后向反射器(110,110')的光圈平面系经常保持不变而垂直地对准该光轴(第２图)。

公开(公告)号：WO2017183567A1

公开(公告)日：2017-10-26

申请号：PCT/JP2017/015234

申请日：2017-04-14

Applicant: コニカミノルタ株式会社

Inventor： 山元　廣治 ,  崎本　政彦 ,  鷺坂　直樹 ,  岡山　彰祐 ,  横田　聡 ,  窪田　憲応

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/06 ,  G01J3/50

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/06 ,  G01J3/50

Abstract: 光学測定装置の種類に応じて光学測定装置を校正できる校正システムを提供する。校正システム（５００）は、複数の基準物体と、校正対象の光学測定装置から当該光学測定装置の種類を受信するための受信部（１５０）と、校正処理に用いられる基準物体を光学測定装置の種類ごとに対応付けている校正情報（８４Ａ）に基づいて、複数の基準物体の中から校正対象の光学測定装置の種類に対応付けられている基準物体を選択するための選択部（１５２）と、選択部（１５２）によって選択された基準物体の測定指示を校正対象の光学測定装置に出力し、当該校正対象の光学測定装置から当該基準物体の測定データを取得するための取得部（１５６）と、測定データを用いて校正対象の光学測定装置を校正するための校正部（３５２）とを備える。

Abstract translation:

提供一种校准系统，能够根据光学测量装置的类型校准光学测量装置。 校准系统（500）包括多个参考对象，用于从所述光学测量装置接收到所述光学测量装置的类型的接收器被校准和（150），光学测量装置用于校准处理的参考对象 基于与每个类型（84A）相关联的校准信息，用于选择与所述光学测量装置的类型相关联的参考对象的选择单元从所述多个参考对象的和（152）来校准 ，并且输出通过所述选择单元（152）选择为所述光学测量装置中的参考对象的测量指令，以进行校准，所述获取单元用于从所述校准目标的光学测量装置获取所述参考对象的测量数据（156） 以及校准部分（352），用于使用测量数据校准待校准的光学测量装置。