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公开(公告)号:CN105758532A
公开(公告)日:2016-07-13
申请号:CN201610102352.7
申请日:2016-02-24
Applicant: 成都麟鑫泰来科技有限公司
Inventor: 曾桥
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明提供了微弱光测量仪及多通道微弱光时间分辨方法,其中测量仪包括:探测器,与探测器电连接的放大整形器,与放大整形器电连接的主控器;探测器具有多个接收通道,探测器用于接收光脉冲信号,将光脉冲信号转换成电脉冲信号并发送至放大整形器;放大整形器用于接收电脉冲信号,对电脉冲信号进行放大整形处理,得到数字脉冲信号并发送至主控器;主控器用于接收数字脉冲信号,利用划分粗时间与细时间的方式计算各个接收通道对应的光脉冲信号的获取时间,以及各个接收通道对应的多个所述光脉冲信号之间的时间间隔。本发明能够测量光脉冲信号的时间相关量,缓解相关技术中的微弱光测量仪无法测量光脉冲信号的时间相关量的问题。
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公开(公告)号:CN105675153A
公开(公告)日:2016-06-15
申请号:CN201610005915.0
申请日:2016-01-06
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种大口径超短激光脉冲前沿径向群延迟的测量装置和测量方法,装置包括设置在脉冲输出端的迈克尔逊干涉仪、二阶自相关仪,示波器,以及用于合束光路校正的近场光阑和远场光路。本发明大大降低了测量装置中所需光学元件的尺寸,而且不需要引入额外的理想参考光或是通过引入额外光学元件来产生理想参考光;首次实现了高峰值功率激光系统输出的大口径超短激光脉冲前沿径向群延迟的直接测量,具有调节方便、简单高效,实用性强的特点。
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公开(公告)号:CN105527028A
公开(公告)日:2016-04-27
申请号:CN201610103574.0
申请日:2016-02-25
Applicant: 苏州大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种测量光束涡旋的方法及其装置。其结构为:按携带涡旋的光束入射方向依次设置长轴相互垂直的第一柱面镜和第二柱面镜,在距离第二个柱面镜的反位相平面上设置一个电荷耦合器件,电荷耦合器件测量得到的光强分布数据输入计算机。本发明根据测量得到的光强分布数据,计算得到光束在平面上关联结构的二维分布,用于判断被测光束所携带的涡旋数目和涡旋方向。本发明利用相互垂直的柱面镜组合的光学系统和关联函数计算方法,能精确测量光束所携带的涡旋的方向和数目,适用于信息存储、光学通信、粒子操控等领域。测量装置简单实用,测量精确,具有实际应用价值。
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公开(公告)号:CN103299174B
公开(公告)日:2016-04-06
申请号:CN201180052287.7
申请日:2011-10-28
Applicant: 气体敏感液有限公司
CPC classification number: G01N21/61 , G01J11/00 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2201/0696 , G01N2201/1211 , G01N2201/127
Abstract: 一种用于检测分析物气体的光学吸收气体传感器包括一个气体样本接收室、至少一个发光二极管(LED)及一个光电二极管或其他光电传感器。通过将电流脉冲传过该至少一个LED生成多个光脉冲。穿过该至少一个LED的电流在每个脉冲的过程中被多次测量并在生成一个补偿输出信号时被考虑在内。在每个脉冲过程中多次计算LED电流与光电二极管输出信号之间的传递比。ADC交替测量该LED及光电二极管电流。这些LED脉冲由电感器放电回扫生成,并且选择了在每个脉冲之前向该电感器供应电流的时间段,以便该光电二极管输出电流是在该ADC的输入范围内的最佳区域。至少测量该至少一个LED的温度并在生成该补偿输出信号时被考虑在内。因此,测量这些脉冲使能够提供一个容许温度变化的更简单、更低功率的电路,而不是提供对这些LED脉冲的特别仔细的控制。
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公开(公告)号:CN104501954A
公开(公告)日:2015-04-08
申请号:CN201410756105.X
申请日:2014-12-10
Applicant: 四川大学
CPC classification number: G01J3/027 , G01J3/0224 , G01J3/2889 , G01J11/00
Abstract: 本发明提供的基于脉冲同步测量技术的光谱特性测试仪,包括同步控制器、脉冲光源、高速采集卡、计算机系统、第一光电探测器、第二光电探测器和测试光路系统;所述同步控制器有四个输出端,其中两个输出端一个与脉冲光源相连,另一个与计算机相连。同步控制器的另外两个输出端分别与高速采集卡的两个通道相连,对应输出的两路信号分别作为两个通道的外触发信号,用于控制高速采集卡采集对应两个通道中的信号;所述高速采集卡的两个通道同时分别与第一光电探测器和第二光电探测器连接。该测试仪可以精确测量宽波长范围、宽脉宽范围的光脉冲信号。
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公开(公告)号:CN104465884A
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201410811325.8
申请日:2014-12-23
Applicant: 西南交通大学
CPC classification number: Y02P70/521 , H01L31/18 , G01J11/00 , H01L21/68 , H01L21/687
Abstract: 本发明公开了一种用于单光子探测系统中光纤和超导薄膜对光的装置及方法,对光装置包括与位移平台机械手相连的对光机构,对光机构包括可纵向开合的套管,套管的内壁覆盖有石蜡,光纤穿设于套管内并被石蜡包裹;此外,该对光方法包括如下步骤:打开涂覆有石蜡的套管,并将光纤放入套管内;将光纤头部对准超导薄膜的感光处;加热套管,使石蜡融化并缓慢下降,填充光纤头部和超导薄膜感光处的空隙;停止加热,使石蜡自然冷却,使光纤头部和超导薄膜感光处固定;本发明的对光装置及方法,光纤和超导薄膜粘接效果好,并且光纤不易错位,对位精准,操作方便。
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公开(公告)号:CN104296884A
公开(公告)日:2015-01-21
申请号:CN201410567490.3
申请日:2014-10-22
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及一种超高速时间-波长交织光脉冲序列通道失配测量和补偿方法,包括待测超高速时间-波长交织光脉冲产生模块,光频谱测量模块,电频谱测量模块以及数据分析与处理模块。本发明通过对超高速时间-波长交织光脉冲序列的频域测量与分析,得到了各个通道脉冲序列的失配信息,克服了通过示波器进行时域观测方法中采样率不足的瓶颈。本发明得到的通道失配信息可进一步作为超高速时间-波长交织光脉冲序列通道失配补偿和校正的依据。
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公开(公告)号:CN104272072A
公开(公告)日:2015-01-07
申请号:CN201380010306.9
申请日:2013-02-06
Applicant: 国立大学法人大阪大学
CPC classification number: H04B10/07955 , G01J11/00 , H04B10/25
Abstract: 波形重构装置(140)具备:相位频谱算出部(143),(a)按输入光信号的每个强度,设想为输入光信号具有给定的相位频谱,来进行输入光信号在光传输媒体内的传播模拟,从而算出输出光信号的计算功率谱,(b)以使计算功率谱和测量功率谱的按输入光信号的每个强度的差异变小的方式,使给定的相位频谱变化,进行传播模拟,从而探索输入光信号的相位频谱;波形重构部(144),利用探索出的相位频谱来对输入光信号的时间波形进行重构,相位频谱算出部(143)只根据非线性光学效果以及色散效果中的一方,来使给定的相位频谱变化,或者进行传播模拟。
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公开(公告)号:CN102175334B
公开(公告)日:2014-01-08
申请号:CN201110048052.2
申请日:2011-03-01
Applicant: 复旦大学
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明属于激光技术领域,具体为一种利用非谐波长波长取样光进行脉冲信噪比单次测量的装置。该装置主要由长波长取样光产生单元、大角度非共线和频互相关单元和高灵敏度信号接收单元三部分构成。长波长光取样的和频互相关器的使用,既可以允许光束在准位相匹配晶体中以大的非共线角相互作用,也可以匹配高灵敏度信号接收系统的测量窗口,还有利于散射光噪音的消除,从而同时实现大时间窗口、高动态范围的脉冲信噪比单次测量。本装置在时间窗口和动态范围方面具有很好的可扩展性,可适用于多种波长的高功率激光的信噪比测量。
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公开(公告)号:CN101957239B
公开(公告)日:2013-01-16
申请号:CN200910254052.0
申请日:2009-12-15
Applicant: 浜松光子学株式会社 , 国立大学法人东京大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明的信号波形测定装置(1A)由信号光学系统(11)、参照光学系统(16)、设定信号光(L1)与参照光(L2)的时间差的时间差设定手部(12)、包含染料分子结晶的结合体并以与入射到结晶集合体的入射光强度的r次方(r>1)成比例的强度生成波长被变换为比入射光的波长短的变换光(L5)的波长变换元件(20)、在元件(20)中检测以与信号光(L1)的强度和参照光(L2)的强度以及与两者的时间差相对应的强度生成的变换光(L5)的光检测器(30)、对变换光(L5)的检测结果进行解析从而获得信号光(L1)的时间波形的信号波形解析部(40)构成。由此,可以实现以简单的结构高精度地检测信号光的时间波形的信号波形测定装置以及测定方法。
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