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公开(公告)号：CN101375143A
公开(公告)日：2009-02-25
申请号：CN200780003689.1
申请日：2007-01-24
Applicant: 普拉德研究及开发股份有限公司
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/0218 , G01J3/0232 , G01J3/0294 , G01J3/10 , G01J3/42 , G01N21/274 , G01N21/31 , G01N2021/317 , G01N2201/08
Abstract: 本发明公开了用于流体分析的方法和设备。井下流体分析系统包括输入光信号，该输入光信号照射穿过容纳在样品室(202)中的流体样品。输入光信号可源自多个光源(200)。然后将来自样品室的光信号引导(206)至两个或更多个光谱仪(214，216)，用于输出光信号中代表性波长的测量。然后比较光谱仪的输出和井下常见烃类的已知值。从而了解流体样品的组成。此外，可将输入光直接引导(210)至两个或更多个光谱仪，用于对井下高温和噪声环境中的系统进行校准。
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公开(公告)号：CN101324468A
公开(公告)日：2008-12-17
申请号：CN200710069325.5
申请日：2007-06-15
Applicant: 杭州远方光电信息有限公司
Abstract: 本发明公开了一种低杂散光快速光谱仪及其测量方法，光谱仪包括光信号采集机构和光学平台，其特征在于光学平台内包括带通色轮，带通色轮上设置一组带通滤色片和通孔，入射光线经带通滤色片或通孔后在到达色散元件进行分光并最后被阵列探测器接收。通过带通色轮转动，入射光束逐个扫描带通滤色片，逐段精测被测样品的光谱仪相应响应函数。测量具有相类似光谱特征的同类样品时，先逐段精测和经过通孔全谱快测典型样品，利用两次测量结果计算出杂散光修正因子，对同类样品全谱快测并用杂散光修正因子修正就可实现快速精测。本发明有效地降低了快速光谱仪的测量杂散光，可快速精确地测量具有相类似光谱特征的一类样品的光谱曲线和相关的光色参数。
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公开(公告)号：CN101120205A
公开(公告)日：2008-02-06
申请号：CN200680005240.4
申请日：2006-02-10
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/10 , F21V19/0005 , F21V19/04 , G01J3/02 , G01J3/0291 , H01J5/48 , H01R33/7614 , H01R33/7635
Abstract: 一种光源装置，能够提高气体放电管的定位精度，并使气体放电管的维护作业变容易，具有容纳气体放电管的灯容器，在该灯容器内容纳有与气体放电管一起相对于灯容器在已定位的状态下进行固定的绝缘性插孔部件。绝缘性插孔部件包括：与气体放电管的芯柱部面接触的面接触部，在电连接的状态下插入有保持在芯柱部上的芯柱销的任何一个的销插孔部件。通过插入与销插孔部件相对应的芯柱销，将气体放电管相对于绝缘性插孔部件以装卸自如的状态固定，由此，能够大幅度地提升气体放电管相对于灯容器的定位精度。并且，关于绝缘性插孔部件，由于以装卸自如的状态固定气体放电管，所以气体放电管的拆卸变得容易，气体放电管的更换等的维护作业变得容易。
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公开(公告)号：CN1995944A
公开(公告)日：2007-07-11
申请号：CN200610124377.3
申请日：2006-12-25
Applicant: 姚建政
Abstract: 一种球面光学元件光谱反射率的测量装置及方法，该装置包括光源系统、样品架、接收系统、数据分析处理系统等。其特点是样品架上设有三个钢珠，它们分别位于一平面三角形顶点，被测体球面放置于三个钢珠上；光源发射端和反射光接收端同置于凹面样品球面的球心位置或凸面样品球面球心通过会聚透镜形成的像点位置，并以相同球面半径的光坯反射光谱为基准，利用计算机进行数据分析处理，取得球面光学元件光谱反射率曲线。这种装置结构简单实用，造价低，其测试方法简便可靠省时，测量结果与同类测量装置相比，较全面表征整个球面或较大球面积的光谱反射特征，更为准确反映球面光学元件的实际性能，特别适用于镀膜光学元件生产的质量检查。
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公开(公告)号：CN1971203A
公开(公告)日：2007-05-30
申请号：CN200610130123.2
申请日：2006-12-13
Applicant: 天津大学
Abstract: 本发明涉及具有一定谱宽的光源，具体讲是涉及固定窗口可变宽带光源。为提供结构简单，操作方便，应用广泛的固定窗口可变宽带光源，本发明采用的技术方案是，一种固定窗口可变宽带光源，由宽带光源，根据测量要求选择某个窗口宽度的滤光器的光开关和滤光器构成，滤光器通过耦合器对外输出，还包括控制光开关开闭的控制电路。本发明主要应用于光学测量、检测领域。
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公开(公告)号：CN1902471A
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN200480040045.6
申请日：2004-11-05
Applicant: 帝国学院创新有限公司
CPC classification number: G01N21/65 , G01J3/108 , G01J3/44 , G01N21/35 , G01N21/636 , G01N21/64 , G01N2021/655
Abstract: 一种波谱学方法和装置，包括以激发样品的振动模式的激发源，通过时域或频域激发的改变提供多维光谱信息。控制其它的激发源参数或样品参数，以通过确保在样品中产生的非－共振本地振荡器场支配在样品中产生的自差法信号，提供相干波谱学。结果，外差法探测以一种使得输出信号对浓度呈线性函数的方式实现，提供改进的灵敏度。
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公开(公告)号：CN1885011A
公开(公告)日：2006-12-27
申请号：CN200610093274.5
申请日：2006-06-23
Applicant: GFG工具制造有限责任公司
CPC classification number: G01N21/3504 , G01N21/61
Abstract: 一种光学分析仪(1)，具有一带至少一个射线可穿透的壳体单元(3)的壳体(2)、至少一个第一射线源(4)和第一反射器(5)、一第二射线源(6)和一第二反射器(7)、至少一个第一检测器(8)和一个第二检测器(9)以及一个设置在壳体外部的反射器(10)，其中射线源和检测器设置在壳体内部，由外部反射器和射线可穿透的壳体单元构成一吸收腔(11)，由第一射线源和第一反射器发射的测量射线(12)在被外部反射器反射后重新进入壳体，第二射线源和第二反射器发射一基准射线(13)，测量射线在穿过吸收腔后被设置在壳体内的测量射线反射器(14a、14b)直接偏转到第一检测器和第二检测器上，基准射线从第二射线源和第二反射器直接落在第一检测器和第二检测器上。
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公开(公告)号：CN1548947A
公开(公告)日：2004-11-24
申请号：CN03156997.8
申请日：2003-09-17
Applicant: DE&T株式会社
Abstract: 一种检查基片的照明装置，用于提供检查大尺寸的基片表面的最佳的视觉条件，该照明装置包括：多个用于分别反射来自多个光源的光线的镜子，这些光源在一个曲面上沿左/右和上/下中的至少一个方向移动；和用于将在镜子上反射的散射光聚焦到一个焦点，并照亮在一个平台上的基片的菲涅耳透镜，由此简化该照明装置的移动结构，并允许操作人员通过用多束光线照亮大尺寸基片的大片区域，在不移动焦点的情况下在一个焦点进行检查。
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公开(公告)号：CN1472516A
公开(公告)日：2004-02-04
申请号：CN03132052.X
申请日：2003-07-14
Applicant: 中国科学院安徽光学精密机械研究所
CPC classification number: Y02B20/42
Abstract: 本发明是一种紫外氘灯光源的脉冲调制方法及其装置，属于光学测量光源的计算机控制方法，紫外光源在光谱测量中应用广泛，随着信息处理技术的发展，要求光源适应测量的快速节奏。而现有的氘灯光源每次点燃氘灯需要很长的预热时间，不能满足随时检测的需要，若在检测间断时不关闭，氘灯很快达到其寿命而损坏，本发明经过大量的试验，找到了一种脉冲调制的方法，其特征是在检测期间氘灯工作在正常工作电流下，而检测间断期，其工作电流降低到预燃值上，保持其已点燃非工作状态，可随时进入测量状态，这种氘灯预燃状态，是经过灯丝预热和高压点火之后才能进入预燃或测量等待状态，不但可满足快速测量的需要，而且增加了氘灯寿命。
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