公开(公告)号：CN118366977A

公开(公告)日：2024-07-19

申请号：CN202410793008.1

申请日：2024-06-19

Applicant: 浙江大学

Inventor： 徐杨 ,  谢云斐 ,  张致翔 ,  李宗文 ,  宁浩 ,  戴越 ,  叶雨欣 ,  张倩倩 ,  柴健 ,  马源 ,  刘欣雨

IPC: H01L25/16 ,  H01L31/109 ,  H01L31/18 ,  H01L21/50 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明公开了一种仿生超材料宽光谱偏振光电探测集成组件及制备方法，以镓‑铟合金、硅、氧化硅、金电极、硅仿生手性超表面、金仿生手性超表面和石墨烯共同构成集成式手性仿复眼超材料宽光谱偏振光电探测器主体。经金属氧化物半导体场效应晶体管选通后的器件电流信号通过电路接口传输回计算机端进行计算处理，阵列像素器件通过时分复用的形式以扫描式交替读出光电探测信号。本发明提出的这种单片集成式手性仿复眼超材料宽光谱偏振光电探测组件非常适合各种基于宽广谱探测以及偏振极化的应用，包括偏振极化宽广谱成像，生物传感和量子信息处理，尤其是对于经常需要复杂而庞大的光电系统的各种应用至关重要。

公开(公告)号：CN118235236A

公开(公告)日：2024-06-21

申请号：CN202280073945.9

申请日：2022-10-12

Applicant: 信越半导体株式会社

Inventor： 藤井康太 ,  阿部达夫 ,  大槻刚 ,  五十岚健作 ,  大关正彬

IPC: H01L21/66 ,  G01B11/06 ,  G01J4/04 ,  H01L21/304 ,  H01L21/316

Abstract: 本发明涉及氧化膜的评价方法，其是利用AFM测得的表面粗糙度Sa值为0.5nm以下的硅基板上的氧化膜的评价方法，其包括：准备形成有氧化膜的被评价基板与基板表面的在空间频率为60～90/μm时的功率谱密度的平均值为0.1nm3以下的基准基板的工序；测定被评价硅基板上的氧化膜的膜厚的第一膜厚测定工序；去除被评价硅基板及基准硅基板上的氧化膜的工序；在去除了氧化膜的被评价硅基板及基准硅基板上，在同一条件下形成氧化膜的工序；测定被评价硅基板及基准硅基板上的氧化膜的膜厚的第二膜厚测定工序；根据在第二膜厚测定工序中获得的被评价硅基板及基准硅基板上的氧化膜的膜厚，对在第一膜厚测定工序中获得的被评价硅基板上的氧化膜中的由膜厚影响因素造成的膜厚进行评价的工序。由此，可提供一种可高精度地评价由膜厚影响因素造成的氧化膜的膜厚的氧化膜的膜厚评价方法。

公开(公告)号：CN118215834A

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202280074120.9

申请日：2022-09-07

Applicant: 约翰内斯堡威特沃特斯兰德大学

Inventor： 瓦格纳·塔瓦雷斯·布欧诺 ,  凯尚·辛格 ,  安德鲁·福布斯 ,  安吉拉·达德利

IPC: G01N21/23 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明涉及用于测量物体的光学特性、特别是用于测量物体的双折射的方法和系统。该方法包括：将均匀偏振的测量光束引导到物体上；利用全息图使测量光束的偏振态自动旋转；针对测量光束的每个偏振态，检测测量光束不与物体相互作用和与物体相互作用之后的偏振性质；以及使用针对每个偏振态检测到的测量光束不与物体相互作用和与物体相互作用之后的偏振性质来确定物体的双折射的测量结果。

公开(公告)号：CN118190165A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202410312211.2

申请日：2024-03-19

Applicant: 合肥工业大学 ,  中国科学院合肥物质科学研究院

Inventor： 刘冬梅 ,  常梓怡 ,  符佳 ,  阮久福 ,  孙可迪 ,  潘肖蕾

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明公开了一种基于调制频率提取偏振光偏振角度的方法，该方法主要包括以下步骤：输入包含以f1、f2为基频的多谐波模拟信号，先将输入的模拟信号放大，再将放大后的模拟信号转换为包含频率为2f1和2f2、4f1和4f2、……、2nf1和2nf2的待提取幅值信号与其他频率干扰信号的数字信号；另一方面，生成与待提取幅值信号同频率、相互正交、单位幅值的正弦参考信号和余弦参考信号；然后将转换后的数字信号分别与上述生成的单位幅值的正弦、余弦参考信号混频、滤波并进行解调计算，得到待提取幅值信号的幅值；对得到的幅值进行运算得到偏振角度。本方法能够有效的提取输入信号中不同频率分量幅值，从而可以计算得到偏振角度信息。

公开(公告)号：CN111141390B

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202010104330.0

申请日：2020-02-20

Applicant: 长春理工大学

Inventor： 付强 ,  赫立群 ,  张肃 ,  战俊彤 ,  贺敬航 ,  段锦 ,  姜会林

IPC: G01J4/00 ,  G01J4/04 ,  G01N21/21

Abstract: 基于海雾多层介质环境的双波段偏振特性测试系统，属于偏振传输特性领域。双波段偏振光产生分系统可产生532nm和1064nm的双波段偏振光，采用海雾环境传输模拟分系统，模拟海面垂直方向上的海洋环境。双波段偏振光通过模拟的海雾多层介质环境传输后，通过海雾环境传输模拟分系统上开设的散射光学窗口，再进入到双波段偏振特性探测分系统，计算机分系统获取并分析海雾环境传输模拟分系统、双波段偏振特性探测分系统的信息，完成双波段光在复杂多层海雾环境下的偏振传输特性测试研究。本发明能探究双波段光在多层海雾环境下的偏振传输特性并能分析双波段偏振光束的成像特性，为实现海洋环境下的偏振目标成像探测能力提升奠定理论和技术基础。

公开(公告)号：CN117800386A

公开(公告)日：2024-04-02

申请号：CN202311823127.9

申请日：2023-12-27

Applicant: 吉林大学

Inventor： 王义展 ,  李军鹏

IPC: C01G11/02 ,  G01J4/04 ,  B82Y40/00

Abstract: 一种手性二维硫化镉纳米片的制备方法及应用，它涉及手性二维纳米片的制备方法及应用。本发明要解决现有难以构建非层状手性二维无机纳米材料的问题。方法：将第一敞口反应容器及第二敞口反应容器放置于可密闭容器中，向第一敞口反应容器中加入乙酸镉溶液，然后滴加左旋布洛芬/氯仿溶液，再向第二敞口反应容器中加入硫化钠水溶液，然后滴加盐酸溶液，最后密封静置。应用：它用于制备圆偏振光检测器件检测左旋/右旋圆偏振光。本发明用于手性二维硫化镉纳米片的制备及应用。

公开(公告)号：CN117629397A

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202210967234.8

申请日：2022-08-12

Applicant: 南京大学

Inventor： 彭茹雯 ,  王牧 ,  王铮 ,  江越 ,  范仁浩 ,  祁冬祥

IPC: G01J1/42 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明提出一种基于介质超构表面对N‑光子偏振纠缠态实现量子态层析的方法，包括：提供N条光路，每条光路上均设有一块相同的超构表面，所述超构表面包括四个具有不同光学响应的区域，分别用于提取入射光的不同偏振分量且只存在零级衍射，并通过不同区域的输出形成完备的偏振投影基；将N‑光子量子态中的N光子分别被输入至N条光路，依次照射到各超构表面的各个区域，实现所述偏振纠缠态被分别投影到4N个不同的偏振投影基；通过符合测量，重构出所述N‑光子偏振纠缠态的密度矩阵。本发明进一步还公开了对应的系统。通过本发明不仅能实现高保真度的量子态层析，还有利于量子光学系统的集成化和小型化。

公开(公告)号：CN117576512A

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202311581613.4

申请日：2023-11-24

Applicant: 闽南师范大学

Inventor： 李燕 ,  林惠川 ,  朱佳仪 ,  何志民 ,  黄成 ,  曾峻 ,  陈福昌 ,  余超群

IPC: G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06F17/16 ,  G06V10/764 ,  G01K11/00 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明涉及温度测量方法，尤其是一种基于反射光偏振度的物体表面温度测量方法，包括：S1、将待测物体表面的温度处理至预定温度，利用偏振相机对所述待测物体表面进行拍照，获得偏振图像组；S2、改变所述预定温度的数值，重复步骤S1，获得多个分别对应不同的所述预定温度的所述偏振图像组；S3、分别计算各所述偏振图像组的偏振度分布信息并构建成数据集，利用所述数据集对卷积神经网络进行训练，获得温度预测模型；S4、利用偏振相机对另一所述待测物体表面进行拍照，获得监测图像组，计算所述监测图像组的偏振度分布信息并输入所述温度预测模型，获得温度信息。本发明利用物体表面可见反射光的偏振度实现温度检测，成本相对较低且测量准确性较高。

公开(公告)号：CN117213634A

公开(公告)日：2023-12-12

申请号：CN202311193039.5

申请日：2023-09-15

Applicant: 齐鲁工业大学(山东省科学院)

Inventor： 李奎龙 ,  王文佳

IPC: G01J4/04 ,  G01J1/42

Abstract: 本发明公开了一种基于二维Ta2NiSe5偏振特性的多维光信息探测器及探测方法，属于光电探测器技术领域。包括将线偏振光入射至多维光信息探测器的Ta2NiSe5层，转动多维光信息探测器以调节偏振角度，获取光生电流随偏振角度变化的变化极化图；根据变化极化图和Ta2NiSe5层吸收线性二向色性的双轴性特点，判断线偏振光类型，以实现波段分辨；其中，所述变化极化图包含光生电流大小信息，以反应多维光信息探测器对线偏振光强度的响应程度。利用二维Ta2NiSe5的结构各向异性所产生的线线偏振光敏感性实现偏振探测，利用Ta2NiSe5独特的偏振吸收二向色性实现可见光和近红外光的波段分辨，结构简单、成本低廉；解决传统偏振探测器制备难度大、成本昂贵的问题。

公开(公告)号：CN116895704A

公开(公告)日：2023-10-17

申请号：CN202311159452.X

申请日：2023-09-11

Applicant: 长春理工大学

Inventor： 郝群 ,  李科学 ,  魏志鹏 ,  唐鑫 ,  陈梦璐

IPC: H01L31/0232 ,  H01L31/0352 ,  H01L31/09 ,  H01L31/18 ,  G02B5/00 ,  B82Y40/00 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明提出一种能够探测和识别手性光场的探测器及其制备方法，涉及新型光电探测器件领域。本发明包括衬底、金属层、矩形空气槽周期阵列、纳米线探测器、金属电极、信号采集和信号运算分析装置；矩形空气槽周期阵列所激发的SPP垂直地向两侧传播，当两列相互垂直的矩形空气槽中心在水平间距为所激发的SPP波长的1/4时，圆偏振光会产生定向耦合的SPP，从而使得矩形空气槽阵列对偏振特性不同的入射光能够精确的筛选，并将筛选的入射光传输至探测器。本发明的纳米线探测器对矩形空气槽阵列传输的光产生光响应，对应于不同的圆偏振光表现出不同的可测量光电流，从而实现对不同圆偏振光的探测和区分。