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公开(公告)号：CN105067119A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510519357.5
申请日：2015-08-21
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明提供一种视场分割干涉成像光谱仪，包括望远物镜、视场分割棱镜、干涉仪一、干涉仪二、准直透镜一、准直透镜二、傅里叶变换透镜一和傅里叶变换透镜二，视场分割棱镜为尖角反射棱镜，其设置于望远物镜的像面处，视场分割棱镜的顶点位于望远物镜的光轴处；来自望远物镜的光线由视场分割棱镜的两个反射面反射为两路反射光线，分别通过准直透镜一和准直透镜二进入干涉仪一和干涉仪二；傅里叶变换透镜一和傅里叶变换透镜二设置在干涉仪一和干涉仪二的出射光的光路中。本发明形成的两个视场分别用于不同的光谱范围，光学系统视场利用率高，系统信噪比高。
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公开(公告)号：CN105043550A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510555447.X
申请日：2015-09-01
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
Abstract: 本发明属于光学检测设备的光学组件，具体涉及一种双臂扫摆式干涉仪系统，包括底座上设置的分束镜、由第一反射镜和第二反射镜构成的反射通道，反射通道一端设有与透射光束垂直的第一后向反射镜以及与反射光束垂直的第二后向反射镜，所述第一、第二反射镜相对于底座摆动设置，第一、第二反射镜在摆动过程中镜面始终保持平行，且转轴垂直于透射光束和反射光束所在的平面。本发明的特点在于，首先它利用平面镜实现了光束的原路返回，对倾斜不敏感，便于设备的校准；其次它将动镜的直线运动转变为平台的扫摆运动，相对于直线运动而言，扫摆运动可以降低动镜驱动的复杂性，易于实现。
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公开(公告)号：CN103728022B
公开(公告)日：2015-11-04
申请号：CN201410020210.7
申请日：2014-01-16
Applicant: 北京航空航天大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种时空联合调制型干涉成像光谱仪数据坏像元的校正方法，包括步骤一：获得时空联合调制型干涉成像光谱仪中所有坏像元的位置。步骤二：通过时空联合调制型干涉成像光谱仪获取包含感兴趣目标地物点的图像。步骤三：通过数据处理，生成一个数据立方体。步骤四：确定坏点位置。步骤五：获取感兴趣目标地物所在区域的数据立方体数据，并对坏像元位置进行插值校正。步骤六：复原得到感兴趣目标地物点的光谱。本发明将时空联合调制型干涉成像光谱仪的数据整合成三维的数据立方体，充分利用两个空间维和一个光谱维数据，提高坏像元的插值精度，减弱提取的感兴趣目标点的干涉数据失真。
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公开(公告)号：CN103424190B
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201310389869.5
申请日：2013-09-02
Applicant: 南京理工大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明提供一种双楔板色散剪切干涉超光谱成像装置及方法,该装置包括前置光学系统、双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统、成像系统和信号处理系统；入射光进入前置光学系统，确定目标视场，消除杂散光并形成准直光束，进入双楔色散板Sagnac横向剪切分束系统，光被横向剪切，由于双楔板的色散作用，剪切距离随着光波长而变化，引入随波数变化的光程差信息进入成像系统，在成像物镜后焦面处的探测器靶面上得到携带干涉条纹的目标图像，旋转横向剪切分束器或整个系统获取目标各点不同光程差下的干涉信息，信号处理系统对干涉信息进行傅里叶变换，得到超分辨率的光谱信息及各个谱段的二维图像信息；本发明具有超光谱分辨率、高光通量、高目标分辨率的优点。
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公开(公告)号：CN103323124B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310208846.X
申请日：2013-05-30
Applicant: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种红外成像光谱仪及其对快速移动目标的超光谱成像方法，包括特殊结构的迈克尔逊干涉仪、第一光学望远系统、第二光学望远系统、第一聚焦透镜、第一中波面阵红外探测器、第二聚焦透镜、第二中波面阵红外探测器和控制系统；第一、第二光学望远系统分别沿光轴方向安装在迈克尔逊干涉仪的第一、第二输入端口前方；从第一、第二输出端口射出的干涉光分别经过第一聚焦透镜和第二聚焦透镜聚焦后，分别被第一中波面阵红外探测器和第二中波面阵红外探测器接收转换为模拟电信号并传输给控制系统；控制系统用于将模拟电信号转换为数字信号，并进行目标提取、空间窗口调整和傅里叶变换，生成超光谱立方图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103180698B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201080069829.7
申请日：2010-10-28
Applicant: 英派尔科技开发有限公司
Inventor： 拉尔夫·穆尓雷森
CPC classification number: G01N21/1702 , G01J3/18 , G01J3/4338
Abstract: 总地描述了一种光声气体传感器、系统和方法。在一些示例中，光声气体传感器包括光栅和操作为波长选择光调制器的MEMS反射镜阵列的组合，以及布置在气体样品区域周围的环形声传感器阵列。所述基于MEMS的光调制器可以适用于提供灵活的波长选择性，使得可以检测到大量的化合物。所述声传感器的环形阵列可以适用于测量光声产生的声信号，而不需要气体传感器的光声单元的谐振增强。在一些示例中，唯一的不相关确定性信号可以用于调制感兴趣的每一个波长。可以使用允许多个光波长的吸收谱的同时测量并且拒绝不想要的声噪声的信号处理。
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公开(公告)号：CN104792418A
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201510063542.8
申请日：2015-02-06
Applicant: 中国科学院电子学研究所
Abstract: 本发明提供了一种端面斜反射光波导傅立叶光谱仪。该傅立叶光谱仪在保持调制电极长度不变的情况下，通过采用端面斜反射结构进一步增加了两臂光程差，并且随波导端面斜反射结构数量的增加而提高，是传统的基于标准马赫-曾德尔干涉仪结构的集成光波导傅立叶光谱仪的2倍以上，进而提高了集成光波导傅立叶光谱仪的分辨率。此外，该端面斜反射光波导傅立叶光谱仪还具有体积小、重量轻、功耗低、用途广泛等优点。
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公开(公告)号：CN103822714B
公开(公告)日：2015-07-22
申请号：CN201410053286.X
申请日：2014-02-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0208 , G01J3/2823 , G01J3/453
Abstract: 一种基于偏振分光器的高空间分辨率快照式成像光谱仪与成像方法属于快照式成像光谱技术领域；该光谱仪在传统成像光谱仪的基础上，在准直镜和微透镜阵列之间设置有偏振分光器一，增加了成像臂光路；在光谱臂光路上，通过设置偏振分光器二，将传统单光路结构改变为平衡光谱臂和非平衡光谱臂的双光路结构；该成像方法，利用平衡光谱臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡光谱臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号，再经过去直流、切趾、相位校正和傅里叶变换处理，得到目标的图像和光谱信息；本发明不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息，而且可以大幅提高系统的空间分辨率和信噪比，有利于在精细测量领域中应用。
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公开(公告)号：CN104697634A
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201510107118.9
申请日：2015-03-11
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种极高分辨率光谱测量装置及方法，光谱测量装置包括FP干涉仪、SBS滤波器、探测器、数据采集模块和控制模块；FP干涉仪的第一输入端用于连接待测信号，FP干涉仪的第二输入端连接至控制模块的第一输出端；SBS滤波器的第一输入端连接至FP干涉仪的输出端，所述SBS滤波器的第二输入端连接至控制模块的第二输出端，探测器的输入端连接至SBS滤波器的第一输出端，数据采集模块的第一输入端连接至探测器的输出端，数据采集模块的第二输入端连接至SBS滤波器的第二输出端，控制模块的输入输出端连接至数据采集模块的输出输入端。本发明可以提高光谱测量分辨率的同时获得比现有FP干涉仪更大的测量范围。
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公开(公告)号：CN104634459A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201310548644.X
申请日：2013-11-07
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明提供相移及相倾可切换双模式干涉测量装置及方法，涉及光干涉计量测试领域，方法步骤为：首先，在干涉仪的参考镜处安装位移调整装置，可对参考镜进行平移或者倾斜调整。其次，干涉仪采用相移和相倾测试两种模式。在相移测试模式下，位移调整装置对参考镜位置进行等间隔平移调整，得到四幅相移干涉图，每一幅干涉图的相移量均为，干涉仪探测接收干涉图，并将其传入计算机，利用四步相移算法恢复待测件的被测相位；在相倾测试模式下，位移调整装置对参考镜进行推进以及倾斜调整，干涉仪探测接收大于6幅干涉图，并将其传入计算机，通过相倾干涉算法恢复待测件的被测相位。本发明结构简单，可在振动测量环境下得到高精度的干涉测量信息。
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