公开(公告)号：US5305074A

公开(公告)日：1994-04-19

申请号：US914345

申请日：1992-07-17

Applicant: Mark Feldman

Inventor： Mark Feldman

IPC: G01B9/02

CPC classification number: G01J9/02 ,  G01J2009/002

Abstract: A self-referencing Mach-Zehnder interferometer for accurately measuring laser wavefronts over a broad wavelength range (for example, 600 nm to 900 nm). The apparatus directs a reference portion of an input beam to a reference arm and a measurement portion of the input beam to a measurement arm, recombines the output beams from the reference and measurement arms, and registers the resulting interference pattern ("first" interferogram) at a first detector. Optionally, subportions of the measurement portion are diverted to second and third detectors, which respectively register intensity and interferogram signals which can be processed to reduce the first interferogram's sensitivity to input noise. The reference arm includes a spatial filter producing a high quality spherical beam from the reference portion, a tilted wedge plate compensating for off-axis aberrations in the spatial filter output, and mirror collimating the radiation transmitted through the tilted wedge plate. The apparatus includes a thermally and mechanically stable baseplate which supports all reference arm optics, or at least the spatial filter, tilted wedge plate, and the collimator. The tilted wedge plate is mounted adjustably with respect to the spatial filter and collimator, so that it can be maintained in an orientation in which it does not introduce significant wave front errors into the beam propagating through the reference arm. The apparatus is polarization insensitive and has an equal path length configuration enabling measurement of radiation from broadband as well as closely spaced laser line sources.

Abstract translation: 一种自参考马赫 - 曾德干涉仪，用于在宽波长范围（例如600 nm至900 nm）内精确测量激光波前。 该装置将输入光束的参考部分引导到参考臂和输入光束的测量部分到测量臂，将来自参考和测量臂的输出光束复合，并将所得到的干涉图案（“第一”干涉图） 在第一检测器。 可选地，测量部分的子部分被转移到第二和第三检测器，其分别记录可以被处理的强度和干涉图信号，以减少第一干涉图对输入噪声的敏感度。 参考臂包括产生来自参考部分的高质量球形光束的空间滤光器，补偿空间滤光器输出中的离轴像差的倾斜楔形板，以及对通过倾斜的楔形板传播的辐射进行镜子准直。 该装置包括热和机械稳定的基板，其支撑所有参考臂光学元件，或至少空间滤光片，倾斜楔形板和准直器。 倾斜的楔形板相对于空间滤波器和准直器可调节地安装，使得其可以保持在其不会在传播通过参考臂的光束中引入显着的波前误差的取向。 该装置是极化不敏感的并且具有相等的路径长度配置，使得能够测量来自宽带以及紧密间隔的激光线源的辐射。

公开(公告)号：US5120128A

公开(公告)日：1992-06-09

申请号：US641444

申请日：1991-01-14

Applicant: Bobby L. Ulich ,  Anthony D. Gleckler

Inventor： Bobby L. Ulich ,  Anthony D. Gleckler

IPC: G01J9/00 ,  G01S3/786 ,  G02B26/06

CPC classification number: G01S3/7864 ,  G01J9/00 ,  G02B26/06 ,  G01J2009/002

Abstract: A wavefront aberration sensor includes a beam splitter, one or more aberration sensor modules and a photodetector for sensing total light power. The aberration sensor modules each provide two voltage outputs from a pair of photodetectors. Differences in the voltage pairs are normalized by the total light power to represent signed aberration amplitudes of phase aberrations present in an input optical beam. The aberration amplitudes may be combined in a digital computer to provide a reconstructed wavefront.

Abstract translation: 波前像差传感器包括分束器，一个或多个像差传感器模块和用于感测总光功率的光电检测器。 像差传感器模块各自提供来自一对光电检测器的两个电压输出。 电压对的差异由总光功率归一化，以表示存在于输入光束中的相位像差的有符号像差振幅。 像差幅度可以在数字计算机中组合以提供重建的波前。

公开(公告)号：US5062702A

公开(公告)日：1991-11-05

申请号：US494683

申请日：1990-03-16

Applicant: Josef F. Bille

Inventor： Josef F. Bille

IPC: A61B3/10 ,  A61B3/107 ,  G01J9/00

CPC classification number: A61B3/1015 ,  A61B3/107 ,  G01J9/00 ,  G01J2009/002

Abstract: A device for mapping the topography of the cornea of an eye has a light source for directing a beam of collimated monochromatic light characterized by a flat wave front onto the cornea. Positioned between the light source and the cornea is an objective lens for focusing this flat wave front toward the cornea as a converging spherical wave front. The light reflected from the cornea passes back through the objective lens to establish a reflected wave front having deviations from the flat wave front caused by aberrations on the cornea that are indicative of corneal topography. This reflected wave front is then segmentally focused by a lens array into a pattern which reveals the deviations for use in mapping the topography of the cornea.

公开(公告)号：KR101552652B1

公开(公告)日：2015-09-14

申请号：KR1020130144618

申请日：2013-11-26

Applicant: 한국표준과학연구원

Inventor： 이혁교 ,  김영식 ,  양호순 ,  이윤우

IPC: G01B9/02 ,  G06F17/13

CPC classification number: G01J9/0215 ,  G01J2009/002

Abstract: 본발명의실시예에따른대상의파면을측정하는측정기의동작방법은대상의파면을기반으로측정파면을측정하는단계; 측정파면을기반으로기준방향및 제 1 내지제 3 방향들각각에대응하는기준기울기정보및 제 1 내지제 3 기울기정보를측정하는단계; 측정된기준기울기정보및 제 1 내지제 3 기울기정보를기반으로제 1 내지제 3 회전각들을획득하는단계; 및획득된제 1 내지제 3 회전각들을기반으로회전오차에의해발생한오류가보정된파면을출력하는단계를포함하고, 제 1 내지제 3 회전각들은각각기준방향및 제 1 방향의각도차이, 각각기준방향및 제 2 방향의각도차이, 및각각기준방향및 제 3 방향의각도차이이다.

公开(公告)号：KR101283640B1

公开(公告)日：2013-07-08

申请号：KR1020120106987

申请日：2012-09-26

Applicant: 주식회사 디브이씨

Inventor： 성정아

IPC: G09B23/06 ,  G09B23/14 ,  G09B19/00 ,  G01J9/00

CPC classification number: G09B23/14 ,  G01J9/00 ,  G01J2009/002 ,  G09B19/00

Abstract: PURPOSE: A wave experience device using a spring is provided to have understanding of concepts and principles of a wave by actually observing the wave of the spring. CONSTITUTION: A wave experience device using a spring includes a support (1), a spring (2), a transverse wave generator (3), a longitudinal wave generator (4), and an operation display means. The support includes a vertical support (11), a fixing frame (12), and a horizontal frame (13). The spring is in the shape of continuous coils and is horizontally extended by a wire (21) connected to the horizontal frame. The transverse wave generator includes a support pillar, a rotation pillar, a first operation pillar (31), a handle (32), and an elbow. The longitudinal wave generator includes a second operation pillar (41), a shaft (42), a switch (43), a link, and shaft housing.

Abstract translation: 目的：通过实际观察春天的波浪，提供使用弹簧的波浪体验装置，以了解波浪的概念和原理。 构成：使用弹簧的波浪体验装置包括支撑件（1），弹簧（2），横波发生器（3），纵波发生器（4）和操作显示装置。 支撑件包括垂直支撑件（11），固定框架（12）和水平框架（13）。 弹簧呈连续线圈的形状，并且通过连接到水平框架的线（21）水平延伸。 横波发生器包括支撑柱，旋转支柱，第一操作支柱（31），手柄（32）和弯头。 纵波发生器包括第二操作支柱（41），轴（42），开关（43），连杆和轴壳体。

公开(公告)号：JP6394850B2

公开(公告)日：2018-09-26

申请号：JP2013195943

申请日：2013-09-20

Applicant: 大学共同利用機関法人自然科学研究機構

Inventor： 服部 雅之 ,  玉田 洋介 ,  村田 隆 ,  亀井 保博 ,  長谷部 光泰 ,  早野 裕 ,  大屋 真

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/06

CPC classification number: G02B27/0068 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0068 ,  A61B5/0071 ,  G01J9/00 ,  G01J2009/002 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/1787 ,  G02B17/008 ,  G02B21/002 ,  G02B21/0096 ,  G02B21/02 ,  G02B21/06 ,  G02B21/18 ,  G02B21/361 ,  G02B21/367 ,  G02B27/0025

公开(公告)号：JP2016172544A

公开(公告)日：2016-09-29

申请号：JP2015187772

申请日：2015-09-25

Applicant: ザ・ボーイング・カンパニー ,  The Boeing Company

Inventor： ケルクナー, ブライアン リー ,  ジャーカティス, ケネス ,  ホームズ, リチャード ブルックス ,  マックナーニ, ニコラウス ,  ドナルドソン, ジェド

IPC: G01C19/00 ,  B64D45/00

CPC classification number: H04N5/2254 ,  F41G3/22 ,  G01S3/786 ,  G01S7/497 ,  G02B17/0605 ,  G02B23/08 ,  G02B26/0816 ,  G02B7/1821 ,  H04B10/1125 ,  G01J2009/002 ,  G01S17/58 ,  G01S17/66 ,  G01S17/95 ,  G02B26/008 ,  G02B27/14

Abstract: 【課題】光学計器類の性能及び/又は正確性に影響を与える航空光学的擾乱の正確な測定を可能とする 【解決手段】発光源からの光ビーム30を、第1ペリスコープ折り畳み鏡36へと反射させ、そこから、第2ペリスコープ折り畳み鏡40へと直接反射させるための、ジンバルに支持された鏡を含む。第1凹形軸外放物面鏡46は、第2ペリスコープ折り畳み鏡から反射された光ビームを受容し、第1折り畳み鏡42は、第1凹形軸外放物面鏡から直接反射された光ビームを受容し、第2折り畳み鏡44は、第1折り畳み鏡から直接反射された光ビームを受容する。第2凹形軸外放物面鏡52は、第2折り畳み鏡から直接反射された光ビームを受容し、高速ステアリング鏡54へと反射させる。組み込みプロセッサ39に結合された微細追跡カメラ41は、高速ステアリング鏡から光ビームの一部を受容する。組み込みプロセッサは、高速ステアリング鏡及びジンバルの動作を制御する。 【選択図】図3

Abstract translation: 要解决的问题：能够精确测量影响光学仪器的性能和/或精度的航空光学干扰。解决方案：系统包括由万向架支撑的反射镜，用于将来自发光源的光束30反射到第一 潜望镜折射镜36，并且从而将光束直接反射到第二潜望镜折射镜40.第一凹入离轴抛物面镜46接收从第二望远镜折射镜反射的光束。 第一折叠镜42接收直接从第一凹入离轴抛物面反射镜反射的光束。 第二折叠镜44接收直接从第一折叠镜反射的光束。 第二凹轴离轴抛物面反射镜52接收直接从第二折射镜反射的光束，并将光束反射到快速转向镜54.连接到嵌入式处理器39的精细跟踪器相机41接收一部分光 梁从快速转向镜。 嵌入式处理器控制快速转向镜和万向节的移动。图3

公开(公告)号：JP5988643B2

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：JP2012069563

申请日：2012-03-26

Applicant: キヤノン株式会社

Inventor： 飯島 仁 ,  前田 充史

IPC: G01M11/02 ,  G01B11/24 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01B11/2441 ,  G01B9/02027 ,  G01B9/02039 ,  G01B9/02088 ,  G01B9/0209 ,  G01M11/025 ,  G01M11/0271 ,  G01B2290/70 ,  G01J2009/002 ,  G01J2009/0203 ,  Y10T29/49826

公开(公告)号：JP2013200257A

公开(公告)日：2013-10-03

申请号：JP2012069563

申请日：2012-03-26

Applicant: Canon Inc ,  キヤノン株式会社

Inventor： IIJIMA HITOSHI ,  MAEDA ATSUSHI

IPC: G01B9/02 ,  G01B11/24 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01B11/2441 ,  G01B9/02027 ,  G01B9/02039 ,  G01B9/02088 ,  G01B9/0209 ,  G01B2290/70 ,  G01J2009/002 ,  G01J2009/0203 ,  G01M11/025 ,  G01M11/0271 ,  Y10T29/49826

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To exclude an influence of an unnecessary light component from an analyte when measuring optical characteristics such as a shape and a wavefront aberration of the analyte.SOLUTION: Emission light emitted from a light source 101 is separated into measurement light L1 irradiating an analyte 108 and reference light L2 not irradiating the analyte, by a polarization beam splitter 103. The measurement light L1 passing the analyte is condensed on an imaging surface P by a plurality of microlenses 114a of a microlens array 114. The reference light L2 is guided to the imaging surface P by a reference light optical system 109. A computer 113 successively acquires a plurality of captured images from a CCD image sensor 116 disposed on the imaging surface P while changing an optical path length of the reference light by a moving stage 117. The computer 113 extracts an interference light spot occurring due to interference between a signal light component and the reference light, from the plurality of captured images to calculate a centroid position of the interference light spot and calculates a displacement of the centroid position from a preliminarily determined reference position.

Abstract translation: 要解决的问题：在测量诸如分析物的形状和波面像差的光学特性的光学特性时，从分析物中排除不必要的光成分的影响。解决方案：从光源101发射的发射光被分离成照射的测量光L1 分析物108和不通过偏振分束器103照射分析物的参考光L2。通过分析物的测量光L1通过微透镜阵列114的多个微透镜114a在成像表面P上会聚。参考光L2是 通过参考光学系统109被引导到成像面P.计算机113从设置在成像面P上的CCD图像传感器116连续获取多个拍摄图像，同时通过移动台改变参考光的光路长度 计算机113提取由于信号光分量与参考光之间的干扰而发生的干涉光点 从多个拍摄图像中计算干涉光点的质心位置，并计算重心位置与预先确定的基准位置的位移。

公开(公告)号：KR101806049B1

公开(公告)日：2017-12-06

申请号：KR1020160161417

申请日：2016-11-30

Applicant: 인하대학교 산학협력단

Inventor： 이석목

IPC: G01J9/00 ,  H01S3/22 ,  G02B27/30 ,  G02B5/18

CPC classification number: G01J9/00 ,  G01J2009/002 ,  G02B5/18 ,  G02B27/30 ,  H01S3/2222

Abstract: 본발명은, 광원과, 상기광원으로부터이격되어배치되는회절격자와, 상기회절격자와이격되어배치되어상기회절격자를통과한광원의영상을측정하는영상측정기를포함하는곡률반지름측정장치를이용하는광의파면곡률반지름측정방법에있어서, a) 광원에서광이발광되도록한 후, 광이회절격자(Grating)을통과하고발현시키는회절무늬가상기회절격자와동일한모양으로나타날때까지상기회절격자와상기영상측정기사이의거리를변화시키고, 상기회절무늬의주기(p')를측정하는단계; b) 상기영상측정기또는상기회절격자를이동하는단계; c) 상기영상측정기또는상기회절격자의이동후, 변화된회절무늬를상기영상측정기로측정하고, 변화된회절무늬의주기(p'), 회절격자의이동거리(Sz) 및상기회절격자와상기영상측정기사이의거리변화량(Dz) 중하나이상을측정하는단계; d) 상기 b),c) 단계를 n회(n은정수) 반복하고, 측정된 n개의회절무늬의주기(p'), 회절격자의이동거리(Sz) 및상기회절격자와상기영상측정기사이의거리변화량(Dz) 중하나이상의데이터를이용하여, 광의파면곡률반지름(z)을산출하는단계를포함하는광의파면곡률반지름측정방법을제공한다.

Abstract translation: 本发明中，所述光学波前是一个光源，布置和衍射光栅设置在距所述光源的距离从衍射使用曲率测定装置包括：成像测量仪，用于测量通过所述衍射光栅hangwangwon通过了图像的半径光栅隔开 在曲率测定法的半径，一），从而允许极光的光发射到光源，直到光的衍射图案通过衍射光栅（光栅）和表达式出现在相同的形状作为衍射光栅和所述衍射光栅和所述影像测量仪后 测量衍射光栅的周期（p'）; b）移动图像测量装置或衍射光栅; c）中所述的图像测量仪或移动之后，所述衍射光栅，并测量在图像测量仪改变的衍射图案和更改的衍射图案（P“）的周期，衍射光栅（SZ的移动距离）和所述衍射光栅和所述影像测量仪之间 测量范围变化量的变化量（Dz）或更多; d）的B），C）相到n倍（n卡罗尔数）重复，并且衍射图（P“）的测量n的周期，衍射光栅（SZ的移动距离）和所述衍射光栅和所述影像测量仪之间 并且使用光束的距离Dz的变化量中的至少一个的数据来计算光的波前曲率半径z。