Abstract:
레이저 입력으로부터 방출된 광의 스펙트럼의 대역폭을 측정하기 위한 대역폭 측정기 장치 및 방법으로서, 레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 나타내는 제1파라미터를 나타내는 제1출력 및 레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 나타내는 제2파라미터를 나타내는 제2출력을 제공하는 광 대역폭 모니터; 및 실제 대역폭 파라미터를 계산하기 위해, 광 대역폭 모니터에 특정의 미리계산된 교정 변수를 사용하는 다변수 방정식의 일부로서 제1출력 및 제2출력을 사용하는 대역폭 계산 장치를 포함하고, 다변수 방정식은 대칭 민감 항을 포함하는 레이저 입력으로부터 방출된 광의 스펙트럼의 대역폭을 측정하기 위한 대역폭 측정기 장치 및 방법이 개시된다.
Abstract:
레이저는 전극 및 레이저 빔을 산출하기 위해 전극 사이에 이득 매체를 구비한 방전 챔버; 부분-반사 광학 커플러; 및 레이저 빔의 경로에서의 빔 변조 광학 시스템을 포함하는 재생 링 공진기를 포함한다. 빔 변조 광학 시스템은 레이저 빔의 프로파일을 횡단으로 확장하여 인접 필드 레이저 빔 프로파일이 레이저 내의 각각의 어퍼처를 균일하게 채우고, 재생 링 공진기는 재생 링 공진기 내의 광학 엘리먼트에서 열렌즈를 유도하는 파워에서 레이저를 동작시킬때 조건에 따라 안정적이거나 미세하게 불안정한 상태를 유지하도록 한다.
Abstract:
레이저 입력으로부터 방출된 광의 스펙트럼의 대역폭을 측정하기 위한 대역폭 측정기 장치 및 방법으로서, 레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 나타내는 제1파라미터를 나타내는 제1출력 및 레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 나타내는 제2파라미터를 나타내는 제2출력을 제공하는 광 대역폭 모니터; 및 실제 대역폭 파라미터를 계산하기 위해, 광 대역폭 모니터에 특정의 미리계산된 교정 변수를 사용하는 다변수 방정식의 일부로서 제1출력 및 제2출력을 사용하는 대역폭 계산 장치를 포함하고, 다변수 방정식은 대칭 민감 항을 포함하는 레이저 입력으로부터 방출된 광의 스펙트럼의 대역폭을 측정하기 위한 대역폭 측정기 장치 및 방법이 개시된다. 레이저 입력, 대역폭 측정기, 스펙트럼 대역폭, 제1파라미터, 제1출력, 제2파라미터, 제2출력, 광 대역폭 모니터, 다변수 방정식, 실제 대역폭 계산 장치, 대칭성 민감 항.
Abstract:
An apparatus (10) and method for controlling a laser System (12) is disclosed with a spectrometer (24, 30) having an optical bandwidth measuring unit (24) such as an etalon. The optical bandwidth measuring unit (24) outputs a measured parameter (32) and a reported parameter (36) is calculated by: Reported Parameter (" RP") = A * (Measured Parameter ("MP")) + C where A and C are determined based upon calibration of the optical bandwidth measuring unit (24) MP response for light of known valued of RP.
Abstract translation:公开了一种用于控制激光系统(12)的装置(10)和方法,具有具有诸如标准具的光学带宽测量单元(24)的光谱仪(24,30)。 光带宽测量单元(24)输出测量参数(32),报告参数(36)通过以下方式计算:报告参数(“RP”)= A *(测量参数(“MP”))+ C其中A和 C基于光学带宽测量单元(24)的校准确定了对已知值RP的光的MP响应。
Abstract:
광빔의 스펙트럼 속성을 제어하는 방법은, 광빔을 웨이퍼 상에 패턴을 생성하도록 구성된 리소그래피 노출 장치로 지향시키는 단계; 상기 광빔의 스펙트럼 속성을 나타내는 정보를 수신하는 단계; 상기 리소그래피 노출 장치의 광학 이미징 조건을 나타내는 정보를 수신하는 단계; 상기 수신된 스펙트럼 속성 정보와 상기 수신된 광학 이미징 조건 정보에 기초하여 상기 광빔의 특성 값을 추정하는 단계; 상기 추정된 광빔 특성 값이 타겟 광빔의 특성 값과 매칭하는지를 판정하는 단계; 및 상기 추정된 광빔 특성 값이 상기 타겟 광빔 특성 값과 매칭하지 않는것으로 판정되면, 상기 광빔의 상기 스펙트럼 속성을 조정하는 단계;를 포함한다.
Abstract:
레이저로부터 방출된 광의 대역폭을 측정하기 위한 방법 및 장치는, 제1 및 제2 대역폭 검출기에 의해 각각 측정된 바와 같은 방출된 광의 대역폭을 지시하는 제1 파라미터를 표현하는 출력을 각각 제공하는 제1 및 제2 파장 센시티브 광 대역폭 검출기, 및 제1 실제 대역폭 파라미터 및 제2 실-제 대역폭 파라미터를 계산하기 위해, 제1 또는 제2 대역폭 검출기에 특정한 소정 교정 변수를 이용하는 다중변수 선형 등식의 일부분으로서 상기 두 출력을 이용하도록 응용된 실제 대역폭 계산 장치를 포함한다. 제1 실제 대역폭 파라미터는 최대치의 일정한 백분율에서 스펙트럼 전체 폭("FWXM"; full width at some percent of the maximum)일 수 있고 제2 실제 대역폭 파라미터는 에너지의 일정한 백분율("EX";some percentage of the energy)을 포함하는 부분일 수 있다. 제1 및 제2 대역폭 검출기는 에탈론일 수 있고 출력은 FWXM에서 각각의 에탈론의 광학 출력의 프린지의 프린지 출력을 나타낼 수 있다. 미리계산된 교정 변수는 제1 및 제2 실제 대역폭 파라미터의 공지된 값으로 입력 광을 교정하는 것에 관한 검출기 출력을 각각, 나타내는 각각의 3차원 플롯으로부터 유도될 수 있다. 대역폭 측정기, 교정, 에탈론, 스펙트럼, 레이저,
Abstract:
A bandwidth meter apparatus and method for measuring the bandwidth of a spectrum of light emitted from a laser input to the bandwidth meter is disclosed which may comprise an optical bandwidth monitor providing a first output representative of a first parameter which is indicative of the bandwidth of the light emitted from the laser and a second output representative of a second parameter which is indicative of the bandwidth of the light emitted from the laser; and, an actual bandwidth calculation apparatus utilizing the first output and the second output as part of a multivariable equation employing predetermined calibration variables specific to the optical bandwidth monitor, to calculate an actual bandwidth parameter; the multivariable equation comprising a symmetry sensitive term.
Abstract:
빔 경로 및 상기 빔 경로내의 빔 호모제나이저를 포함할 수 있는, 유틸라이징 툴로의 광 소스로서 전달하기 위한, 출력 레이저 광 펄스를 포함하는 출력 레이저 빔을 가스 방전 레이저에 의해 생성하기 위한 방법 및 장치가 개시되어 있다. 공간 코히어런스 셀 포지션 시프터를 포함할 수 있는 상기 빔 호모제나이저는 적어도 하나의 빔 이미지 인버터 또는 공간 회전기를 포함할 수 있다. 상기 빔 호모제나이저는 상기 소스 빔의 템포럴 코히어런스 길이보다 길지만 대략 동일한 지연을 갖는 지연 경로를 포함할 수 있다. 이 호모제나이저는 각각의 결합된 표면에 부분 반사 코팅을 갖고 있는 한 쌍의 결합된 도브 프리즘, 상기 소스 빔과 마주하는 빗변면 및 전반사 인접 측면을 포함하는 직삼각형 프리즘, 또는 상기 소스 빔과 마주하는 면 및 전반사 인접 측면을 갖고 있는 이등변 삼각형 프리즘 또는 이들의 조합을 포함할 수 있고, 상기 호모제나이저는 소스 빔 멀티플 교번 반전된 이미지 생성 메커니즘으로서 기능할 수 있다. 상기 빔 경로는 수십 펨토미터내의 정확도로 500 펨토미터 미만의 범위내의 출력 레이저 광을 포함하는 출력 레이저 빔의 대역폭을 측정하는 대역폭 검출기의 일부일 수 있다. 상기 호모제나이저는 에칭될 수 있는 그라운드 글라스 확산기일 수 있는 회전 확산기를 포함할 수 있다. 또한, 파장계는 상기 확산된 광을 콜리메이팅하는 빔 경로내의 콜리메이터; 공초점 에탈론에 입사되는 상기 콜리메이팅된 광에 기초한 출력을 생성하는 공초점 에탈론; 및 상기 공초점 에탈론의 출력을 검출하는 검출기를 포함할 수 있고, 또한 상기 공초점 에 탈론에 걸쳐 상기 콜리메이팅된 광을 스캐닝할 수 있거나 상기 콜리메이팅된 광에 걸쳐 상기 에탈론을 스캐닝할 수 있는 상기 공초점 에탈론에 입사되는 상기 콜리메이팅된 광의 입사각을 스캐닝하는 스캐닝 메커니즘을 포함할 수 있고, 음향 광학 스캐너를 포함할 수 있다. 상기 공초점 에탈론은 측정되는 입력 소스 스펙트럼의 대략 E95 폭인 자유 스펙트럼 범위를 가질 수 있다. 검출기는 상기 공초점 에탈론의 출력의 강도 패턴을 검출하는 포토멀티플라이어를 포함할 수 있다. 빔 경로, 빔 호모제나이저, 빔 이미지 인버터, 공간 회전기, 코히어런스, 소스 빔, 회전 확산기, 대역폭 검출기, 공초점 에탈론