Abstract:
Eine Spektrometer-Anordnung (10) enthält eine Strahlungsqeulle (11) mit kontinuierlichem Spektrum, einen Vormonochromator (2) zur Erzeugung eines Spektrums mit relativ geringer Lineardispersion aus welchem ein Spektrenausschnitt selektierbar ist, dessen spektrale Bandbreite kleiner oder gleich der Bandbreite des freien Spektralbereiches derjenigen Ordnung im Echelle-Spektrum ist, in der die Mittenwellenlänge des selektierten Spektrenausschnitts mit maximaler Blazeeffektivität messbar ist, ein Echelle-Spektrometer (4) mit Mitteln zur Wellenlängenkalibrierung, einen Eintrittsspalt (21) an dem Vormonochromator (2), eine Zwischenspalt-Anordnung (3) mit einem Zwischenspalt und einen ortsauflösenden Strahlungsempfänger (5) in der Austrittsebene des Spektrometers zur Detektion von Wellenlängen-Spektren. Die Anordnung ist dadurch gekennzeichnet, daβ die Breite des Zwischenspalts (3) gröβer ist, als das durch den Vormonochromator am Ort des Zwischenspaltes entstehende monochromatische Bild des Eintrittspaltes und Mittel zur Kalibrierung des Vormonochromators vorgesehen sind, durch welche die auf den Detektor abgebildete Strahlung der Strahlungsquelle mit kontinuierlichen Spektrum auf eine Referenzposition kalibrierbar ist.
Abstract:
Eine Spektrometeranordnung (10) enthaltend ein Echelle-Gitter (18; 46) zur Dispersion der in die Spektrometeranordnung (10) eintretenden Strahlung in einer Hauptdispersionsrichtung, und eine Dispersionsanordnung (16; 40) zur Dispersion eines aus der in die Spektrometeranordnung eintretenden Strahlung erzeugten parallelen Strahlenbündels in einer Querdispersionsrichtung, ist dadurch gekennzeichnet, dass die Dispersionsanordnung (16; 40) reflektierend und in Bezug auf das Echelle-Gitter (18; 46) derart angeordnet ist, dass das parallele Strahlenbündel in Richtung auf das Echelle-Gitter reflektiert wird. Das Echelle-Gitter (18; 46) kann vorzugsweise derart angeordnet sein, dass die dispergierte Strahlung zurück in Richtung auf die Dispersionsanordnung (16; 40) reflektiert wird. )
Abstract:
Ein hochauflösendes Spektrometer (10) ist mit einem Eintrittsspalt (12), einem dispergierenden Element (16), einer Kameraoptik (14), und einer Detektoranordnung mit einem Detektor (22) ausgestattet. Die optischen Komponenten sind analog zu einer Littrow-Anordnung so zueinander angeordnet, dass Strahlung, welche durch den Eintrittsspalt (12) in das Spektrometer (10) eintritt, mittels der Kameraoptik (14) auf das dispergierende Element (16), und danach bis auf einen kleinen Winkel (y) in sich zurück über die gleiche Kameraoptik (14) leitbar und auf dem Detektor (22) fokussierbar ist. Es sind ferner Mittel (18, 20) zur Erzeugung einer Mehrfachdispersion durch das dispergierende Element (16) vorgesehen. Das Spektrometer ist dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zur Erzeugung der Mehrfachdispersion wenigstens zwei reflektierende, ebene Flächen (18, 20) umfassen, die miteinander einen rechten Winkel bilden und welche die dispergierte und fokussierte Strahlung (3) zuerst in Richtung auf eine der jeweils anderen reflektierenden Flächen und dann in Richtung auf das dispergierende Element (16) zurückreflektieren. Die reflektierenden Flächen sind so angeordnet sind, dass sich der Eintrittsspalt (12) in der Schnittlinie der Ebenen befindet, welche durch die reflektierenden Flächen (18, 20) definiert sind.
Abstract:
Eine Vorrichtung (10) zur Bestimmung von Element-Konzentrationen in Proben enthält eine Kontinuums-Strahlungsquelle (14), ein hochauflösendes Spektrometer (28),ein abbildendes optisches System (16, 22 26), mit welchem die Strahlung der Strahlungsquelle (14) auf den Eintrittsspalt (52) des Spektrometers (28) abbildbar ist, und einen Detektor (32) in der Austrittsspaltebene des Spektrometers (28), welcher eine Mehrzahl von Detektorelementen aufweist, mit welcher ein spektraler Bereich abtastbar ist, in welchem wenigstens eine Spektrallinie wenigstens eines zu bestimmenden Elements liegt, wobei auch ein Umgebungsbereich dieser Spektrallinie von dem abtastbaren Bereich erfassbar ist. Die Vorrichtung (10) ist dadurch gekennzeichnet, dass durch das abbildende optische System (16, 22, 26) wenigstens drei reelle Bilder der Strahlungsquelle (14) erzeugt werden, ein Probenraum (34) am Ort eines ersten reellen Bilds (18) vorgesehen ist und ein Probenraum (36) am Ort eines weiteren reellen Bilds (24) vorgesehen ist. Die Atomisierungsvorrichtung kann ein Graphitrohr (36) oder eine Flamme (34) sein und eine Emission mittels ICP-Fackel erzeugt werden. Das Spektrometer (28) ist ein Echelle-Spektrometer.