公开(公告)号：JP2018040914A

公开(公告)日：2018-03-15

申请号：JP2016174199

申请日：2016-09-07

Applicant: ウシオ電機株式会社

Inventor： 高木 亮平 ,  蕪木 清幸

IPC: G01N21/01 ,  F21S2/00 ,  F21V5/04 ,  F21V7/24 ,  F21V7/26 ,  F21V7/28 ,  F21V7/30 ,  F21V7/06 ,  F21V9/00 ,  F21V9/08 ,  F21Y115/10 ,  F21Y115/30 ,  G02B21/06

CPC classification number: G02B21/06 ,  F21K9/64 ,  G01J1/58 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0227 ,  G01J3/024 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/10 ,  G01J3/12 ,  G01J3/4406 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/22 ,  G02B6/00 ,  G02B19/00 ,  G02B19/0052 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/082

Abstract: 【課題】波長500〜550nmにおいて高い輝度の光が得られ、試料観察時におけるバックグランドノイズが小さい蛍光顕微鏡用光源装置および蛍光顕微鏡を提供する。 【解決手段】照明光用バンドパスフィルタを備えた蛍光顕微鏡用光源装置10であって、励起光として青色光を放射するレーザダイオード11と、励起光を、波長500〜550nmの波長域を含む照明用蛍光に変換する蛍光体15と、蛍光体15からの照明用蛍光を取り出す光学系17と、励起光を蛍光体15に集光する第1集光レンズ12と、照明用蛍光が一端面に入射されて他端面から出射される導光体19と、照明用蛍光を導光体19の一端面に集光する第2集光レンズ18とを備え、照明用蛍光の光路上に、照明用蛍光のうち、照明光用バンドパスフィルタにおける透過上限波長を含みかつ透過下限波長を含まない波長域の光を遮断または減衰する帯域除去フィルタ20が設けられている。 【選択図】図1

公开(公告)号：JP2017102266A

公开(公告)日：2017-06-08

申请号：JP2015235241

申请日：2015-12-01

Applicant: キヤノン株式会社

Inventor： 小原 直樹 ,  山本 亮

IPC: G01N21/64 ,  G02B21/06

CPC classification number: G02B21/0032 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0243 ,  G02B21/0052 ,  G02B21/0056 ,  G02B21/0064 ,  G02B21/0076

Abstract: 【課題】 照射光を試料に照射することで生じる試料からの射出光を従来よりも高効率に取り出すことができる走査型顕微鏡を提供する 【解決手段】 走査型顕微鏡は、光源1からの照射光により試料7を走査する走査手段3と、走査手段からの照射光を試料に導く光学系6と、照射光が透過する透過部21と、試料から射出して光学系と走査手段とを通過した射出光を反射する反射部22と、を有する分離手段と、分離手段からの射出光を検出する検出手段と、を有し、分離手段は、光源と走査手段との間の照射光の光路上に配置されている。 【選択図】 図1

公开(公告)号：JP2016505148A

公开(公告)日：2016-02-18

申请号：JP2015555512

申请日：2014-02-05

Applicant: ラファル・パヴルチイクRafalPAWLUCZYK ,  ラファル・パヴルチイクRafal PAWLUCZYK ,  ポール・フルニエPaul FOURNIER ,  ポール・フルニエPaul FOURNIER

Inventor： ラファル・パヴルチイク ,  ポール・フルニエ

IPC: G01N21/65 ,  G01J3/44

CPC classification number: G01J3/0218 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0221 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/44 ,  G01J3/4412 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/4742 ,  G01N2021/656

Abstract: 光ファイバプローブアセンブリが提供される。プローブは第1及び第2の光学系と、導光部の近位端部に配置された放射光源から第1の光学系に励起放射光を伝送する搬送光ファイバを含む搬送導光部とを備える。第1の光学系は、励起放射光から、実質的にコリメートされた光照射ビームを形成する第1の光学素子を備える。不透明な管状スリーブは第1の光学系上にフィットされて、第2の光学系から、第1の光学系と搬送導光部を光学的に分離する。第2の光学系はサンプルから散乱された光学的放射光を集めて当該光学的放射光を集光ビームに成形する第2の光学素子を備える。集光光ファイバを含む集光導光部は集光ビームを受けて分析器に伝送する。第1の光学系の放出円錐と第2の光学系の受容円錐とが実質的に重なるように第1及び第2の光学系はハウジング内に配置される。上記光ファイバプローブを備える分光測定システムはまた提供される。

Abstract translation: 提供光纤探头组件。 所述探针和所述第一和第二光学系统，包括一个传输光纤，用于从设置在所述导光部的近端处的辐射源传送激发辐射到所述第一光学系统的输送导光部 提供。 第一光学系统，所述激发辐射包括用于形成基本准直的光的照明光束的第一光学元件。 不透明管状套管被装配在第一光学系统，第二光学系统上，以在第一光学系统和所述导向输送光单元光学地分离。 所述第二光学系统包括用于成形光学发射的光的聚焦光束收集光学从样品散射的辐射的第二光学元件。 冷凝包括Atsumarihikariko纤维导光部发送分析器，接收聚焦光束。 使得第一光学系统的发射锥和第二光学系统的接收圆锥体基本上重叠设置在壳体的第一和第二光学系统。 包括光纤探针光谱测量系统也被提供。

公开(公告)号：JP2012098050A

公开(公告)日：2012-05-24

申请号：JP2010243381

申请日：2010-10-29

Applicant: Mitaka Koki Co Ltd ,  三鷹光器株式会社

Inventor： YAMAZAKI TOSHIO

IPC: G01N21/27 ,  G02B5/04

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/04 ,  G01J3/2823 ,  G01N21/31 ,  G01N2021/1793 ,  G02B27/1066 ,  G02B27/143

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To downsize a spectrometer capable of monitoring a measurement object.SOLUTION: A monitorable spectrometer includes a first optical path L1 from a measurement object Sm to a spectroscopic body 25 via an optical system 30 and a slit part 23 of a slit mirror block 21, and a second optical path L2 from the measurement object Sm to a two-dimensional imaging device 40 via the optical system 30 and a mirror surface 22 of the slit mirror block 21. The slit part 23 and the spectroscopic body 25 integrally constitute a spectroscopic part 20.

Abstract translation: 要解决的问题：减小能够监测测量对象的光谱仪。 解决方案：可监视光谱仪包括经由光学系统30的测量对象Sm到分光镜主体25的第一光路L1和狭缝镜块21的狭缝部23和来自测量的第二光路L2 将物体Sm经由光学系统30和狭缝镜块21的镜面22与二维成像装置40连接。狭缝部23和分光镜25一体地构成光谱部20。 ）2012，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP2009300417A

公开(公告)日：2009-12-24

申请号：JP2008311020

申请日：2008-12-05

Applicant: Hamamatsu Photonics Kk ,  浜松ホトニクス株式会社

Inventor： SHIBAYAMA KATSUMI ,  YOSHINO TAKAFUMI ,  KASAHARA TAKASHI ,  ITO MASASHI ,  UI ANNA

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/36 ,  G02B7/00

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0297 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/1814 ,  G02B7/025 ,  Y10T156/10

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectroscopic module manufacturing method and a spectroscopic module capable of making light appropriately incident onto a main body part. SOLUTION: A photo-detection unit 10 constituted by pasting a photo-detection element 5 and a light transmission plate 56 to each other is pasted to the front surface 2a of a substrate 2 by an optical plastic agent 63 in the method for manufacturing the spectroscopic module 1. Since a light passage hole 50 of the photo-detection element 5 is covered with the light transmission plate 56 at this time, the optical plastic agent 63 is prevented from entering the light passage hole 50. Since the light passage hole 50 is formed in a semiconductor substrate 91 after the semiconductor substrate 91 provided with a photo-detection part 5a and the light transmission plate 56 are pasted to each other at the preparation of the photo-detection unit 10, it is possible to reliably prevent anything that could cause the occurrence of refraction, scattering, etc. from entering the light passage hole 50. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够适当地入射到主体部分上的光的光谱模块制造方法和分光模块。 解决方案：通过将光检测元件5和透光板56彼此粘贴而构成的光检测单元10通过光学塑料剂63粘贴到基板2的前表面2a上， 由于光检测元件5的光通过孔50此时被透光板56覆盖，所以防止光学塑料剂进入光通路孔50.由于光通过 在准备光电检测单元10时，在设置有光检测部分5a和透光板56的半导体基板91彼此粘贴之后，在半导体基板91中形成孔50，可以可靠地防止 任何可能导致折射，散射等进入光通过孔50的物体。（C）2010，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP2009276244A

公开(公告)日：2009-11-26

申请号：JP2008128693

申请日：2008-05-15

Applicant: Hamamatsu Photonics Kk ,  浜松ホトニクス株式会社

Inventor： SHIBAYAMA KATSUMI ,  YOSHINO TAKAFUMI

IPC: G01J3/18 ,  G01J3/36 ,  G02B7/00

CPC classification number: G02B7/022 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectroscopic module with high reliability.
SOLUTION: This spectroscopic module 1 includes a substrate 2 that allows light incident from one face 2a to pass therethrough, a lens section 3 that includes an incident face 3a facing the other face 2b of the substrate 2 and allows light incident from the incident face 3a by passing through the substrate 2 to pass therethrough, a spectroscopic section 4 that is formed at the lens section 3 so as to disperse the light incident on the lens section 3 and reflect it, a light detection element 5 for detecting the light deflected by the spectroscopic section 4, and a support section 8 that is provided between the other face 2b and the incident face 3a so as to support the lens section 3 with respect to the substrate 2. In the spectroscopic module 1, since a gap S is formed between the other face 2b of the substrate 2 and the incident face 3a of the lens section 3 by the support section 8, it is possible to prevent occurrence of a scratch due to contacting of the other face 2b of the substrate 2 to the incident face 3a of the lens section 3, thereby improving reliability of the spectroscopic module.
COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Abstract translation: 要解决的问题：提供高可靠性的光谱模块。 该分光模块1包括允许从一个面2a入射的光通过的基板2，透镜部3，其包括面向基板2的另一面2b的入射面3a，并允许从基板2入射的光 入射面3a通过基板2通过;分光部4，其形成在透镜部3上，以分散入射到透镜部3上的光并将其反射;光检测元件5，用于检测光 由分光部分4偏转的支撑部分8和设置在另一个面2b和入射面3a之间以支撑透镜部分3相对于基板2的支撑部分8.在分光模块1中，由于间隙S 通过支撑部8形成在基板2的另一个面2b和透镜部3的入射面3a之间，可以防止由于下部的另一个面2b的接触而产生划痕 将晶片2引导到透镜部3的入射面3a，从而提高光谱模块的可靠性。 版权所有（C）2010，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP2009521706A

公开(公告)日：2009-06-04

申请号：JP2008548801

申请日：2006-12-14

Applicant: レンセラール ポリテクニック インスティチュート

Inventor： シュウ シェ， ,  ジアンミン ダイ， ,  チーチェン チャン，

IPC: G01N21/35

CPC classification number: G01V8/005 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/636 ,  G01S7/4802 ,  G01S13/887 ,  G01S17/026 ,  G02F1/353 ,  G02F2203/13

Abstract: 離れたところにある物体を分析する方法であって、ある体積のイオン化された雰囲気ガス(614)を、前記体積内で光ポンプビーム(612)を収束させることによって誘起して、パルス化されたテラヘルツ放射線(615)を標的物体(616)に向けて放出させる工程と、別の体積の雰囲気ガスを、前記別の体積内で光プローブビーム(624)を収束させることによってイオン化して感知用プラズマ(626)を生成する工程とを含む方法である。 感知用プラズマ(626)内における、収束光プローブビーム(624)と、パルス化されたテラヘルツ放射線(615)を標的物体に反射させ、または散乱させ、あるいは透過させて生成した入射テラヘルツ波(618)との相互作用によって、放射線(628)が生成される。 感知用プラズマ(626)によって放射され、結果として生成される放射線(628)の光学成分を検知することが、入射テラヘルツ波(618)に加えられた標的物体(616)の特徴を検出することを容易にする。
【選択図】図６Ｃ

公开(公告)号：JP2004538470A

公开(公告)日：2004-12-24

申请号：JP2003519668

申请日：2002-08-05

Applicant: レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company

Inventor： ビウィック アンガス ,  マーク ウールフレイ アンドリュー ,  チャールズ クリフォード デイ ジョン ,  ベネット ロバート

IPC: G01N21/65 ,  G01J3/02 ,  G01N21/62 ,  G01N21/64 ,  H01J37/22 ,  H01J37/256

CPC classification number: H01J37/228 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0243 ,  H01J37/256 ,  H01J2237/2445 ,  H01J2237/2808

Abstract: 電子顕微鏡（１０）は標本（１６）の分光分析が可能なようにされている。 放物面ミラー（１８）は中央開口（２０）を有し、ここを介して電子ビームが通過可能である。 ミラー（１８）は横方向の光路から標本上にレーザイルミネーションを集束し、ラマンおよび／または他の散乱光を集めて、光学系（３０）に戻す。 ミラー（１８）は、摺動アームアセンブリ（２２）により、後退可能（電子顕微鏡の真空内において）である。 調整可能な運動学的マウント（４４）が放物面ミラー（１８）の挿入位置を定める。 第２放物面ミラー（１０４）が設けられ、散乱または発生光を光学的アナライザに向かわせる。 それらの放物面ミラーは歪みをキャンセルする向きに位置づけられており、それらが摺動アームアセンブリ（２２）の位置の誤差を補正するようにされている。

公开(公告)号：JP2004526962A

公开(公告)日：2004-09-02

申请号：JP2002573657

申请日：2002-03-14

Applicant: レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company

Inventor： マーク ミーデン グラハム ,  チャールズ クリフォード デイ ジョン ,  ベネット ロバート

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/44 ,  G01N21/62 ,  G01N21/64 ,  G01N21/65

CPC classification number: G01J3/44 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/04 ,  G01N21/645 ,  G01N21/65 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/656 ,  H01J37/228 ,  H01J2237/2808

Abstract: 試料を動かさずに試料を走査する分光方法である。 試料１６からの光がレンズ１４により集光され、そして光検出器３２に焦点を結ぶ前にスペクトル分析器２８にて分析される。 レンズ１４の焦点からの光は、光検出器３２上にタイトな焦点を結ぶのに対し、焦点の前後からの光はより拡散した焦点を結ぶ。 １４の焦点に対応する光検出器３２上の画素からの光が処理されると同時に、この領域外の画素からの光は無視され、従って「仮想スリット」を形成する。 「仮想スリット」を上下に動かしてデータが分析される画素の指定された列を変えることにより、試料１６は垂直方向に走査される。 垂直スリット２４を光路中で水平方向に動かすことにより、試料は水平方向に走査される。

公开(公告)号：US20190204150A1

公开(公告)日：2019-07-04

申请号：US16303209

申请日：2017-05-01

Applicant: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.

Inventor： Takashi KASAHARA ,  Katsumi SHIBAYAMA ,  Masaki HIROSE ,  Toshimitsu KAWAI ,  Hiroki OYAMA ,  Yumi KURAMOTO

IPC: G01J3/26 ,  G02B26/00 ,  G02B5/28 ,  G01J3/02 ,  B23K26/06 ,  B23K26/53

CPC classification number: G02B26/001 ,  B23K26/0006 ,  B23K26/064 ,  B23K26/0643 ,  B23K26/53 ,  B23K2101/40 ,  B23K2103/56 ,  B81B3/0072 ,  B81C1/00539 ,  B81C1/00634 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/26 ,  G02B5/284

Abstract: The Fabry-Perot interference filter includes: a substrate having a first surface, a first laminate having a first mirror portion disposed on the first surface, a second laminate having a second mirror portion facing the first mirror portion with an air gap interposed therebetween, and an intermediate layer defining the air gap between the first and second laminate. The substrate has an outer edge portion positioned outside an outer edge of the intermediate layer when viewed from a direction perpendicular to the first surface. The second laminate further includes a covering portion covering the intermediate layer and a peripheral edge portion positioned on the first surface in the outer edge portion. The second mirror portion, the covering portion, and the peripheral edge portion are integrally formed so as to be continuous with each other. The peripheral edge portion is thinned along an outer edge of the outer edge portion.