Abstract:
Le photodétecteur comporte une zone absorbante (1) formée par un premier matériau semi-conducteur ayant une première valeur d'énergie de bande interdite. Il comporte également une zone de blocage (3e, 3c) formée par au moins des deuxième et troisième matériaux semi-conducteurs configurés pour s'opposer au passage des porteurs de charge majoritaires entre la zone absorbante (1) et une zone de contact (2e, 2c), le deuxième matériau semi- conducteur présentant une deuxième valeur d'énergie de bande interdite supérieure à la première valeur d'énergie de bande interdite pour former un puits quantique avec le troisième matériau semi-conducteur. La zone de blocage (3e, 3c) est dopée.
Abstract:
Le circuit de détection comporte un interrupteur (4) connecté entre une photodiode (1) et un intégrateur (3). Il comprend encore des moyens (6) de basculement alternatif des conditions de polarisation de la photodiode (1) entre une polarisation inverse et un autre état. Les pièges électroniques présents dans la photodiode (1) sont passivés régulièrement durant l'autre état.
Abstract:
Le dispositif de détection comporte des premier et deuxième photodétecteurs (1a, 1b) sensibles chacun à deux gammes de longueurs d'onde différentes. Le dispositif de détection comporte un premier filtre (4a) configuré pour laisser passer la première gamme de longueurs d'onde et pour bloquer la deuxième gamme de longueurs d'onde. Le premier filtre recouvre le premier photodétecteur (1a) et laisse découvert le deuxième photodétecteur (1b). Le dispositif de détection comporte un deuxième filtre (4b) disposé à distance du premier et du deuxième photodétecteurs (1a, 1b) et à distance du premier filtre (4a). Le deuxième filtre (4b) est configuré pour laisser passer la première et la deuxième gammes de longueurs d'onde. Un circuit de traitement (5) est configuré pour recevoir des signaux électriques en provenance des premier et deuxième photodétecteurs (1a, 1b) et fournir une information relative au rayonnement de la deuxième gamme de longueurs d'onde par comparaison du premier signal avec le deuxième signal (7a).
Abstract:
The invention provides an X ray detector comprising at least one high resistivity, type II-VI semiconductor material on which are arranged two or more electrical contacts, at least one of which is selected from the group of blocking contacts.
Abstract:
Le circuit imprimé flexible à faible émissivité comprend des premier et second extrémités (48a, 48b), et une partie centrale flexible (50) s'étendant entre les première et seconde extrémités et comportant des pistes électriquement conductrices (52), enrobées dans un matériau polymère, pour relier électriquement les première et seconde extrémités. La partie centrale flexible est couverte au moins en partie par un écran thermique (54) formé dans un matériau ayant une émissivité inférieure à celles du matériau polymère et des pistes électriquement conductrices.
Abstract:
Le substrat (3) comporte successivement une première couche semiconductrice (5) ayant une première énergie de bande interdite, une couche semiconductrice tampon (6), une deuxième couche semiconductrice (7) ayant une deuxième énergie de bande interdite différente de la première énergie de bande interdite. Deux photodétecteurs (1, 2) sensibles à deux couleurs différentes sont formés respectivement au moyen de la première et de la deuxième couches semiconductrices (5, 7). La première couche semiconductrice (5) comporte deux faces principales opposées. La première face principale est recouverte par la deuxième couche semiconductrice (7). La deuxième face principale est découverte ou recouverte par un film de passivation (4) ayant une épaisseur inférieure ou égale à 3μm.
Abstract:
Le dispositif de détection comporte un circuit de lecture (2) formé dans un premier substrat semi-conducteur. Un circuit de détection (1) est associé au circuit de lecture (2). Un écran froid (4) est solidaire du circuit de détection (1) et du circuit de lecture (2). L'écran froid (4) est électriquement conducteur et est fixé au premier substrat de manière à définir un espace fermé contenant le circuit de détection (1).
Abstract:
The detection circuit comprises a detector connected to an integration node. A bias circuit biases the detector between a first bias state and a second floating state. The potential of the integration node is at a target value when the bias circuit biases the detector to the first state and varies when the detector is in floating state. A measurement circuit without charge losses delivers a value representative of the potential present on the integration node N. A transfer circuit of the electric charges performs transfer of the electric charges from a stray capacitor of the photodiode to an integration capacitor. An output terminal delivers a voltage representative of the potential present on the second terminal of the first capacitor.
Abstract:
An electromagnetic radiation detection circuit includes a photodetector transforming the received electromagnetic radiation into an electric current. A readout circuit is coupled to a first terminal of the photodetector and configured to transform a current signal into a voltage signal. A capacitor has a first terminal electrically coupled to the first terminal of the photodetector and a second terminal electrically coupled to the readout circuit. A resistor has a first terminal electrically coupled to the capacitor and to a first terminal of the photodetector. A bias circuit is electrically coupled to a second terminal of the resistor and configured to bias the photodetector during a first time period by means of the resistor.
Abstract:
A pixel matrix is arranged in line of pixels. Each pixel is either in a first state or in a second state. The matrix mainly contains pixels in the second state. Each line of pixels is tested in order to determine whether it contains or not a pixel in a first state. The result from this test for each line is sent into a receiver. The lines including at least one pixel in the first state are more accurately analyzed in order to determine the position of this or these pixel in the line.