基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置及方法

    公开(公告)号:CN106872036A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201510916558.9

    申请日:2015-12-10

    Inventor: 李建欣

    CPC classification number: G01J3/447 G01J3/2823 G01N21/25

    Abstract: 基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置及方法,本发明包括偏振分束器、半波片、Wollaston棱镜、角锥反射体、成像物镜和探测器,来自目标的入射光在探测器上产生干涉,采用内置式的干涉扫描方式,由探测器获得目标的干涉图像信息,最后经过傅里叶变换光谱复原处理后得到目标的光谱信息。本发明首次将单个Wollaston棱镜和角锥反射体组合成横向剪切分束器,降低高光谱成像仪的复杂度和制造成本,并且提高系统的稳定性和复原光谱的精度。本发明提出的高光谱成像装置及方法可为低复杂度、高稳定性、轻小型化、多功能化的高光谱成像仪器提供一种有效的技术途径。

    基于Amici棱镜分光的多狭缝偏振成像光谱仪

    公开(公告)号:CN106840403A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201611247779.2

    申请日:2016-12-29

    CPC classification number: G01J3/447

    Abstract: 本发明公开了一种基于Amici棱镜分光的多狭缝偏振成像光谱仪,包括:前置望远物镜、偏振多狭缝、准直镜、双Amici棱镜、成像镜与探测器;其中,光辐射将无穷远处目标景物经过前置望远物镜成像于一次像面,一次像面处放置偏振多狭缝,光线经偏振多狭缝从准直镜平行出射后经过双Amici棱镜分光,分光后的光束通过成像镜,并由探测器获取目标景物的偏振光谱信息;其中,所述双Amici棱镜由三个三棱镜组成对称棱镜形式,所述偏振多狭缝为三狭缝结构。该方案通过将偏振多狭缝与双Amici棱镜相结合,得到更宽的视场范围。一次曝光可以直接获得目标景物的三个偏振信息,结合仪器整体推扫,可以获得目标景物的七维空间信息。

    LED多点多光谱准直测试光源设计

    公开(公告)号:CN103926002B

    公开(公告)日:2016-06-08

    申请号:CN201410141134.5

    申请日:2014-04-09

    Abstract: 本发明公开了一种LED多点多光谱准直测试光源设计,可实现不同载荷观测模式的成像功能测试、波段切换功能测试、多角度功能/视场测试,并可实现信噪比测试、全视场多波段成像质量定性检测、图像噪声检查以及偏振测量精度验证,本光源体积小、重量轻、功耗低、安全可靠、易装卸,能适应各种场景下功能测试与性能检测,使大气气溶胶多角度偏振探测仪在整个研制过程中都可以随时进行功能与性能检测,提高了效率,保证了载荷研制进度。

    一种固态超薄膜吸收光谱测量方法及相应的光谱测量装置

    公开(公告)号:CN103389278B

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201210146948.9

    申请日:2012-05-11

    Abstract: 本发明公开了一种测量固态超薄膜吸收光谱的方法及相应的光谱测量装置。本发明将被测试的固态超薄膜淀积在光波导导波层局部表面上,通过改变固态超薄膜上方介质的折射率而使分布在固态超薄膜内部的波导光能量发生变化,从而改变固态超薄膜对导波光的吸收,由此获得固态超薄膜的吸收光谱。本发明灵敏度高,操作简单,测量时间短,不仅能够用于分析固态超薄膜光谱的偏振依赖性和界面依赖性,还可用于制作化学和生物传感器。

    一种偏振态同步获取的光谱成像装置及其方法

    公开(公告)号:CN105157836A

    公开(公告)日:2015-12-16

    申请号:CN201510263599.2

    申请日:2015-05-21

    Abstract: 本发明提供一种偏振态同步获取的光谱成像装置及其方法,具有较高的能量利用率和实时性,且装置中不存在运动部件,具有非常好的稳定性。该偏振光谱成像装置,主要包括沿光路依次设置的前置光学系统、SAGNAC干涉仪、2X2傅氏镜阵列、偏振膜片以及探测器组件,目标光经过前置光学系统进入SAGNAC干涉仪,在SAGNAC干涉仪的分束面上产生透反比各为50%的两束光,从SAGNAC干涉仪出射的光束再经过2X2傅氏镜阵列、偏振膜片后,在探测器组件的感光面上产生干涉条纹;其中,偏振膜片对应于2X2傅氏镜阵列配置为四个不同偏振态的区域。

    快照式偏振高光谱相机及成像方法

    公开(公告)号:CN105021282A

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:CN201510391920.5

    申请日:2015-07-06

    CPC classification number: G01J3/0224 G01J3/02 G01J3/0278 G01J3/447

    Abstract: 本发明公开了一种快照式偏振高光谱相机及成像方法,该相机包括偏振片、图像传感器和光谱滤波器,所述光谱滤波器位于所述图像传感器上,所述偏振片位于所述图像传感器一侧;该方法包括:通过偏振片对入射光进行遮蔽和透过,得到不同偏振角度的光信号;通过图像传感器接收所述偏振片得到的不同偏振角度的光信号,并将所述不同偏振角度的光信号转换为电信号;通过光谱滤波器接收所述图像传感器转换得到的所述电信号,并对所述电信号进行滤波处理,得到预设波长的高频电信号。通过在传感器平铺式像素阵列上集成光谱滤波器实现对快速变化场景进行成像;同时,通过在特定波长的每个通道内粘贴多个偏振片来实现更精细的成像。

    一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法

    公开(公告)号:CN103134592B

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:CN201310040729.7

    申请日:2013-01-31

    Abstract: 本发明公开了一种透射式全穆勒矩阵光谱椭偏仪及其测量方法,方法是将起偏臂产生的调制光线投射到待测样件表面,检偏臂将待测样件反射(或透射)的光线解调并接收,通过对测量光谱进行谐波分析,计算获得待测样件的全穆勒矩阵信息,并通过非线性回归,库匹配等算法拟合提取待测样件的光学常数,特征形貌尺寸等信息。椭偏仪包括起偏臂(包括光源,透镜组,起偏器和伺服电机驱动的补偿器),待测样件和检偏臂(包括伺服电机驱动的补偿器,检偏器,透镜组和光谱仪)。本发明可实现各种信息光电子功能材料和器件,以及纳米制造中各种纳米结构的在线测量,具有非破坏性,快速和低成本的特点。

    快照式积分视场成像全偏振高光谱探测装置

    公开(公告)号:CN103592030B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201310507508.6

    申请日:2013-10-24

    Inventor: 穆廷魁

    Abstract: 本发明公开一种快照式积分视场成像全偏振高光谱探测装置,由沿入射光向依次设置的前置光学镜组、积分视场单元、准直镜组、全偏振调制模块、光谱分光模块、成像镜组、面阵探测器和数据采集处理系统组成;二维空间目标发出的光依次进入所述前置光学镜组、积分视场单元、准直镜组、全偏振调制模块、光谱分光模块、成像镜组,最终到达面阵探测器,利用数据采集处理系统控制面阵探测器快照一帧图像得到各偏振分量对应的高光谱图像的分布信息,然后数据采集处理系统提取和处理该帧图像数据得到被测二维空间目标的空间形貌、一维高光谱、全Stokes偏振参数三方面的信息。本发明可实时获取空间、光谱、偏振三维信息。

    一种获取偏振超光谱信息的装置及获取方法

    公开(公告)号:CN103323116B

    公开(公告)日:2015-06-03

    申请号:CN201310188109.8

    申请日:2013-05-20

    Abstract: 本发明公开了一种获取偏振超光谱信息的装置及获取方法,该方法通过空间外差光谱仪外加前置偏振调制模块,获取偏振超光谱信息。通过旋转偏振调制模块中偏振片并采集0度、60度、120度三个偏振方向上的空间外差调制干涉图,分别经傅里叶变换获取三个偏振方向上的偏振光谱数据,再进行计算获得偏振光谱信息,包括偏振强度光谱、偏振度光谱等信息。本发明充分利用了空间外差光谱技术高通量、超光谱获取的优势,扩展了空间外差光谱技术的遥感信息获取能力,实现了高通量、超分辨的偏振光谱信息获取。

    一种基于空间振幅调制的光谱偏振探测系统及探测方法

    公开(公告)号:CN104483021A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201410796345.2

    申请日:2014-12-18

    Inventor: 李双 刘强

    Abstract: 本发明公开了一种基于空间振幅调制的光谱偏振探测系统及探测方法,可实现目标的高精度光谱偏振参数探测。利用波片、光劈调制器和线偏振片将偏振信息调制在与光谱色散方向相垂直的空间方向上,准直镜头将来自狭缝的光进行准直照射到光栅上,光栅对入射光进行分光,成像镜头将光谱偏振信息成像在面阵探测器上,其“空间维”用于偏振测量,“光谱维”用于光谱测量。本发明实现偏振信息获取与光谱信息获取相互独立,使得光谱测量和偏振测量同时优化。本发明解决了背景技术中光谱强度调制方法中偏振信息获取对光谱分辨率的依赖。

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