Vorrichtung zum Erfassen und Erkennen von Objekten

    公开(公告)号:EP2083261A2

    公开(公告)日:2009-07-29

    申请号:EP08170085.8

    申请日:2008-11-27

    Inventor: Huber, Reinhold

    Abstract: Vorrichtung zum Erfassen und Erkennen von Objekten (5) eines Materialstromes, umfassend mindestens eine Kamera (1), welche Bilddaten der Objekte an eine Auswerteeinrichtung zwecks Ermittlung von Eigenschaften der Objekte (5) des Materialstromes wie Materialzusammensetzung, Farbe, Größe oder dergleichen übermittelt, sowie eine beliebige Anzahl vorzugsweise reihenförmig angeordneter Leucht-Dioden (4), welche einer Beleuchtung des Materialstromes dienen, wobei der Materialstrom mittels eines Förderelementes (3) transportiert und an einem Erfassungsbereich (12) der Kamera(s) vorbeigeführt wird und wobei zwischen den Leucht-Dioden (4) und dem vorzugsweise am Förderelement (3) lokalisierten Erfassungsbereich (12) eine optische Einrichtung (6) angeordnet ist, welche eine Diffusion des von den Leucht-Dioden (4) emittierten Lichtes bewirkt. Um eine möglichst gleichmäßige Beleuchtung des am Förderelement (3) lokalisierten Kamera-Erfassungsbereichs (12) zu ermöglichen und dadurch Fehldetektionen zu vermindern, ist es erfindungsgemäß vorgesehen, dass die optische Einrichtung (6) mindestens einen auf seinen Innenseiten (14c) verspiegelten Reflexionskanal (14) umfasst.

    Abstract translation: 该装置具有照相机(1),将物体的图像数据传送到评估装置,以确定材料流的物体的材料成分,颜色和尺寸等特征。 LED(4),例如 红色,绿色和蓝色LED和UV LED排列成一行以照亮流。 该流由输送机元件(3)输送并在相机的检测区域旁路。 在LED和该区域之间布置有光学装置(6),并引起来自LED的光的扩散。 装置(6)具有在其内侧反射涂覆的反射通道(14)。

    CAPILLARY FLOWCELL FOR MULTIPLE WAVELENGTH DETECTION
    113.
    发明授权
    CAPILLARY FLOWCELL FOR MULTIPLE WAVELENGTH DETECTION 失效
    毛细管流通池多波长的检测

    公开(公告)号:EP0615617B1

    公开(公告)日:2000-03-29

    申请号:EP93901388.4

    申请日:1992-12-03

    Inventor: SAPP, Edwin

    CPC classification number: G01N21/05 G01N2021/0346 G01N2201/0638

    Abstract: A capillary flowcell (12) includes an optical axis, the optical axis being defined by, in sequential order, (a) a first (entrance) aperture (14), (b) a first lens (26), (c) a capillary tube (16) having its long axis centered across the optical axis, and (d) a second lens (28). The first lens (26) focuses electromagnetic radiation from the entrance aperture (14), passes through the inner diameter of capillary tube (16) thus maximizing the signal generated by the analyte within the capillary tube (16). The second lens (28) focuses electromagnetic radiation which has passed through the capillary tube (16).

    Apparatus and a method for high numerical aperture microscopic examination of materials
    114.
    发明公开
    Apparatus and a method for high numerical aperture microscopic examination of materials 失效
    用于材料的高数值孔径显微镜检查的设备和方法

    公开(公告)号:EP0503236A3

    公开(公告)日:1995-07-05

    申请号:EP92100744.9

    申请日:1992-01-17

    Abstract: Apparatus and a method for performing high resolution optical imaging in the near infrared of internal features of semiconductor wafers (110) uses an optical device (112) made from a material having a high index of refraction and held in very close proximity to the wafer (110). The optical device (112) may either be a prism (130) or a plano-convex lens (112). The plano-convex lens (112) may be held in contact with the wafer (110) or separated from the wafer via an air bearing (112') or an optical coupling fluid (214) to allow the sample to be navigated beneath the lens (112). The lens (112) may be used in a number of optical instruments such as a bright field microscope, a Schlieren microscope, a dark field microscope, a Linnik interferometer, a Raman spectroscope and an absorption spectroscope.

    Abstract translation: 用于在半导体晶片(110)的内部特征的近红外中执行高分辨率光学成像的设备和方法使用由具有高折射率并保持在非常靠近晶片的材料制成的光学器件(112) 110)。 光学装置(112)可以是棱镜(130)或平凸透镜(112)。 平凸透镜(112)可以通过空气轴承(112')或光学耦合流体(214)保持与晶片(110)接触或与晶片分离,以允许样品在透镜下方 (112)。 透镜(112)可以用于诸如明场显微镜,Schlieren显微镜,暗场显微镜,Linnik干涉仪,拉曼分光镜和吸收分光镜等多种光学仪器中。

    신호 및 관류 인덱스 최적화를 위한 다수의 광 경로 아키텍처 및 차폐 방법
    116.
    发明公开
    신호 및 관류 인덱스 최적화를 위한 다수의 광 경로 아키텍처 및 차폐 방법 审中-实审
    信号和灌注指数优化的多路光路结构和屏蔽方法

    公开(公告)号:KR1020170104419A

    公开(公告)日:2017-09-15

    申请号:KR1020170112105

    申请日:2017-09-01

    Applicant: 애플 인크.

    Abstract: 혈류기능검사(PPG) 디바이스가개시된다. PPG 장치는사용자의 PPG 신호와관류인덱스를측정하기위한다수의광 경로를생성하기위해하나이상의광 이미터들과하나이상의광 센서들을포함할수 있다. 광이미터들과광 검출기들의각 쌍간의다수의광 경로들은다양한사용자들과다양한사용조건들을수용하기위해정확한 PPG 신호와관류인덱스값양쪽모두를생성하기위해상이한분리거리들을포함할수 있다. 일부예들에서, 다수의광 경로들은예를들어, 디바이스의기울임(tilt) 및/또는끌어당김(pull), 사용자의머리카락, 사용자의피부색소및/또는모션으로부터초래된아티팩트들로인한잡음상쇄를위해동일한분리거리들을포함할수 있다. PPG 디바이스는신호강도를증가시키고및/또는광학구성요소들및 관련배선이사용자의눈에보이는것을차폐하는하나이상의렌즈및/또는반사기들을더 포함할수 있다.

    Abstract translation: 公开了血流功能测试(PPG)装置。 PPG设备可以包括一个或多个光发射器和一个或多个光学传感器,以产生用于测量用户的PPG信号和灌注指数的多个光路。 每对光发射器和光检测器之间的多个光路可以包括不同的间隔距离以产生准确的PPG信号和灌注指数值以适应各种用户和各种使用条件。 在一些示例中,多个光路可以包括例如设备的倾斜和/或拉动,由于由用户的头发产生的伪影引起的噪声消除,用户的皮肤颜料和/ 可以包括相同的分隔距离。 PPG装置可以进一步包括一个或多个透镜和/或反射器,其增加信号强度和/或防止光学部件和相关的布线对用户可见。

    재질인식 조명 시스템 및 이를 이용한 재질인식 방법

    公开(公告)号:KR101739696B1

    公开(公告)日:2017-05-25

    申请号:KR1020160088759

    申请日:2016-07-13

    Applicant: 서장일

    Inventor: 서장일

    Abstract: 재질인식조명시스템은측정스테이지, 조사부, 수광부및 처리부를포함한다. 측정스테이지는상방으로오픈되어있고, 측정대상물이위치한다. 조사부는측정대상물에대하여입사광들을조사하되, 측정스테이지가오픈되어있는상방에서측정대상물에대해다수의방향들로부터방향별입사광들을측정대상물에조사하며, 복수의조명섹션들을포함한다. 수광부는조사부에의해조사된방향별입사광들에의한측정대상물의반사광들을획득한다. 처리부는수광부에서획득된방향별입사광들에의한측정대상물의반사광들로부터, 단일입사광에의한측정대상물의반사광들의방향별강도분포를획득하고, 반사광들의방향별강도분포로부터측정대상물의재질을판정한다. 이에따라, 보다저비용으로용이하고정확하게물체의재질을인식할수 있다.

    링 광 조명기 및 링 광 조명기를 위한 빔 성형기
    119.
    发明公开
    링 광 조명기 및 링 광 조명기를 위한 빔 성형기 有权
    环形光照明器和光束形状光圈照明器

    公开(公告)号:KR1020130059353A

    公开(公告)日:2013-06-05

    申请号:KR1020127030733

    申请日:2011-04-28

    Inventor: 힐앤디

    Abstract: 링모양으로 배열된 광원을 갖춘 링 광 조명기가 개시된다. 각 광원에 대해, 채광기(light collector), 광원으로부터의 광에 대한 균질화 수단(homogenizing means), 및 균질화 수단의 출력을 피조명 영역 내로 영상화(imaging)하기 위한 영상화 수단을 포함하는 빔 성형기가 대응한다. 실시예들의 균질화 수단은 막대(rod)이며, 이 막대 내로 채광기로부터의 광이 지향된다. 채광기 반대편의 막대의 단부(end)는 영상화 수단에 의해 피조명 영역 내로 영상화된다.

    Abstract translation: 公开了一种具有环形布置的光源的环形照明器。 对于每个光源,对应于包括光收集器的光束整形器,用于来自光源的光的均匀化装置和用于将均匀化装置的输出成像到待照射区域的成像装置。 在实施例中的均质装置是一个杆,来自光收集器的光被引向该杆。 与光收集器相对的杆的端部通过成像装置成像到要照明的区域中。

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