STABILISATION D'UNE BOUCLE DE REGULATION DE COURANT DE POLARISATION

    公开(公告)号:FR3063154A1

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:FR1751294

    申请日:2017-02-17

    Abstract: Le circuit intégré (CI) comprend un étage à réguler (REG1, REG2) apte à écouler un courant (IDC) et une boucle de régulation du courant (BCL1). La boucle de régulation (BCL1) comprend un amplificateur à transimpédance (AMP1) comportant un premier transistor (T2) et un deuxième transistor (T3) montés en grilles communes, configurés pour comparer le courant (IDC) passant dans l'étage à réguler (REG1, REG2) avec un courant de référence (IREF) et générer une tension de régulation sur un nœud de sortie (A) de l'amplificateur à transimpédance (AMP1). Le circuit intégré (CI) comprend un condensateur (C) connecté entre ledit nœud de sortie (A) et les grilles desdits premier et deuxième transistors (T2, T3).

    PROTECTION DE DONNEES POUR UNE MEMOIRE A AUTOTEST INTEGRE

    公开(公告)号:FR3047348B1

    公开(公告)日:2018-07-27

    申请号:FR1650856

    申请日:2016-02-03

    Abstract: L'invention concerne un procédé comprenant, en réponse à l'activation d'au moins un signal de commande (BIST CMD) requérant qu'un circuit de test (204) d'une matrice mémoire (202) déclenche un mode de test de la mémoire permettant la lecture d'au moins une partie de la matrice mémoire, le lancement par un circuit de commande de test (208) d'une séquence de sur-écriture pour sur-écrire les données stockées dans la matrice mémoire (202) ; et l'activation, grâce au circuit de commande de test (208), du mode de test de la mémoire une fois que la séquence de sur-écriture est achevée.

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