公开(公告)号：TWI377337B

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：TW097134718

申请日：2008-09-10

Applicant: 塞米西斯科股份有限公司

Inventor： 李淳鍾 ,  禹奉周

IPC: G01J

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/06

Abstract: 一種光譜儀。此光譜儀配置成使得作為光譜儀元件的偵測器與印刷電路板(printed circuit board，PCB)可進行角度調節以及來回往復移動，並且光纖分支成若干條線且設置於檢測目標之光學埠的前透明窗上。結果，可以廣泛地收集特定空間內產生之光學發射(optical emission)的光譜。因此，可以檢查未知材質的化學成分並且更精確地偵測已知材質或目標的結構、操作或環境特徵(內部溫度、壓力、磁強度(magnetic magnitude)等等)的詳情。

Abstract in simplified Chinese: 一种光谱仪。此光谱仪配置成使得作为光谱仪组件的侦测器与印刷电路板(printed circuit board，PCB)可进行角度调节以及来回往复移动，并且光纤分支成若干条线且设置于检测目标之光学端口的前透明窗上。结果，可以广泛地收集特定空间内产生之光学发射(optical emission)的光谱。因此，可以检查未知材质的化学成分并且更精确地侦测已知材质或目标的结构、操作或环境特征(内部温度、压力、磁强度(magnetic magnitude)等等)的详情。

公开(公告)号：TW203650B

公开(公告)日：1993-04-11

申请号：TW080103006

申请日：1991-04-17

Applicant: 休斯飛機公司

Inventor： 杜魯門 ,  施亦福

IPC: G01J ,  G01N

CPC classification number: G01J3/1838 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/2803 ,  G01N21/3504 ,  G01N2201/067

Abstract: 本發明係有關於一種用以分析出自紅外線光源之輻射的色散式全像分光計者。該全像分光計包括一個在一個面上有一全像透鏡，另一個面上有許多偵檢器，且在相對之二個面上有一對微分電極之壓電塊。出自光源而投射於全像透鏡上之幅射線被分散成各種分支波長且被導引朝向偵檢器行列。全像透鏡上記錄得有一個全像干擾圖型以使預定波長之分支幅射線被充分擴散而使特定波長之幅射線落在偵檢器行列中之特別的偵檢器元件上。藉著在電極上施加電壓即可於壓電塊內造成一個電場以使壓電塊收縮或膨脹。壓電塊內之此項變化使從全像透鏡到偵檢器行列之幅射線改變方向。所以，光源與全像透鏡間之失調可受到補償以致於調整壓電塊即可使各個波長之幅射線落於預期之偵檢器元件。此外，尚可將不同波長所發出之幅射線由此一偵測器元件導引至另一偵檢器元件上。該偵測器行列為自我掃瞄式，故而可在某一頻率範圍內將某一吸收光譜測量出來並記錄下來。

Abstract in simplified Chinese: 本发明系有关于一种用以分析出自红外线光源之辐射的色散式全像分光计者。该全像分光计包括一个在一个面上有一全像透镜，另一个面上有许多侦检器，且在相对之二个面上有一对微分电极之压电块。出自光源而投射于全像透镜上之幅射线被分散成各种分支波长且被导引朝向侦检器行列。全像透镜上记录得有一个全像干扰图型以使预定波长之分支幅射线被充分扩散而使特定波长之幅射线落在侦检器行列中之特别的侦检器组件上。借着在电极上施加电压即可于压电块内造成一个电场以使压电块收缩或膨胀。压电块内之此项变化使从全像透镜到侦检器行列之幅射线改变方向。所以，光源与全像透镜间之失调可受到补偿以致于调整压电块即可使各个波长之幅射线落于预期之侦检器组件。此外，尚可将不同波长所发出之幅射线由此一侦测器组件导引至另一侦检器组件上。该侦测器行列为自我扫瞄式，故而可在某一频率范围内将某一吸收光谱测量出来并记录下来。

公开(公告)号：KR101792775B1

公开(公告)日：2017-11-01

申请号：KR1020137012304

申请日：2011-10-13

Applicant: 알콘 렌즈엑스 인코포레이티드

Inventor： 라크시,페렌스

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01B9/02044 ,  G01B9/02091 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/453 ,  G02B26/0891

Abstract: 수신된광을스펙트럼으로분산하기위한스펙트럼분산광학요소(120), 스펙트럼분산광을조정가능하게편향하기위한레버리지드-옵틱스조정가능한편향기(142-1, 142-2, 142-3), 및스펙트럼분산되고조정가능하게편향된광을수신하기위한검출기어레이(160)를포함하는분광계가제공된다. 수신된광은스펙트럼영역광 간섭단층촬영기에서복귀이미지빔 및기준빔으로부터조합된간섭빔을포함할수 있다. 검출기어레이는선형센서어레이를포함할수 있다. 레버리지드-옵틱스조정가능편향기는조정가능한투과특성또는조정가능한반사특성을구비한광학요소를포함할수 있으며, 상기조정가능한편향기는더 작은광학조정으로광학적으로레버리지되는기계적조정에의해조정가능하다.

Abstract translation: 对所接收的光分散成谱光谱色散光学元件120，用于偏置德杠杆作用使光谱分布射线光学器件的调整可以调整而香味（142-1，142-2，142-3），和 提供了一种光谱仪，其包括用于接收光谱分散和可调节偏置光的探测器阵列（160）。 所接收的光可以包括来自光谱区域光学相干断层扫描中的返回图像光束和参考光束的组合干涉光束。 探测器阵列可以包括线性传感器阵列。 杠杆光学可调偏转器可以包括具有可调节的传输特性或可调节的反射特性的光学元件，可调偏转器可通过机械调节进行调节，光学倾斜与较小的光学调节。

公开(公告)号：KR1020170077026A

公开(公告)日：2017-07-05

申请号：KR1020160164305

申请日：2016-12-05

Applicant: 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤

Inventor： 오카모토소타 ,  사노히로유키

IPC: G02B21/00 ,  G02B21/12

CPC classification number: G02B21/244 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G02B21/06 ,  G02B21/361

Abstract: 소형화가능하고, 또한범용성을높인광학특성측정장치가제공된다. 광학특성측정장치는피측정물로부터의측정광을평행광으로변환하는제1 광학소자와, 제1 광학소자로부터의평행광을반사함으로써수렴광으로변환하는반사형렌즈와, 반사형렌즈로부터의수렴광을수광하는수광부와, 피측정물에대한제1 광학소자의상대위치를변화시키는구동기구를포함한다.

Abstract translation: 提供了一种可以小型化并具有改进的通用性的光学特性测量装置。 光学特性测量装置P和测量水robuteoui测量光转换成平行光，在反射镜的第一光学元件为robuteoui通过反射平行光会聚光转换所述第一光学元件，反射透镜robuteoui会聚光 以及用于改变第一光学元件相对于待测量对象的相对位置的驱动机构。

公开(公告)号：KR101649579B1

公开(公告)日：2016-08-19

申请号：KR1020107023463

申请日：2009-03-11

Applicant: 코닌클리케 필립스 엔.브이.

Inventor： 잭,마틴,제이.,제이. ,  반덴빅겔라르,데오도루스,제이.,피. ,  메이저,에두아르드,제이. ,  티머링,유진

IPC: G01J1/06 ,  G01J3/02 ,  G01J3/06 ,  G01J3/50 ,  G01J3/51 ,  G01J1/04 ,  G02B13/22

CPC classification number: G01J1/06 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0204 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/0448 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/06 ,  G01J3/505 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513 ,  G02B13/22 ,  G02B26/004

Abstract: 적어도하나의파장선택광 검출기(10), 렌즈(20) 및개구(30)를포함하는광 센서(1)가제안된다. 파장선택광 검출기는센서위에떨어지는미리정해진파장범위내의광을검출하는것을허용한다. 렌즈는광 검출기위에광을투영하고개구는광 센서의뷰의필드를한정한다. 광검출기(10), 렌즈(20), 및개구(30)는텔레센트릭구성으로배치된다. 바람직하게는, 이것은개구에입사하는광의방향과무관하게미리정해진각도들의범위내의광이파장선택광 검출기위에부딪히게하여, 파장선택광 검출기의각도의존응답을제거한다.

公开(公告)号：KR101415808B1

公开(公告)日：2014-07-04

申请号：KR1020110110552

申请日：2011-10-27

Applicant: 캐논 가부시끼가이샤

Inventor： 고바야시히사노리 ,  고모리신 ,  오바라미쯔히로

IPC: G01J3/46 ,  G01J3/18 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/502 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/04 ,  G01J3/20 ,  G01J3/28 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/50 ,  G01J2003/2866

Abstract: 분광 측색 장치는 측벽을 포함하는 하우징을 포함한다. 측벽의 외측 면은 리니어 센서를 조정면에 부착한 상태에서, 이동됨으로써 리니어 센서의 위치를 조정할 수 있는 조정면이다. 리니어 센서는 조정면에 맞닿은 상태에서 하우징의 측벽에 의해 지지되고, 오목면 반사형 회절 소자에 의해 분광되어 개구부를 통과하는 광속을 수광한다. 조정면은 오목면 반사형 회절 소자의 로우랜드 원 중 리니어 센서가 수광하는 광속이 통과하는 부분에 있어서의 접선과 평행한다.

公开(公告)号：KR1020120089350A

公开(公告)日：2012-08-09

申请号：KR1020127016577

申请日：2006-06-23

Applicant: 사이머 엘엘씨

Inventor： 라팍로버트제이.

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/51

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/28

Abstract: 레이저 입력으로부터 방출된 광의 스펙트럼의 대역폭을 측정하기 위한 대역폭 측정기 장치 및 방법으로서, 레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 나타내는 제1파라미터를 나타내는 제1출력 및 레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 나타내는 제2파라미터를 나타내는 제2출력을 제공하는 광 대역폭 모니터; 및 실제 대역폭 파라미터를 계산하기 위해, 광 대역폭 모니터에 특정의 미리계산된 교정 변수를 사용하는 다변수 방정식의 일부로서 제1출력 및 제2출력을 사용하는 대역폭 계산 장치를 포함하고, 다변수 방정식은 대칭 민감 항을 포함하는 레이저 입력으로부터 방출된 광의 스펙트럼의 대역폭을 측정하기 위한 대역폭 측정기 장치 및 방법이 개시된다.

公开(公告)号：KR1020120083264A

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：KR1020127000116

申请日：2010-06-04

Applicant: 코닌클리케 필립스 엔.브이.

Inventor： 고메츠리바스하이메 ,  지아니니빈센조 ,  베리어오드리안느-마리 ,  마이어슈테판알렉산더 ,  마터스-캄머러매리언 ,  트리포디로렌조

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/02 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/3563

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3581

Abstract: THz 주파수 범위에서 표면 플라스몬들을 나타내도록 적응된 표면을 갖는 반도체막(3)을 포함하는 THz 주파수 범위 안테나가 제공된다. 반도체막(3)의 표면은 THz 주파수 범위에서 국부화된 표면 플라스몬 공진들을 지원하도록 구성된 안테나 구조(4)에 구성된다.

公开(公告)号：KR1020100119840A

公开(公告)日：2010-11-11

申请号：KR1020097001351

申请日：2008-06-10

Applicant: 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤

Inventor： 시바야마가츠미 ,  요키노다카후미 ,  스즈키도모후미 ,  테이크만헬무트 ,  힐러디에트마르 ,  스탈케르울리치

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291

Abstract: 회절층(8)과 일체적으로 형성된 주연부(11)의 평면(11a)에 얼라이먼트 마크(12a, 12b, 12c, 12d)를 형성하고, 기판(2)에 렌즈부(7)를 실장할 때에, 이러한 얼라이먼트 마크(12a, 12b, 12c, 12d)를 기판(2)에 대해 위치 맞춤하는 것에 의해, 예를 들어 렌즈부(7)의 곡률 반경의 오차 등에 상관없이, 회절층(8)을 광검출 소자(4)의 광검출부(4a)에 대해 정확하게 얼라이먼트한다. 특히, 얼라이먼트 마크(12a, 12b, 12c, 12d)를 평면(11a)에 형성함으로써, 화상 인식에 의해 이 얼라이먼트 마크(12a, 12b, 12c, 12d)를 정확하게 위치 검출하고, 이에 따라 정확한 얼라이먼트를 가능하게 한다.

公开(公告)号：KR1020100053621A

公开(公告)日：2010-05-20

申请号：KR1020107005106

申请日：2008-08-21

Applicant: 가부시키가이샤 니콘

Inventor： 사토마사토시

IPC: G01J3/51

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/06 ,  G01J3/463 ,  G01J3/51

Abstract: 색분포측정용광학계(21, 32, 33)는결상광학계(21) 및등색함수필터(32)를통해측정대상물의이미지를생성한다. 상기등색함수필터(32)는광학다층막필터이며, 상기등색함수필터(32)의배치각도는틸트각변경장치(322)에의해결상광학계(21)의광축 Ox에대하여결상광학계(21)의개구수에따라변경할수 있다. 광학다층막필터를사용하면서도여러가지의결상광학계를사용가능하게된다.

Abstract translation: 颜色分布测量光学系统（21,32,33）经由成像光学系统（21）和色彩匹配功能滤波器（32）产生待测物体的图像。 色彩匹配功能滤光器（32）是光学多层膜滤光器，并且可以相对于成像光学系统（21）的光轴（Ox）改变配色功能滤光器（32）的配置角度 通过倾斜角度改变装置（322）到成像光学系统（21）的数值孔径。 即使使用光学多层过滤器，也可以使用各种成像光学系统。