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公开(公告)号：KR101384553B1
公开(公告)日：2014-04-11
申请号：KR1020137003757
申请日：2004-09-08
Applicant: 더 제너럴 하스피탈 코포레이션
Inventor： 윤석현 , 보우마,브레트,유진 , 티어니,길레모,주니어 , 보어,요한,피츠제럴드데
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 장치 및 방법이 개시된다. 특히 적어도 하나의 제1 전자기 방사가 하나의 샘플에 제공되며, 또한 적어도 하나의 제2 전자기 방사가 비 반사 기준물에 제공될 수 있다. 제1 및/또는 제2 방사의 주파수는 시간에 따라 변한다. 상기 샘플로부터 복귀된 적어도 하나의 제3 방사와 상기 기준물로부터 복귀된 적어도 하나의 제4 방사 사이의 간섭이 검출된다. 또한 제1 전자기 방사 및/또는 제2 전자기 방사는 시간에 따라 변화하는 스펙트럼을 갖는다. 스펙트럼은 특정 시간에 다수의 주파수들을 가질 수 있다. 또한, 제1 편광 상태에서 제3 방사와 제4 방사 사이의 간섭 신호를 검출할 수 있다. 또한, 제1 편광 상태와는 다른 제2 편광 상태에서 제3 방사와 제4 방사 사이의 간섭 신호를 검출하는 것이 바람직하다. 제1 및/또는 제2 전자기 방사는 밀리 초당 100 테라 헤르츠 이상의 조정 속도에서 시간에 따라 사실상 연속적으로 변화하는 중심 주파수 스펙트럼을 가질 수 있다.
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公开(公告)号：KR101330887B1
公开(公告)日：2013-11-18
申请号：KR1020067025887
申请日：2005-05-17
Applicant: 세모메테크 에이/에스
Inventor： 아른비다르손,뵈르쿠르 , 라르센,한스
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0202 , G01J3/453 , G01N21/35 , G01N21/3563 , G01N21/3577 , G01N21/359 , G01N2021/3595 , G01N2201/0691 , G01N2201/129
Abstract: 본 발명은 간섭 정보를 시료의 화학적 또는/및 물리적 특성과 상관시키는 대안 전략을 제공한다. 이 전략은 간섭 분광법에 따른 최신 기술 보다 유리한 실질적인 기술적, 상업적 이점을 제공하는 방법 및 시스템으로 실현된다. 본 발명은 또한 간섭계를 표준화는 방법 및 표준화된 간섭계를 사용한 방법 및 시스템을 제공한다.
시료 판정, 간섭계, 표준화, 변조, 광.-
公开(公告)号：KR1020110125640A
公开(公告)日：2011-11-21
申请号：KR1020117019504
申请日：2010-01-20
Applicant: 레어 라이트, 인크.
Inventor： 메쎄슈미트로버트지.
CPC classification number: G01J3/44 , G01J3/433 , G01J3/453 , G01J2003/104 , G01J2003/106
Abstract: 본 발명은 샘플의 스펙트럼 특성을 검출하는 라만 분광 장치에 관한 것으로, 상기 라만 분광 장치는, 전자기 방사선을 이용하여 샘플을 여기시키도록 조정된 다중 변조된 분리형 광원과, 샘플에 의해 방출된 미리 지정된 파장을 분리하도록 조정된 필터로서, 파장은 다룬 주파수로 추가 변조되는 필터와, 분리된 파장을 검출하기 위한 검출기를 포함한다. 장치는 여기 에너지를 변조하도록 조정된 마이컬슨 간섭계와 같은 간섭계를 더 포함할 수 있다. 또한, 본 명세서의 방법, 시스템 및 키트는 라만 분광 장치를 포함한다.
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公开(公告)号：KR1020060120165A
公开(公告)日：2006-11-24
申请号：KR1020067010382
申请日：2004-09-08
Applicant: 더 제너럴 하스피탈 코포레이션
Inventor： 윤석현 , 보우마,브레트,유진 , 티어니,길레모,주니어 , 보어,요한,피츠제럴드데
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: An apparatus and method are provided. In particular, at least one first electro-magnetic radiation may be provided to a sample and at least one second electro-magnetic radiation can be provided to a non-reflective reference. A frequency of the first and/or second radiations varies over time. An interference is detected between at least one third radiation associated with the first radiation and at least one fourth radiation associated with the second radiation. Alternatively, the first electro-magnetic radiation and/or second electro- magnetic radiation have a spectrum which changes over time. The spectrum may contain multiple frequencies at a particular time. In addition, it is possible to detect the interference signal between the third radiation and the fourth radiation in a first polarization state. Further, it may be preferable to detect a further interference signal between the third and fourth radiations in a second polarization state which is different from the first polarization state. The first and/or second electro- magnetic radiations may have a spectrum whose mean frequency changes substantially continuously over time at a tuning speed that is greater than 100 Tera Hertz per millisecond.
Abstract translation: 提供了一种装置和方法。 特别地，可以向样品提供至少一个第一电磁辐射，并且可以向非反射参考提供至少一个第二电磁辐射。 第一和/或第二辐射的频率随时间变化。 在与第一辐射相关联的至少一个第三辐射与与第二辐射相关联的至少一个第四辐射之间检测到干扰。 或者，第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的光谱。 频谱可以在特定时间包含多个频率。 此外，可以在第一偏振状态下检测第三辐射与第四辐射之间的干涉信号。 此外，可能优选在与第一偏振状态不同的第二偏振状态下检测第三和第四辐射之间的另外的干涉信号。 第一和/或第二电磁辐射可以具有频谱，其平均频率随着时间的推移基本上连续变化，其调谐速度大于每毫秒100Tera赫兹。
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公开(公告)号：KR100500802B1
公开(公告)日：2005-07-12
申请号：KR1019997006010
申请日：1997-12-31
Applicant: 엑손모빌 케미칼 패턴츠 인코포레이티드
IPC: G05D21/02
CPC classification number: G05D21/02 , C08F210/12 , C08F2400/02 , G01J3/28 , G01J3/453 , G01N21/3563 , G01N21/359 , G01N21/84 , G01N2021/3595 , G01N2021/8411 , G01N2201/129 , C08F2/00 , C08F236/08
Abstract: 본 발명의 할로부틸 고무의 제조를 위한 공정 플랜트는 온라인 모니터링 및 생성물의 물성을 제어하기 위한 공정 파라미터의 제어수단을 갖추고 있다. 이는 공정으로부터 어떠한 샘플 물질도 제거할 필요가 없는 동일계 측정 시스템을 도입한다. 본 발명은 푸리에 변환 근적외선(FTNIR) 분광계, 섬유-광 캐이블, 용액 점도 측정을 위한 점도측정계 및 온도 측정을 위한 저항 온도 장치(Resistance Temperature Device, RTD)를 사용한다. 구속된 주 스펙트럼 분석(Constrained Principal Spectral Analysis) 프로그램으로 중합체 생성물의 물성을 예상하고, 중합체 및 스펙트럼 측정치의 물성과 유동 점도 및 온도의 측정된 값 사이의 유도 관계를 사용하여 데이타를 분석하여 공정 제어 시스템을 제공한다. 생성물의 예상가와 목표값 사이의 차이를 사용하여 공정 파라미터를 제어한다. 이러한 방법은 다양한 화학 공정 플랜트에 사용할 수 있다.
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020010032012A
公开(公告)日：2001-04-16
申请号：KR1020007005127
申请日：1998-09-08
Applicant: 피엘엑스 인코포레이티드
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01J3/453 , G01B9/02051 , G01B2290/15 , G02B5/122 , G02B27/14
Abstract: 본발명에따르면, 모노리식구조체및 역반사장치/빔스프리터조합을가진개선된광학조립체(200)가제공된다. 제 1 및제 2 장착부재들과빔스프리터(130)에의해모노리식구조체내부로연결된상부및 하부판(260,270)이상기모노리식광학조립체에구성된다. 또한빔스프리터(130)와반사관계를형성하는제 1 반사조립체(150)가상기조립체에구성된다. 본발명의선택적실시예에의하여상기 6개의부품들을가진모노리식구조체가모노리식구조의공동구조를가진코너큐브역반사장치(400)로대체되고, 상기역반사장치판넬들중한 개는반사표면(420)이고, (제 1 판넬의반사표면에대해 45도각도에위치한) 또다른판넬이빔스프리터(410)이며, 또다른판넬은지지판넬(430)로서, 공동구조의코너큐브역반사장치(400)의구성을완성하기위해이용된다.
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公开(公告)号：TW201510504A
公开(公告)日：2015-03-16
申请号：TW103120622
申请日：2014-06-13
Applicant: 美國維吉尼亞大學專利基金會 , UNIVERSITY OF VIRGINIA PATENT FOUNDATION
Inventor： 派特 布魯克斯 哈特 , PATE, BROOKS HART , 史提柏 雅曼達 , STEBER, AMANDA , 哈瑞斯 彼特 , HARRIS, BRENT , 雷曼 凱文K , LEHMANN, KEVIN K.
IPC: G01N21/3504
CPC classification number: G01N22/00 , G01J3/453 , G01N21/3586
Abstract: 本文中之實例包含可用於對氣相樣本執行旋轉光譜之裝置及技術。此等技術可包含使用提供頻率合成及脈衝調變之一光譜儀，以提供一氣相樣本在毫米波頻率之激發(例如，泵激或探測脈衝)。此等毫米波頻率之合成可包含使用一倍頻器，諸如一主動倍增器鏈(AMC)。可自諸如經降頻及數位化之樣本獲得由該激發引起之一自由感應衰減(FID)或其他時域資訊。該經數位化之資訊之一頻域表示，諸如一傅立葉轉換表示，可用於提供一旋轉光譜。
Abstract in simplified Chinese: 本文中之实例包含可用于对气相样本运行旋转光谱之设备及技术。此等技术可包含使用提供频率合成及脉冲调制之一光谱仪，以提供一气相样本在毫米波频率之激发(例如，泵激或探测脉冲)。此等毫米波频率之合成可包含使用一倍频器，诸如一主动倍增器链(AMC)。可自诸如经降频及数码化之样本获得由该激发引起之一自由感应衰减(FID)或其他时域信息。该经数码化之信息之一频域表示，诸如一傅里叶转换表示，可用于提供一旋转光谱。
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公开(公告)号：TW440684B
公开(公告)日：2001-06-16
申请号：TW088120007
申请日：1999-11-17
Applicant: 日本酸素股份有限公司
IPC: G01J
Abstract: 一種光吸收光譜測定方法及其裝置，用以去除包含於信號中的雜訊，改進S/N比，並謀求高感度化的雷射分光。首先，將使用雷射光源所測定的吸收光譜作傅利葉轉換;緊接著，在傅利葉空間內，將經過傅利葉轉換後的信號裡引起週期振動的信號成份與引起分子吸收光譜的信號成份辨識出並分解開來;最後，在傅利葉空間內去除引起週期振動的信號成份，再將剩餘的訊號施行逆傅利葉轉換以重現實空間中的吸收光譜。
Abstract in simplified Chinese: 一种光吸收光谱测定方法及其设备，用以去除包含于信号中的噪声，改进S/N比，并谋求高感度化的激光分光。首先，将使用激光光源所测定的吸收光谱作傅利叶转换;紧接着，在傅利叶空间内，将经过傅利叶转换后的信号里引起周期振动的信号成份与引起分子吸收光谱的信号成份辨识出并分解开来;最后，在傅利叶空间内去除引起周期振动的信号成份，再将剩余的信号施行逆傅利叶转换以重现实空间中的吸收光谱。
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公开(公告)号：TW261663B
公开(公告)日：1995-11-01
申请号：TW084102307
申请日：1995-03-10
Applicant: 歐普西斯股份有限公司
Inventor： 凱傑.萊森
IPC: G01J
CPC classification number: G01J3/453
Abstract: 一種干涉計包含一分束器(BS)和兩個掃描鏡(M1，M2)，這些鏡係平行並放置在一共用滑動構件上，此滑動構件可以側向地位移者。此干涉計另包含兩個補償鏡(M3，M4)，此等鏡係放置在分束器(BS)和掃描鏡(M1，M2)之間。此分束器(BS)和每一補償鏡(M3，M4)係正交。
此干涉計為掃描鏡(M1，M2)之位移不準確有良好公差。
此干涉計亦可使用以產生一輕便和不昂貴之傳立葉轉換分光計。Abstract in simplified Chinese: 一种干涉计包含一分束器(BS)和两个扫描镜(M1，M2)，这些镜系平行并放置在一共享滑动构件上，此滑动构件可以侧向地位移者。此干涉计另包含两个补偿镜(M3，M4)，此等镜系放置在分束器(BS)和扫描镜(M1，M2)之间。此分束器(BS)和每一补偿镜(M3，M4)系正交。 此干涉计为扫描镜(M1，M2)之位移不准确有良好公差。 此干涉计亦可使用以产生一轻便和不昂贵之传立叶转换分光计。
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