公开(公告)号：CN102269858A

公开(公告)日：2011-12-07

申请号：CN201010209754.X

申请日：2010-06-25

Applicant: 北京智朗芯光科技有限公司

Inventor： 李国光 ,  严晓浪 ,  马铁中 ,  艾迪格·基尼欧 ,  刘涛

IPC: G02B7/182 ,  G02B27/28 ,  G01B11/06 ,  G01N21/21 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明涉及一种自动聚焦系统和自动聚焦方法。该自动聚焦系统包括：聚光单元；和可移动的至少一个平面反射镜，其特征在于，来自聚光单元的会聚光束被所述至少一个平面反射镜反射后入射到样品上。该自动聚焦系统不产生色差、易于调整、且结构简单。使用本发明的自动聚焦系统不仅可以通过简单的操作进行自动聚焦，而且可以控制探测光束的偏振变化，即，可以保持任意偏振光的偏振特性。

公开(公告)号：CN102027344A

公开(公告)日：2011-04-20

申请号：CN200880128650.7

申请日：2008-02-15

Applicant: 科学技术设备委员会

Inventor： 达米安·魏德曼

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/08 ,  G01N21/39 ,  G01N21/27 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/08 ,  G01J3/427 ,  G01N21/276 ,  G01N21/3518 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/399

Abstract: 本发明提供了一种通过使不同频率的第一和第二激光束穿过样本、利用吸收光谱法来检测样本的同位素比的方法和装置。使用了两个IR吸收室，第一IR吸收室包含同位素比已知的参考气体，第二IR吸收室包含同位素比未知的样本。可以使用交错器或反射斩光器，使得当激光频率被扫描时，交替地检测样本室的吸收和参考室的吸收。这确保了连续地校准该装置并且在使用相敏检测时可以丢弃基线噪声。

公开(公告)号：CN102027342A

公开(公告)日：2011-04-20

申请号：CN200980117280.1

申请日：2009-05-07

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  笠原隆 ,  吉田杏奈

IPC: G01J3/18 ,  G02B7/00

CPC classification number: G01J3/0205 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G02B7/027 ,  H01L31/18

Abstract: 本发明提供一种高可靠性的分光模块。在本发明所涉及的分光模块(1)中，向分光部(4)行进的光L1在通过光通过孔(50)的时候，穿过朝着基板(2)侧变得越来越窄的光入射侧部(51)，只有入射到以与光入射侧部(51)的底面(51b)相对的形式形成的光出射侧部(52)的光从光出射开口(52a)出射。为此，入射到光入射侧部(51)的侧面(51c)或者底面(51b)的杂散光M被反射到与光出射侧部(52)相反的一侧，所以能够抑制杂散光入射到光出射侧部(52)。因此，能够提高分光模块(1)的可靠性。

公开(公告)号：CN101997054A

公开(公告)日：2011-03-30

申请号：CN201010267198.1

申请日：2010-08-24

Applicant: 夏普株式会社

Inventor： 夏秋和弘

IPC: H01L31/101

CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513 ,  H01L27/14621 ,  H01L27/14645

Abstract: 本发明提供一种半导体光电探测器元件和半导体装置，该半导体光电探测器元件的制造成本被降低且精度被提高。该半导体光电探测器元件包括：第一光电二极管，形成在P型硅基板中；第二光电二极管，形成在P型硅基板中并且具有与第一光电二极管相同的结构；由绿色滤色器形成在第一光电二极管上方的滤色器层；由黑色滤色器形成在第二光电二极管上方的滤色器层；以及运算电路部，将第二光电二极管的检测信号从第一光电二极管的检测信号减去。

公开(公告)号：CN101995399A

公开(公告)日：2011-03-30

申请号：CN201010255284.0

申请日：2010-08-13

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 军司昌秀

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/6467

Abstract: 本发明涉及荧光检测器，以改善样品浓度高时浓度和荧光强度之间关系的非线性，由此提高测量的动态范围。如果已知待测样品的浓度高，则使用在激励光(Lex)的通过方向上孔径(6b)短的光束限制单元(6)，使得仅从靠近激励光入射侧的区域发出的荧光被聚光透镜(7)会聚并导入荧光侧分光仪(4)且被检测。在这种情况下，因为从通过样品溶液(S)并且被样品溶液(S)强吸收的激励光之后的区域发出的荧光不反映在测量结果中，所以尽管荧光数量有所减小，但是浓度和荧光强度之间关系的线性得到改善，因而改善了在高浓度下的量化准确性。如果样品浓度低，则使用具有长度在激励光(Lex)的通过方向上长的孔径(6a)的光束限制单元(6)来改善灵敏度。

公开(公告)号：CN101970994A

公开(公告)日：2011-02-09

申请号：CN200980108904.3

申请日：2009-05-08

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己

IPC: G01J3/18 ,  G02B7/00

CPC classification number: G02B5/1861 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/18

Abstract: 本发明的分光器(1)是由分光部(3)对入射到封装体(2)内的光(L1)进行分光并反射，并由光检测元件(4)检测被反射的光(L2)的分光器；具备容纳光检测元件(4)的封装体(2)。封装体(2)具有半球状的凹部(10)，在凹部(10)的底面形成有沿着规定的方向排列多个光栅沟槽(14)的区域(12)和包围该区域(12)的区域(13)。区域(12)和区域(13)是连续的，并且被形成于同一曲面上。由此，即使在封装体(2)产生形变的情况下，也能够抑制产生于光栅沟槽(14)的位置偏移。

公开(公告)号：CN101922731A

公开(公告)日：2010-12-22

申请号：CN201010213472.7

申请日：2010-06-13

Applicant: 通用电气公司

Inventor： K·R·麦芒努斯 ,  L·B·小戴维斯

IPC: F23N5/08 ,  G01J3/443

CPC classification number: F23N1/022 ,  F23N5/082 ,  F23N2029/20 ,  F23N2041/20 ,  F23R2900/00013 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/36 ,  G01N21/72

Abstract: 本发明涉及用于燃烧控制的光学传感器，具体而言，本发明的特定实施例可包括用来提供用于燃烧控制的光学传感器的系统和方法。根据本发明的一个示例性实施例，提供一种用于控制与燃气涡轮机燃烧器(102)相关的燃烧参数的方法。该方法可包括在燃烧器(102)中的火焰区域(106)附近提供至少一个光路、检测来自该至少一个光路内的火焰区域(106)的光发射的至少一部分、以及部分地基于检测到的光发射控制燃烧参数中的至少一个。

公开(公告)号：CN101680804A

公开(公告)日：2010-03-24

申请号：CN200880010754.8

申请日：2008-04-03

Applicant: 武藤工业株式会社

Inventor： 克里斯·布朗 ,  布莱恩·T·普里德姆 ,  约翰·彼得·科茨

IPC: G01J3/45

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/50 ,  G01J3/501 ,  G01J2003/104

Abstract: 一种分光光度计，其包含布置成圆形阵列的多个LED，每一LED具有通过使用脉冲宽度调制来确定的经校准的功率输入，且每一LED具有通过利用唯一荧光磷光体涂层或透镜来确定的唯一波长带。所述LED中的至少一者包括无磷光体的高能量UV LED。通过利用线性可变滤光片和光电检测器将反射到所述分光光度计的光分成预定波长范围，其中通过使用自动距离修正增益技术将来自光电检测器的模拟信号转换为数字值。

公开(公告)号：CN101548162A

公开(公告)日：2009-09-30

申请号：CN200780032570.7

申请日：2007-07-20

Applicant: 特瑞恩股份有限公司

Inventor： R·博克斯泰尔 ,  B·卢伊塞特 ,  K·内森斯

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/1804 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18

Abstract: 本文描述了一种用于表征光学材料的光学表征系统。该系统通常包括衍射元件(104)、检测器(106)和光学元件(102)。光学元件(102)因此通常适于接收射束，该射束可以是材料的照射响应。光学元件(102)通常具有用于将射束折射地准直到衍射元件(104)上的折射面以及用于将经衍射的射束反射到检测器(106)上的反射面。光学元件(102)还适于与被放置在光学元件(102)同一侧的衍射元件(104)和检测器(106)协作，其中光学元件(102)的该侧与用于接收射束的接收侧相反。

公开(公告)号：CN101542251A

公开(公告)日：2009-09-23

申请号：CN200880000509.9

申请日：2008-06-05

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 柴山胜己 ,  铃木智史 ,  伊藤将师

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291

Abstract: 本发明涉及一种分光器(1)，其具备：封装体(2)，其设有导光部(7)；分光模块(3)，其收容于封装体(2)内；以及支撑构件(29)，其配置于封装体(2)的内壁面上，用于支撑分光模块(3)。分光模块(3)具有使从导光部(7)入射的光透过的本体部(11)，和在本体部(11)的规定的面侧将透过本体部(11)的光分光的分光部(13)；且在分光部(13)与内壁面离开的状态下，分光模块(3)在规定的面被支撑构件(29)支撑。