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    Method and apparatus for eliminating and compensating thermal transients in gas analyzer
    131.
    发明公开
    Method and apparatus for eliminating and compensating thermal transients in gas analyzer 审中-公开
    用于在气体分析仪消除和平衡的热补偿电流的方法和装置

    公开(公告)号：EP1605252A2

    公开(公告)日：2005-12-14

    申请号：EP05104641.5

    申请日：2005-05-31

    Applicant: GENERAL ELECTRIC COMPANY

    Inventor： WECKSTRÖM, Kurt Peter ,  HIETALA, Mika ,  HAVERI, Heikki

    IPC: G01N21/35

    CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01N21/274 ,  G01N21/61 ,  G01N2201/023 ,  G01N2201/1211 ,  G01N2201/12792

    Abstract: The invention concerns a gas analyzer comprising: a measuring volume (2), a radiation source (1) for providing a beam to pass said measuring volume; a heat sink (16) for said radiation source; at least one thermal detector (3) having a hot junction within a support structure and receiving the radiation and a cold junction for reference within the same support structure and protected from said radiation; at least one optical bandpass filter (9) between said hot junction and said radiation source; and a thermal mass (11), which is formed of a material having high thermal conductance. The thermal mass has a cavity with a bottom step (34) and a rim (32), and a first length therebetween. The support structure has a frontal edge (35) and a base plate lip (33), and a second length therebetween. There is a radial gap between the thermal mass and the support structure. Press means urge said support structure in the cavity, whereupon a more efficient thermal contact is either between said frontal edge and said bottom step, or between said base plate lip and said rim. A first thermal barrier (17) is between the heat sink and the thermal mass, and a second thermal barrier (22) surrounds the thermal mass. A shield (19) formed of a material having high thermal conductance covers said second thermal barrier and is in thermal contact with said heat sink.

    Abstract translation: 本发明涉及一种气体分析器，包括：一个测量体积（2），用于提供光束的辐射源（1）通过所述测量体积; 散热器（16），用于所述辐射源; 至少一个热检测器（3），其具有支撑结构内的热接点和接收辐射和冷接点对于相同的支承结构内的参考和来自所述辐射的保护; 所述热结之间的至少一个光学带通滤波器（9）和所述辐射源; 和其上形成具有高导热性的材料制成的热质量（11），全部。 热质量具有带底部的步骤（34）和轮辋（32）之间的第一长度有一个空腔。 所述支撑结构具有前边缘（35）和一个底板唇缘（33）之间，并且第二长度那里。 有热质量和支撑结构之间的径向间隙。 加压装置推动所述支撑结构中的空腔中，其中一旦一个更有效的热接触是要么所述前边缘和所述底部步骤之间，或在所述基板唇和所述边缘。 第一热障（17）是所述散热器和热质量，以及第二热障（22）围绕所述热质量之间。 形成具有高导热性的材料制成的屏蔽（19），覆盖所述第二热障，并与所述热沉热接触。

    Interferometer apparatus and method of operation
    136.
    发明专利
    Interferometer apparatus and method of operation 有权

    公开(公告)号：JP2011504234A

    公开(公告)日：2011-02-03

    申请号：JP2010534377

    申请日：2008-10-01

    Applicant: ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲーエムベーハー

    Inventor： ホルツアプフェル，ヴォルフガング

    IPC: G01B9/02 ,  G01B11/00

    CPC classification number: G01B9/0207 ,  G01B9/02027 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/60 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/3554 ,  G01N2201/023

    Abstract: 本発明は、干渉計装置及びその作動方法に関するものである。 干渉計装置は干渉計を備え、該干渉計は、干渉計光源から放出された光線が測定アーム及び基準アームに分割可能である。 測定体は測定アーム内に配置され且つ干渉計は測定体の位置の関数である干渉計信号を提供する。 測定アーム及び基準アームの少なくともいずれか内の空気の屈折率の変動を測定するための測定手段が設けられている。 測定手段は、分光計ユニットを含む。 分光計ユニットは少なくとも１つの分光計光源並びに少なくとも１つの分光計検出ユニットを有する。 分光計光源から放出された光線束が干渉計光源の光線束に重ね合わされ、分光計光源は、少なくとも１つの特定の空気成分の吸収線の範囲内に存在する波長を有する光線を放出する。 分光計検出ユニットは、測定アーム及び基準アームの少なくともいずれか内における分光計光源波長に関する空気成分の吸収を表わす分光計信号を発生するように機能する。

    光分析システム、及び光分析方法
    137.
    发明专利
    光分析システム、及び光分析方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018096891A

    公开(公告)日：2018-06-21

    申请号：JP2016242988

    申请日：2016-12-15

    Applicant: 株式会社日立製作所

    Inventor： 神林 琢也 ,  谷口 伸一 ,  野島 彰紘 ,  加賀 祐介

    IPC: G01N21/03 ,  G01N21/27

    CPC classification number: G01N21/534 ,  G01N21/01 ,  G01N21/1717 ,  G01N2021/1729 ,  G01N2201/023

    Abstract: 【課題】懸濁した試料の成分を光学的に分析する。 【解決手段】液体状の試料に光を照射し、前記試料を透過した透過光を用いて前記試料の成分を分析する光分析システムは、前記試料を収容する容器と、前記試料を励振させるための超音波を照射する超音波照射部とを備える。前記容器は、前記試料を隔てて配置されかつ光透過性を有する一対の光透過壁部を含み、一方の前記光透過壁部と他方の前記光透過壁部とは、前記超音波の波長よりも短い距離で離間して配置される。 【選択図】図1

    二酸化塩素ガスの濃度測定装置
    138.
    发明专利
    二酸化塩素ガスの濃度測定装置 有权
    二氧化氯气体密度测量装置

    公开(公告)号：JP2016099272A

    公开(公告)日：2016-05-30

    申请号：JP2014237529

    申请日：2014-11-25

    Applicant: 滝本技研工業株式会社 ,  株式会社シー・エス・デー

    Inventor： 滝本 正照 ,  堀田 勝二

    IPC: G01N21/33

    CPC classification number: G01N21/33 ,  G01N21/61 ,  G01N21/85 ,  G01N33/0036 ,  G01N2021/151 ,  G01N2021/158 ,  G01N2021/8578 ,  G01N2201/023

    Abstract: 【課題】発光ダイオードの熱変化や経年変化による発光率変化の修正を、受光部での二酸化塩素ガスの光吸収率に常に加えることにより、正確な二酸化塩素ガス濃度の連続した測定を行うことのできる二酸化塩素ガス濃度検出装置を提供すること。 【解決手段】光の通過を許容する一対の透明体13に囲まれて、密閉空間R内外の資料気体または新鮮空気が給送されてから排出される測定通路11と、その近傍に配置されて密閉空間R内の資料気体は入れられることのない比較通路12とを有する本体10と、 測定通路11及び比較通路12の一端部にそれぞれ取り付けられて、同一特性で紫外線域の光を発光させる第1発光ダイオード21及び第2発光ダイオード22と、 これらの第1発光ダイオード21及び第2発光ダイオード22からの光をそれぞれ受けて、その光量を検出する第1受光器31及び第2受光器32と、を備えたこと。 【選択図】図3

    Abstract translation: 要解决的问题：为了提供一种能够精确地连续测量二氧化氯气体密度的二氧化氯 - 气体密度检测装置，通过增加由发热二极管的热变化和长期变形引起的排放速率变化的校正 达到所有接收部分中二氧化氯气体的吸光率。解决方案：二氧化氯 - 气体密度检测装置包括：主体10，包括测量路径11，测量路径11被一对透明的 允许光通过的主体13被供给密封空间R内部和外部的样品气体或新鲜空气，然后排出;以及比较路径12，其布置在测量路径11附近，样品 密封空间R中的气体从不供应; 分别安装在测量路径11的一端和比较路径12的一端的第一发光二极管21和第二发光二极管22发射具有相同特性的紫外线区域的光; 以及第一光接收器31和第二光接收器32，用于分别接收来自第一发光二极管21和第二发光二极管22的光以检测光量。选择图：图3

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