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公开(公告)号:CN102066908A
公开(公告)日:2011-05-18
申请号:CN200980122849.3
申请日:2009-06-12
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: M.B.范德马克
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B5/0059 , G01J3/02 , G01J3/0229 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/42 , G01N21/49
Abstract: 提供了一种用于光学检查混浊介质的内部的方法。该方法包括下述步骤:提供宽带光(2);空间上分离包含在所述宽带光中的多个波段(2a,2b,…,2n);分别调制所述多个波段(2a,2b,…,2n);将多个经调制的波段重组为频谱编码的宽带光束(11);使用所述频谱编码的宽带光束(11)照射混浊介质(8);使用检测器(9)检测从混浊介质(8)发出的光以及使用解调器(10)解调被检测光以提供光谱信息。
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公开(公告)号:CN100485455C
公开(公告)日:2009-05-06
申请号:CN200580028922.2
申请日:2005-08-24
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G02B27/64
CPC classification number: G01J3/02 , G01J1/4228 , G01J3/0229 , G01J3/0289
Abstract: 本发明提供一种光谱系统以及光谱系统的自治调整方法和相应的计算机程序产品。通过检测反射辐射在光谱分析单元的孔径的横平面中的位置,可以产生控制信号,其允许驱动光学元件的伺服驱动平移或倾斜台。以该方式,光谱系统的横向未对准可以进行有效地检测。通常,多个不同的检测方案可以实现,其允许自治调整光谱系统以及自治消除光谱系统的未对准。
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公开(公告)号:CN101365935A
公开(公告)日:2009-02-11
申请号:CN200680037628.2
申请日:2006-08-17
Applicant: 格路寇斯特斯国际私人有限公司
IPC: G01N21/35 , G01N21/00 , A61B5/1455 , G01N33/49
CPC classification number: G01J3/108 , A61B5/14532 , A61B5/1455 , G01J3/02 , G01J3/0229 , G01J3/0232 , G01J3/0235
Abstract: 本发明涉及一种用于选择波长的装置,其包括:用于提供多个波长的波长源、用于允许从所述波长源中选择所希望波长的波长选择器,以及用于检测所选择波长以供随后使用的波长检测器。
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公开(公告)号:CN101308156A
公开(公告)日:2008-11-19
申请号:CN200810099052.3
申请日:2008-05-15
Applicant: 株式会社日立高新技术
Inventor: 足立作一郎
CPC classification number: G01N21/253 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/0262 , G01J3/04 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01N21/13 , G01N21/255 , G01N2021/0325 , G01N2021/115 , G01N2021/3155 , G01N2201/0415 , G01N2201/0446 , G01N2201/0453 , G01N2201/0618
Abstract: 本发明涉及分析装置。本发明要解决的问题是:照入角度越大,虽然光量增大从而保证了分析精度,但在伴有散射光的分析中却容易照入散射光,导致能测定浓度的动态范围变窄。本发明的分析装置在由分光部进行分光之后,对各波长改变所接收的光的照入角度,对光量少的波长的光加大照入角度,光量增大,对于在伴有散射光的分析中所使用的波长的光则减小照入角度。这样,在使光量增大、维持分析精度的同时,还可以在伴有散射光的分析中提高能测定浓度的动态范围。
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公开(公告)号:CN100345013C
公开(公告)日:2007-10-24
申请号:CN200510119553.X
申请日:2005-11-18
CPC classification number: G02B6/4215 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/1895 , G02B6/2852 , G02B6/29323
Abstract: 本发明的一般(或广泛、广义)特征是一个光学装置,该装置中有一个光波导,该光波导中有一个倾斜光栅使得至少部分光从导模耦合入一个或多个辐射光束。倾斜光栅辐射出的光被聚焦成中间像平面上预定位置的中间像,中间像的位置取决于光波长以及光所耦合出的导模的有效折射率。本发明可以在中间像平面上放置一个空间光调制器用以控制光束的相位和(或)幅度。更为显著的是,本发明还包含了一个末级聚焦器件用以将从空间光调制器透过的光聚焦成局部区域内的末级像,从而使得光强提高,也就提高了探测的灵敏度,该末级聚焦器件可以是一个透镜。该发明还包含了一个光接收器,该光接收器可以是光纤或光探测器或用以探测末级像的光探测器阵列。
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公开(公告)号:CN1918465A
公开(公告)日:2007-02-21
申请号:CN200580004638.1
申请日:2005-02-09
Applicant: 医学技术股份公司
Inventor: 帕特里克·林德
IPC: G01N21/31 , A61B5/00 , G01N21/47 , G01N33/487 , G01N22/00
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/04 , G01J3/14 , G01J3/2823 , G02B5/045 , G02B5/20
Abstract: 本发明涉及一种用于确定介质(10)中的临床和/或化学参数(S1)的方法,其中设置了用于发出相干光波(6)的装置(2),例如激光器单元,以及用于接收光波(8)的装置(4),例如光电晶体管单元。其中所发出的光波(6)中的至少一部分被射入到所述介质(10)中,并且用于接收光波(8)的装置(4)对在介质(10)中反射的光波(8)的至少一部分进行测量,其中基于所发出和所接收的光波(6;8)的特性来确定所述参数(S1)。其中通过一个激光器单元(2)向介质(10)中发出光波(6),并通过一个光电晶体管单元(4)对在介质(10)中反射的光波(8)进行测量,从而可以具有优点地在一个处理或控制单元中确定激光射线目标范围内的参数(S1)。
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公开(公告)号:CN1869747A
公开(公告)日:2006-11-29
申请号:CN200510119553.X
申请日:2005-11-18
CPC classification number: G02B6/4215 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/1895 , G02B6/2852 , G02B6/29323
Abstract: 本发明的一般(或广泛、广义)特征是一个光学装置,该装置中有一个光波导,该光波导中有一个倾斜光栅使得至少部分光从导模耦合入一个或多个辐射光束。倾斜光栅辐射出的光被聚焦成中间像平面上预定位置的中间像,中间像的位置取决于光波长以及光所耦合出的导模的有效折射率。本发明可以在中间像平面上放置一个空间光调制器用以控制光束的相位和(或)幅度。更为显著的是,本发明还包含了一个末级聚焦器件用以将从空间光调制器透过的光聚焦成局部区域内的末级像,从而使得光强提高,也就提高了探测的灵敏度,该末级聚焦器件可以是一个透镜。该发明还包含了一个光接收器,该光接收器可以是光纤或光探测器或用以探测末级像的光探测器阵列。
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公开(公告)号:CN1224829C
公开(公告)日:2005-10-26
申请号:CN01816801.9
申请日:2001-10-03
Applicant: 安格盛光电科技公司
Inventor: 约翰·V·桑杜斯基
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0229 , G01N21/47 , G01N2021/214
Abstract: 本发明提供一种利用由可变照射或观测数值孔径或二者产生的入射角的测量结果用于样品微分数值孔径分析的方法和装置。其中所述装置包括:产生光束的光源;可变照射数值孔径部件,其在数值孔径范围内变化的同时获得用于确定参数的数据,改变数值孔径从而改变投射到样品上照射线的角度范围;可变观测数值孔径部件,其在数值孔径范围内变化的同时获得用于确定参数的数据,改变数值孔径从而改变接收来自样品的散射线的角度范围;以及第一检测系统,其定位成接收和表征通过可变观测数值孔径部件接收的光线。本发明提供的装置和方法能利用最少的活动件,通过可变数值孔径或者孔径在变化的投射或散射角度范围对样品的临界尺寸进行分析。
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公开(公告)号:CN1471636A
公开(公告)日:2004-01-28
申请号:CN01818131.7
申请日:2001-08-09
Applicant: 应用色彩系统公司
CPC classification number: G01J3/02 , G01J1/06 , G01J3/0229 , G01J3/0289 , G01J3/465 , G01J3/51 , G01J3/513
Abstract: 一种可以校准彩色监视器的色度计,其设有光电检测器(38)和光学滤波器对(50)的光度计阵列。滤波器包括全通、边缘滤波器,其覆盖了可见光谱上端的重叠区域,还包括覆盖了全部可见光谱的滤波器。光电检测器的输出被数字合成,以提供精确模拟由Commission Internationable de I’Eclairage(CIE)xyz(线条)函数所建立的响应。被模拟的响应由CIE配色函数表示。对和相关元件安装在固定于壳体内的印刷电路板(32)上,电路板具有孔的阵列,其在确定了发出光线的表面的在角度上限定的视场。
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140.
公开(公告)号:NL2011868C
公开(公告)日:2015-06-01
申请号:NL2011868
申请日:2013-11-29
Applicant: UNIV DELFT TECH
CPC classification number: G01J3/0213 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G01J3/0259 , G01J3/18 , G01J3/4532 , G01J2003/1273 , G01J2003/1828
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