一种基于仪器特征矩阵的干涉光谱仪光谱复原方法

    公开(公告)号:CN106248209A

    公开(公告)日:2016-12-21

    申请号:CN201610556164.1

    申请日:2016-07-14

    CPC classification number: G01J3/45

    Abstract: 本发明公开了一种基于仪器特征矩阵的干涉光谱仪光谱复原方法,该方法建立的仪器特征矩阵考虑了不同的误差和可能产生误差的因素,利用仪器特征矩阵建立的方程组的解必然比传统光谱复原结果精确;只要干涉光谱仪系统固定不变,实验环境没有较大变化,此方程组的仪器特征矩阵和误差矩阵一旦利用定标等方式确定后就不会再改变,以后再做实验进行光谱复原时就只需要收集采集到干涉数据后代入推出的固定方程组解公式求解即可,简单方便;与传统的光谱复原方法相比提高了复原结果的真实性和准确性,同时,较传统的光谱复原方法减少了处理环节,也提高了结果的真实性。

    微动机构、动镜干涉仪和采用动镜干涉仪的红外光谱仪

    公开(公告)号:CN106066205A

    公开(公告)日:2016-11-02

    申请号:CN201610355268.6

    申请日:2016-05-25

    Inventor: 敖小强 石磊 郜武

    Abstract: 本发明公开了微动机构、动镜干涉仪和采用动镜干涉仪的红外光谱仪,其中,该微动机构包括主动机构和从动机构,该主动机构包括:主动弹性簧片组、主动动子、斜块和主动定子;该从动机构包括:从动弹性簧片组、镜座、从动块、从动定子以及动镜模块;主动弹性簧片组的活动端处设置有所述主动动子和斜块,所述主动弹性簧片组的固定端通过所述主动定子固定;所述从动弹性簧片组的活动端处设置有镜座,所述从动块和所述动镜模块固定在所述镜座处,所述从动弹性簧片组的固定端通过所述从动定子固定,使所述从动弹性簧片组与主动弹性簧片组在未受外力时相互垂直,且使所述从动块与所述斜块可动地接触。具有体积小、重量轻、成本低、性能稳定的多种优点。

    一种基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法

    公开(公告)号:CN106017685A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610314482.7

    申请日:2016-05-13

    CPC classification number: G01J3/45 G01J2003/451

    Abstract: 基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法,由光学接收系统、基于虚像相位阵列光学滤波器、匹配光学透镜、多通道光电探测系统、数据采集和处理系统构成。基于虚像相位阵列光学滤波器由虚像相位阵列和衍射光栅构成,其输出为二维空间排列的光谱干涉条纹。通过调节虚像相位阵列和衍射光栅的参数,以及匹配光学透镜焦距,可以调整基于虚像相位阵列光学滤波器输出干涉条纹的光谱特性。基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法可以应用于各种与原子光谱和分子光谱相关的测量,如米散射(Mie)光谱、瑞利(Rayleigh)散射光谱、布里渊(Brillouin)散射光谱、拉曼(Raman)光谱、荧光光谱、等离子光谱。

    光化学分析仪和液体深度传感器

    公开(公告)号:CN105358964A

    公开(公告)日:2016-02-24

    申请号:CN201480013295.4

    申请日:2014-01-09

    Abstract: 一种光化学分析仪,包括:第一数量的辐射的源(46);光学模块,配置为引导第一数量的辐射,使得所述辐射入射到目标位置处的目标(14)上或穿过目标位置处的目标(14),所述光学模块还配置为从该目标接收第二数量的拉曼散射辐射并将第二数量的辐射(206)引导至空间干涉傅里叶变换(SIFT)模块,所述SIFT模块包括第一色散元件(216)和第二色散元件(218),所述SIFT模块配置为由第一色散元件接收第二数量的辐射的一部分,并使该部分辐射与由第二色散元件接收到的第二数量的辐射的一部分相互干涉以便形成干涉图案;所述SIFT模块还包括检测器(48),配置为捕获干涉图案的至少一部分的图像并基于捕获到的图像产生检测器信号(226);以及处理器,配置为从检测器接收检测器信号并对检测器信号执行傅里叶变换,从而获得第二数量的辐射的频谱。

    光谱仪
    158.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102906535B

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201280001217.3

    申请日:2012-04-26

    CPC classification number: G01J3/45 G01J3/4535

    Abstract: 一种光谱仪(38),包括:一个扫描干涉仪(40,42,44),该扫描干涉仪具有一个光束分离器(40),该光束分离器用于将入射光辐射分成一个跟随反射光束路径的反射光束和一个跟随透射光束路径的透射光束;一个单色光辐射源(52),该单色光辐射源用于将一个基准光束沿着首先入射到该光束分离器(40)的一个第一表面(40’)上的一个第一传播路径(62)发射进入该干涉仪(40,42,44);一个观察光辐射源(46),该观察光辐射源用于将一个观察光束(64)沿着首先入射到该光束分离器(40)的该第一表面(40’)上的一个第二传播路径(66)发射进入该干涉仪(4,6,8;),并且在该第一表面(40’)处与该基准光束重叠;其中当首先并且同时入射到该第一表面(40’)处时,该辐射源(52;46)合作以在该第一表面(40’)处对应的第一(62)与第二(66)传播路径之间生成一个第一夹角(θ),该第一夹角大于该观察光束(64)的发散半角(α)。

    分光特性测量装置
    159.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104704333A

    公开(公告)日:2015-06-10

    申请号:CN201380052250.3

    申请日:2013-10-02

    Inventor: 石丸伊知郎

    Abstract: 本发明的分光特性测量装置具备:分割光学系统,其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束;成像光学系统,其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉;光程差赋予单元,其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布;检测部,其检测干涉光的光强度分布;处理部,其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图,通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱;共轭面成像光学系统,其配置在被测量物与分割光学系统之间,具有与该分割光学系统共用的共轭面;以及周期性赋予单元,其配置于共轭面,对从多个测量点发出的测量光束之间附加周期性。

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