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公开(公告)号:CN103335714A
公开(公告)日:2013-10-02
申请号:CN201310287238.2
申请日:2013-07-09
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明涉及导航定位技术领域,具体是图像式天空偏振光分布模式实时同步获取装置。它有线偏振片的三台相机及计算机处理系统,相机具有独立千兆网接口,分别通过交换机连接到计算机处理系统中,交换机进行IP地址设定并分配序号;相机设置在机械支撑架上,其镜头的中心轴线相互平行,三中心轴线在垂直平面上的投影构成等边三角形,其边长d由以下计算式得到:三台相机分别与三个定焦镜头连接,定焦镜头上分别配有线偏振片,其偏振极性角满足以下公式:0°≤α1<α2<α3<180°,本发明能获得三相机拍得的公共区域重叠部分,此区域显示偏振度和偏振角信息,实现偏振信息实时同步获取。该系统结构简单,加工方便,实时同步性好,具有较高的实用性。
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公开(公告)号:CN103267576A
公开(公告)日:2013-08-28
申请号:CN201310176136.3
申请日:2013-05-14
Applicant: 西安工业大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明属于光电测试技术领域,具体是一种光波偏振态高速静态测量装置及测量方法。本发明要克服现有技术需要机械转动、结构复杂或者难以实现高速测量的缺陷和不足。所采用的技术方案如下:一种光波偏振态高速静态测量装置,包括沿x轴顺序排列的铌酸锂晶体、偏振片、光强探测器和外加电压控制系统;所述铌酸锂晶体利用的是其横向电光效应;所述偏振片端面垂直于待测光线传播方向,偏振片的透振方向与y轴夹角可调;所述光强探测器的光强接收面垂直于x轴;外加电压控制系统对施加在z轴方向的电压进行控制。本发明适用于光纤通讯偏振态检测控制以及对设备的机械稳定性要求高的卫星或飞机等空间基平台对目标光束进行偏振探测的技术领域。
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公开(公告)号:CN103256984A
公开(公告)日:2013-08-21
申请号:CN201310042314.3
申请日:2013-02-04
Applicant: 山东大学
Abstract: 一种在宽温区精确测量变温椭圆偏振的装置和方法,属光学测量技术领域。该装置由光谱式椭圆偏振仪、恒温装置和控温系统组成。通过控温系统预设控温温度,并控制恒温装置中的电热丝产生热量,与注入恒温装置的液氮中和,达到预设的控温温度。从而实现在宽温区(77K到423K)精确变温椭圆偏振测量。该装置和方法的主要优点是变温区域大,控温精度高,实用性强,成本低。
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公开(公告)号:CN103175612A
公开(公告)日:2013-06-26
申请号:CN201310066833.3
申请日:2013-03-04
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J4/00
Abstract: 一种星载成像光谱仪在轨偏振测量系统,涉及空间光学技术领域,它解决了现有的星载成像光谱仪因采用消偏振器而导致成像质量降低的问题。包括孔径光阑、望远镜、入射狭缝、准直镜、布儒斯特棱镜、聚焦镜、平面折转镜和焦平面探测器。目标光束经所述孔径光阑入射到望远镜上,经望远镜成像在入射狭缝上,从入射狭缝出射的光经准直镜准直后入射到布儒斯特棱镜上,振动方向平行于狭缝长度方向的S偏振光经布儒斯特棱镜色散和偏振分光后入射到聚焦镜上,经聚焦镜聚焦并经过平折转镜折转后成像到面阵焦平面探测器上。本发明适用于空间遥感大气探测和海洋水色探测需要。
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公开(公告)号:CN102099661B
公开(公告)日:2013-06-19
申请号:CN200980126831.0
申请日:2009-07-02
Applicant: 海因兹仪器公司
Inventor: 王宝良
IPC: G01J4/00
CPC classification number: G01N21/23 , G02F1/0131
Abstract: 提高用于测量光学样本的双折射的系统的通量包括用于引导多个光束通过该系统的光弹性调制器构件的技术,以便连同被扩展以适合多个光束的检测机构一起地,横跨样本的、迄今的行扫描(经由单一光束)被显著地放大,从而覆盖样本区域的“条带”的几行被本发明的系统所扫描。
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公开(公告)号:CN102080988B
公开(公告)日:2012-11-14
申请号:CN201010565062.9
申请日:2010-11-26
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明公开了一种实时测量单光子光束偏振状态的测试装置及方法,该装置包括测试系统和定标系统两部分。该测试装置利用能量分光镜和相位分光镜将被测光束分为四束,分别由四个单光子探测器对输入信号进行探测。利用定标装置获取系统的最优仪器矩阵;在测试时根据仪器矩阵和测试信号能得到被测信号的斯托克斯矢量。本发明的优点是:系统中无转动部件,测试速度快;测试系统充分的利用了被测试光束的能量,可用于单光子或极微弱光束的偏振状态检测;系统中有可变相位补偿器,能获取最优的系统仪器矩阵,测试精度高,结果可靠。
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公开(公告)号:CN102116674B
公开(公告)日:2012-09-05
申请号:CN201010300058.X
申请日:2010-01-06
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明涉及一种光偏振态斯托克斯参量的测量方法及系统,该测量方法包括以下步骤:1)获取扩展平行光束;2)将步骤1)所得到的扩展平行光束在空间上分为互相分开的、完全相同的四束分光束;3)对步骤2)所得到的四束分光束分别进行调制并测量其光强度;4)根据测量的光强度计算描述光偏振态的斯托克斯参量。本发明提供了一种光路结构对称、调节简单方便、能量利用率高、可对光信息进行快速实时测量与处理的光偏振态斯托克斯参量的测量方法及系统。
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公开(公告)号:CN102538971A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201210015266.4
申请日:2012-01-18
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J4/00
Abstract: 一种全光场全斯托克斯参量检测装置和检测方法,该装置包括:补偿器、微偏振检偏器阵列、CCD探测器阵列、放大器、同步数据采集卡、计算机系统及偏压控制器。该方法包括:改变偏控电压,得到电光延迟为2π的光强矩阵;改变偏控电压,得到电光延迟为π/2的光强矩阵;对两个光强矩阵进行数据处理即可获得全光场全斯托克斯参量。本发明具有共光轴且结构简单、稳定、高空间分辨率和测量速度快的特点。
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公开(公告)号:CN101528116B
公开(公告)日:2012-06-27
申请号:CN200780033409.1
申请日:2007-08-29
Applicant: 卡尔斯特里姆保健公司
IPC: A61B5/00 , G01J3/44 , G01N21/64 , A61B1/247 , A61B1/04 , A61B1/24 , G01B9/02 , G01J4/00 , A61B1/00 , A61B1/253
CPC classification number: A61B5/0088 , A61B1/043 , A61B1/0607 , A61B1/0638 , A61B1/0646 , A61B1/0684 , A61B1/24 , A61B5/0035 , A61B5/0066 , A61B5/0071 , A61B5/0075 , A61B5/4547 , A61B5/742 , A61B5/7425 , A61C1/088 , G01B9/02091 , G01B11/2441 , G01J3/02 , G01J3/0213 , G01J3/0224 , G01J3/0272 , G01J3/10 , G01J3/4406 , G01J3/508 , G01N21/4795 , G01N21/6445 , G01N21/6456 , G01N21/6486 , G01N2021/1787
Abstract: 一种获取牙齿图像的装置,该装置包括至少一个提供入射光的光源,该入射光具有用于获得来自牙齿的反射图像(122)的第一光谱范围和用于激发来自牙齿的荧光图像(120)的第二光谱范围。位于来自两个光源的入射光的路径上的偏振分光镜(18)把具有第一偏振状态的光传导至牙齿并把来自牙齿具有第二偏振状态的光沿着返回路径传导至传感器(68),其中第二偏振状态与第一偏振状态正交。返回路径上的第一透镜(22)将载像光从牙齿传导至传感器(68),并从具有第二偏振状态的光的部分中获取图像数据。返回路径中的长通滤镜(15)衰减第二光谱范围的光。
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公开(公告)号:CN101479577B
公开(公告)日:2012-05-23
申请号:CN200780019029.2
申请日:2007-05-23
Applicant: ITF实验室
IPC: G01J4/00 , C03B37/075 , G01M11/02 , G02B6/024
CPC classification number: G02B6/02109 , G01D5/35303 , G01M11/3181
Abstract: 本发明提供一种利用写入到偏振保持(PM)光纤的窄带光纤布拉格光栅(FBG),测量和监控该PM光纤的偏振态(SOP)及类似物的方法。该PM光纤包括第一窄带参考FBG,该第一窄带参考FBG被用作测量和监控PM光纤的SOP的参考。由于PM光纤的双折射性质,参考FBG通常反射两个窄带光谱,一个沿慢轴的窄带光谱和一个沿快轴的窄带光谱,每个窄带光谱具有一个中心波长。通过测量反射光谱沿每个轴的强度,并通过用偏振控制器调节光纤,可以将光纤调节到预定的SOP。在将PM光纤调节到预定SOP之后,可以根据该预定SOP精确测量第二光栅或另一光学器件的光学性质。本发明的方法还可以被有利地用来精确测量反射率。
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