-
公开(公告)号：CN106525241A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610945887.0
申请日：2016-10-26
Applicant: 北京雪迪龙科技股份有限公司
Abstract: 本发明提出一种干涉仪及光谱仪。该干涉仪包括壳体、激光器、分束器、平面镜和动镜扫描机构；激光器和分束器固定在壳体上；平面镜用于反射光束；动镜扫描机构包括支架、摆动臂、枢轴、第一角镜、第二角镜和驱动装置，支架固定在壳体上，摆动臂通过枢轴连接在支架上，用于折返平面镜反射光束的第一角镜和第二角镜固定在摆动臂上且对称的分布在分束器的两侧，驱动装置连接摆动臂。该光谱仪包括干涉仪、红外光源和抛物面镜。本发明的干涉仪及光谱仪，具有环境适应性强、结构紧凑、体积小、重量轻、稳定性高、低成本优点，能够在工业现场的环境中使用。
-
公开(公告)号：CN104697634B
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201510107118.9
申请日：2015-03-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种极高分辨率光谱测量装置及方法，光谱测量装置包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块；FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号，FP干涉仪的第二输入端连接至控制模块的第一输出端；SBS滤波器的第一输入端连接至FP干涉仪的输出端，所述SBS滤波器的第二输入端连接至控制模块的第二输出端，探测器的输入端连接至SBS滤波器的第一输出端，数据采集模块的第一输入端连接至探测器的输出端，数据采集模块的第二输入端连接至SBS滤波器的第二输出端，控制模块的输入输出端连接至数据采集模块的输出输入端。本发明可以提高光谱测量分辨率的同时获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。
-
公开(公告)号：CN106441573A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201610813980.6
申请日：2016-09-09
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于多模光波导的小型光谱仪，包括顺次连接的接入端口、偏振控制及保持模块、多模光波导模块、成像及照相模块、图像处理模块、光谱显示模块。本发明没有扫描装置，因此具有较好的稳定性和耐用性，并且在探测光进入多模光波导之前先通过偏振控制及保持模块，很好地避免了偏振状态的改变对光谱仪的影响；本发明拥有独立的图像处理模块和光谱显示模块，不需外接PC，具有很好的一体性，系统体积和重量较小，便于携带；并且由于本发明采用多模光波导作为核心元件，具有低成本的优点；此外，本发明测量速度快，分辨率高，为实时测量提供了可能性。
-
公开(公告)号：CN106404174A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610809243.9
申请日：2016-09-07
Applicant: 南京理工大学
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种高通量双折射干涉成像光谱仪装置及其成像方法，包括共光轴依次设置的前置成像物镜、光阑、准直物镜、第一平行分束偏光棱镜、第一Wollaston棱镜、第二Wollaston棱镜、第二平行分束偏光棱镜、成像物镜和探测器。来自目标的入射光在探测器上形成干涉，由探测器获得目标的干涉图像信息，最后经过傅立叶变换光谱复原处理后得到目标的光谱信息。本发明相比于传统的双折射干涉成像光谱系统，在装置中引入平行分束偏光棱镜，将光通量提高到50%以上，提高了系统信噪比，有利于提高光谱复原精度。
-
公开(公告)号：CN103874911B
公开(公告)日：2016-11-30
申请号：CN201180074050.9
申请日：2011-10-17
Applicant: 福斯分析股份公司
Inventor： 亨里克·V·朱尔
IPC: G01J3/45
Abstract: 一种在基于FT干涉仪的分光仪中补偿参考能源的频率漂移的方法，该分光仪具有一个算数单元，在其中获得表示响应于依赖参考能源的发射频率而生成的一个触发信号而收集的一个参考干涉图（40）的数据并且以同样的方法获得表示由FT干涉仪响应于也是依赖该参考能源的发射频率而生成的一个触发信号而记录的一个目标干涉图（42）的数据。该方法进一步包括该在该算数单元中对该表示该参考干涉图（40）的数据和该表示该目标干涉图（42）的数据进行比较从而确定在离开中心猝发（44）的至少一个区域（36）中的一个窗口W中的这些干涉图之间的一个相位偏移（d），以及在该算数单元中依赖于所确定的一个或多个偏移（d）生成一个数学变换，从而随后应用于控制该分光仪的运行以生成表示由该FT干涉仪记录的一个未知样本的一个频率稳定的干涉图的数据。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104880253B
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：CN201510333220.0
申请日：2014-02-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0208 , G01J3/2823 , G01J3/453
Abstract: 一种基于偏振分光器的高空间分辨率快照式成像方法属于快照式成像光谱技术领域；在传统成像光谱仪的基础上，在准直镜和微透镜阵列之间设置有偏振分光器一，增加了成像臂光路；在光谱臂光路上，通过设置偏振分光器二，将传统单光路结构改变为平衡光谱臂和非平衡光谱臂的双光路结构；基于上述光谱仪，利用平衡光谱臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡光谱臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号，再经过傅里叶变换处理，得到目标的图像和光谱信息；本发明快照式成像方法不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息，而且可以大幅提高系统的空间分辨率和信噪比，有利于在精细测量领域中应用。
-
公开(公告)号：CN104006884B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410086288.9
申请日：2014-03-10
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 基于栅格分束器的空间调制型光谱仪及制作方法，涉及光谱分析仪器领域，解决现有光谱仪结构内部存在着可动部件，导致其体积、重量较大的问题，包括准直系统、样品池、干涉系统、缩束系统和探测器，干涉系统包括多级小阶梯微反射镜、栅格型分束器和多级大阶梯微反射镜；红外光源发出的光经准直系统准直成红外平行光，平行光经过样品池样品吸收后经栅格型分束器分成相干的两束光；两束光分别入射到多级大阶梯微反射镜和多级小阶梯微反射镜上，并经多级小阶梯微反射镜反射到栅格型分束器；经栅格型分束器反射后的光经缩束系统后，在红外面阵探测器上获得干涉条纹；对干涉条纹做傅里叶变换就可以获得待测物的光谱信息。
-
公开(公告)号：CN103913233B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410086347.2
申请日：2014-03-10
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J3/45
Abstract: 时空联合调制傅里叶变换成像光谱仪，涉及对地观测成像光谱仪领域，解决现有成像光谱仪内部含有与空间分辨率有关的狭缝，限制了进入系统的光通量且实时性差的问题，包括前置光学成像系统、干涉系统、后置成像缩束系统和焦平面探测器，干涉系统包括平面反射镜、立方体分束器和多级阶梯微反射镜；目标光束经前置光学成像系统入射至立方体分束器分成两束光，一束光经立方体分束器反射至平面反射镜上成像为第一像点，另一束光经立方体分束器透射至多级阶梯微反射镜某个阶梯面成像为第二像点；所述第一像点和第二像点发出的光分别经立方体分束器透射和反射后入射至后置成像缩束系统成像，所述焦平面探测器接收成像信息；本发明大大提高了系统的光通量。
-
公开(公告)号：CN105806481A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201610169726.7
申请日：2016-03-23
Applicant: 复旦大学
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，具体为一种迈克尔逊型光谱仪失调自动校准系统和方法。本发明系统包括：光源、动镜、定镜、分束片、透镜、探测器、信号预处理模块、数据滤波采样模块、数据处理与算法控制模块、压电陶瓷驱动电路及二维定镜执行机构，整个系统采用模块化设计；本发明在定镜机构上采用线性压电陶瓷电机驱动方式，实现镜面在俯仰和水平方向上的两维可调节；采用闭环自动搜索控制方式，通过粗调节和精细调节两个闭环算法达到干涉失调的校准。本发明实现了失调校准调节的自动化和最优化，对高精密的光谱仪测量技术可靠性和准确性提供了自动化的校准技术方案。
-
公开(公告)号：CN104165694B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201410366532.7
申请日：2014-07-29
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明涉及一种空间调制静态干涉光谱成像仪干涉图光学拼接方法，当探测器光谱维行数不能满足系统设计对干涉图采样点数要求时，可通过在像面前设置反射镜面用以在光谱方向分割像面，用N个探测器(N≥2)分别采集转换干涉图；再利用干涉图在零光程差位置两侧对称分布的特性，将多个探测器输出图像拼接后获得满足数据处理要求的干涉图像。本发明解决了光电探测器面阵规格不能满足高光谱分辨率要求的技术问题。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
6318
records
(took 0.131 seconds)
