分光器
    131.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104541138A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201380042087.2

    申请日:2013-07-29

    Abstract: 分光器(1A)具备具有底座(4)和盖体(5)的封装体(2)、配置在底座(4)上的光学单元(10A)、以及贯通底座(4)的引线接脚(3)。光学单元(10A)具有对从盖体(5)的光入射部(6)入射的光进行分光并且反射的分光部(21)、检测由分光部(21)分光并且反射的光的光检测元件(30)、以在与分光部(21)之间形成有空间的方式支撑光检测元件(30)的支撑体(40)、从支撑体(40)突出的突出部(11)、以及与光检测元件(30)电连接的配线。突出部(11)配置在接触于底座(4)的位置。引线接脚(3)电连接于配置在突出部(11)的配线的第2端子部。

    适用于光谱仪的狭缝座模块与光谱仪

    公开(公告)号:CN102869962B

    公开(公告)日:2014-05-07

    申请号:CN201080064500.1

    申请日:2010-04-28

    Inventor: 柯正浩

    CPC classification number: G01J3/04 G01J3/02 G01J3/0256 G01J3/1804

    Abstract: 一种适用于光谱仪(200)的狭缝座模块(100),包括底板(110)、狭缝座(120)、狭缝片(130)、固定装置(140)和球状物(150)。狭缝座(120)设置在底板(110)上。狭缝片(130)具有一狭缝(131),狭缝片(130)固定到狭缝座(120)上,以使光线可以穿越狭缝(131)。球状物(150)设置在狭缝座(120)与固定装置(140)之间,并且球状物(150)与狭缝座(120)具有接触点(151),外力通过固定装置(140)施加在球状物(150)上,从而使狭缝座(120)固定在底板(110)上。还提供了一种包括该狭缝座模块(100)的光谱仪(200)。

    晶片级光谱仪
    136.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103703348A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201280036758.X

    申请日:2012-06-12

    Abstract: 本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备,所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调,提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解:其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。

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