公开(公告)号：CN103424864A

公开(公告)日：2013-12-04

申请号：CN201310169657.6

申请日：2013-05-09

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 松下友纪

IPC: G02B26/00

CPC classification number: G02B26/001 ,  G01J1/44 ,  G01J3/027 ,  G01J3/26 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/1247 ,  G01N21/658

Abstract: 本发明提供一种波长可变干涉滤波器、光学滤波器装置、光学模块以及设备。波长可变干涉滤波器包括：第一基板；与第一基板连接的第二基板；设置于第一基板的与第二基板相对的面上的第一反射膜；设置于第二基板的与第一基板相对的面上并隔着反射膜之间间隙与第一反射膜相对的第二反射膜，以及使第二基板向接近第一基板的方向挠曲而使反射膜之间间隙变化的静电执行器。第一反射膜以及第二反射膜具有对于第二波长的光的反射率大于对于第一波长的光的反射率的反射率特性，其中，第二波长小于第一波长。

公开(公告)号：CN102204038B

公开(公告)日：2013-07-10

申请号：CN200980142619.3

申请日：2009-10-24

Applicant: 西默股份有限公司

Inventor： E·菲格罗亚 ,  W·N·帕特洛 ,  J·M·阿尔格特斯

IPC: H01S3/10

CPC classification number: H01S3/08009 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/027 ,  G01J3/06 ,  G01J3/14 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/1208 ,  G02B5/1828 ,  H01S3/08004 ,  H01S3/1055 ,  H01S3/1067

Abstract: 一种带宽选择的机构，包括色散光学元件，该色散光学元件具有包括色散反射面的本体，该色散反射面包括沿着色散光学元件的反射面沿纵向轴方向延伸的入射区域。该本体还包括第一端块和第二端块，第一端块设置在本体的第一纵向端上，而第二端块设置在本体的第二纵向端上，第二纵向端与第一纵向端相对。该带宽选择机构还包括安装在色散光学元件第二面上的第一致动器，所述第二面与反射面相反，第一致动器具有联接到第一端块的第一端和联接到第二端块的第二端，第一致动器可操作而对第一端块和第二端块施加相等而相反的力。

公开(公告)号：CN103175786A

公开(公告)日：2013-06-26

申请号：CN201210551626.2

申请日：2012-12-18

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 板谷隆宏 ,  中谷茂

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/35

CPC classification number: G16C20/10 ,  G01J3/027 ,  G01J3/4535 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/3595 ,  G01N2201/129

Abstract: 本发明提供在对一个或多个测量对象成分进行的定量分析中能同时降低干扰影响与测量误差的样品气体分析装置与样品气体分析装置用方法。样品气体分析装置（100）使用向样品照射光而得到的光谱对所述样品中的一个或多个测量对象成分进行定量分析，并根据从开始产生样品气体到经过规定时间为止的第一产生条件以及经过所述规定时间后的第二产生条件对在多变量分析中使用的库数据进行切换，当处于第一产生条件时，使用对测量对象外成分的干扰影响进行了修正的第一库数据对多个测量对象成分进行定量分析，当处于第二产生条件时，使用没有对测量对象外成分的干扰影响进行修正的第二库数据对多个测量对象成分进行定量分析。

公开(公告)号：CN103069259A

公开(公告)日：2013-04-24

申请号：CN201180039983.4

申请日：2011-08-11

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 木村俊郎 ,  横田佳澄 ,  大隅太郎

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  G01N21/27 ,  G01N21/33

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/08 ,  G01J3/42

Abstract: 为了提供一种不在门上设置开闭传感器等就能够通过由光检测器得到的输出强度信号来检测更换样品池时等的外部光的入射的分光光度计，本发明的分光光度计(60)，具备：光检测器(12)；遮光部(41)；存储部(34)，其将被遮光部(41)遮光的遮光期间与由光检测器(12)得到的输出强度信号相对应地存储；以及控制部(31b)，其根据存储部(34)中存储的遮光期间的输出强度信号和入射期间的输出强度信号来计算透射率或者吸光度，其中，存储部(34)存储用于检测外部光入射到光检测器(12)的情况的阈值，控制部(31c)根据遮光期间的输出强度信号和阈值来检测外部光入射到光检测器(12)的情况。

公开(公告)号：CN103038628A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201080042079.4

申请日：2010-07-30

Applicant: 丰田自动车株式会社

Inventor： 船山龙士 ,  佐佐木健史 ,  佐藤润

IPC: G01N21/27

CPC classification number: G01N21/31 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823

Abstract: 移动体用光谱测定装置(11)具备：为了测定含有由测定对象的波长信息和光强度信息构成的信息的测定光谱数据(D1～Dm)而被搭载于移动体(10)的光谱传感器(13)；搭载于移动体(10)以便通过对测定光谱数据进行处理来识别测定对象的处理装置(21)；和用于将测定光谱数据从光谱传感器(13)传递给处理装置(21)的信号传递路(20)。移动体用光谱测定装置还具备数据传送装置(15)，该数据传送装置(15)通过按照从测定光谱数据(D1～Dm)所含有的信息中选择作为规定信息的选择信息的方式重建测定光谱数据，来获得重建光谱数据(E1～En)。数据传送装置将重建光谱数据经由信号传递路(20)传送给处理装置(21)。

公开(公告)号：CN102879088A

公开(公告)日：2013-01-16

申请号：CN201210240807.3

申请日：2012-07-11

Applicant: 徕卡显微系统复合显微镜有限公司

Inventor： H·比尔克 ,  V·塞弗里德

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/04

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/18 ,  G01J1/44 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36

Abstract: 用于探测光的装置，用在显微镜、光谱仪或照相机中，包括至少一个硅光电倍增管（SiPM），其由多个单光子雪崩二极管（SPADs）的阵列组成，该阵列的面积大于入射光的面积，其中仅仅激活和/或分析那些以特定最小强度的光入射其上的SPADs。采用该装置的方法。

公开(公告)号：CN102792150A

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN201180013689.6

申请日：2011-04-08

Applicant: 丰田自动车株式会社 ,  日本电气株式会社

Inventor： 川真田进也 ,  船山龙士 ,  石勉 ,  吉川祐巳子

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/457

CPC classification number: G01J3/457 ,  G01J1/4204 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823 ,  G06K9/00369 ,  G06K9/00791 ,  G06K9/00805 ,  G06K2009/00644 ,  G08G1/166

Abstract: 光谱测定装置（11）基于由能够测定波长信息和光强度信息的光谱传感器（14）检测出的观测光的光谱数据来识别测定对象。该光谱测定装置具备光谱数据处理装置（16），该处理装置通过从由所述光谱传感器检测出的不同的两个位置处的光谱数据中的一方光谱数据减去另一方光谱数据或者将另一方光谱数据除以一方光谱数据，来计算出与所述不同的两个位置处的光谱数据相关的一个相关光谱数据。然后，处理装置基于该相关光谱数据来同时确定与所述不同的两个位置对应的测定对象。

公开(公告)号：CN102792136A

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN201180013345.5

申请日：2011-03-09

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 井辻健明

IPC: G01J3/42 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/027 ,  G01J3/28 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3586

Abstract: 本发明提供能够改善获得的频谱信息的定量性的太赫波测量装置和测量方法。在使用太赫波测量装置的测量方法中，太赫波测量装置测量与已获知校准谱形状的校准样品有关的太赫波的时间波形，并通过变换时间波形来获得测量谱。比较校准谱和测量谱，并基于比较结果来调整形成时间波形的测量数据的时间间隔，以便校准太赫波测量装置。

公开(公告)号：CN102680097A

公开(公告)日：2012-09-19

申请号：CN201210063704.4

申请日：2012-03-12

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 佐野弘幸 ,  田口都一

IPC: G01J3/28 ,  G01J1/00

CPC classification number: G01J3/0291 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/027 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803

Abstract: 提供一种分光特性测量方法以及分光特性测量装置，用于更高精度地测量被测量光的分光特性。分光特性测量方法包括以下步骤：使波长范围为第二波长范围的光入射到在第一波长范围具有检测灵敏度的分光测量器，第二波长范围为上述第一波长范围的一部分；从与由分光测量器检测出的第一光谱中的第二波长范围以外的范围相对应的部分中获取表示杂散光成分的特性信息；以及对特性信息进行外插处理直至第一波长范围中的第二波长范围为止，来获取表示产生于上述分光测量器的杂散光成分的图案。

公开(公告)号：CN102608753A

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN201210017974.1

申请日：2012-01-19

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 广久保望

IPC: G02B26/00 ,  G01J3/02

CPC classification number: G02B26/001 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/51

Abstract: 本发明提供一种波长可变干涉滤波器、光模块、光分析装置以及分析装置。该波长可变干涉滤波器具备：具有固定反射膜的固定基板；具有可动反射膜的可动基板；以及包括固定电极以及可动电极的静电执行机构，其中，固定电极包括相互绝缘的第一固定部分电极以及第二固定部分电极，在固定基板上包括从第一固定部分电极以及第二固定部分电极延伸出的第一引出电极以及第二引出电极，可动电极形成覆盖与第一固定部分电极相对的第一相对区域以及与第二固定部分电极相对的第二相对区域的圆环状。