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公开(公告)号：CN105425185A
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201510822733.8
申请日：2015-11-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种平面波幅性能直角坐标扫描校准系统，该系统包括接收天线、平面波输入模块、直角坐标扫描架、采集及处理模块；平面波输入模块，用于输入能够均匀照射在静区内的平面波信号；直角坐标扫描架，用于在静区中心截面十字线上进行水平极化和垂直极化方向移动；接收天线，安装在与平面波所在辐射场信号传播方向正交的直角坐标扫描架上，用于对静区内的平面波信号进行探测；采集及处理模块，用于采集来自所述接收天线测得的平面波信号，并计算得到所示平面波的幅度和相位信息。本发明所述技术方案，可计算得出测试频点或频段上在静区内的幅度和相位分布，实现对紧缩场静区平面波幅相特性测量校准的目的。
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公开(公告)号：CN104569960A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410800283.8
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S13/06
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种双站雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，包括在暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定发射天线和接收天线所在位置；以发射天线和接收天线所在位置作为焦点，分别以测试区中任意一点离发射天线和接收天线的距离之和的最大及最小值作为椭圆的长轴长度，在暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步散射点区域。该方法可快速找到暗室内发射天线到同步散射点部位的距离与该部位到接收天线的距离之和与发射天线到待测目标的距离与待测目标到接收天线的距离之和相等的同步散射点最大区域。
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公开(公告)号：CN104569941A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410800249.0
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种双站雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，包括：在暗室中建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定发射天线和接收天线所在位置；以所述发射天线和所述接收天线的所在位置为焦点，以测试区中待测目标所在位置分别与所述发射天线和所述接收天线的距离之和为长轴长度，在暗室中构建一个椭球面；所述同步散射点位于所述椭球面及其与所述暗室各面和内部空间的交汇处。该方法可快速找到暗室内发射天线到同步散射点部位的距离与该部位到接收天线的距离之和与发射天线到待测目标的距离与待测目标到接收天线的距离之和相等的同步散射点位置。
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公开(公告)号：CN104569940A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410796710.X
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置为圆心，分别以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射再直达处于测试区的待测目标的最远和最近的距离为半径在紧缩场暗室中构建两个圆球面；两个圆球面及两个圆球面之间的空间即为同步散射点区域。通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的存在干扰作用的散射信号的同步散射点最大区域。
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公开(公告)号：CN104535858A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410796746.8
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度，在紧缩场暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。通过对这些区域添加高性能的吸波材料或移去这些干扰反射源，减小这些区域反射对待测目标反射信号测量精度的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119846316A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411918738.6
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请提供一种测量脉冲短路电流参数系统、方法、设备及存储介质，实现对浪涌脉冲短路电流参数的测量。该系统包括：转接器，将浪涌发生器的输出端，转换为适用于同轴电缆的接口，通过同轴电缆与电压电流转换装置的一端相连，其中，浪涌发生器的输出端输出浪涌发生器生成的电流信号；短路器，短路器与电压电流转换装置的另一端相连，用于将浪涌发生器的输出端短路，以生成短路电流信号；电压电流转换装置，电压电流转换装置内固定有电流探头，电流探头用于感应短路电流信号，以及转换短路电流信号为可测量的电压信号，并从电流探头的输出端输出；示波器，示波器的输入端与电流探头的输出端相连，用于显示电流探头的输出端输出的电压信号的波形。
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公开(公告)号：CN109301508A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201811124218.2
申请日：2018-09-26
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种用于紧缩场校准的天线装置，包括校准频率低于40GHz的第一天线组件和高于40GHz的第二天线组件；以及安装有40GHz以下的低噪声放大器的固定组件；其中，所述固定组件上布置用于固定天线组件的若干调节孔，所述若干调节孔形成多个装配第一天线组件和第二天线组件的预设排列，从而两个天线组件可择一地装配在形成其中一个预设排列的若干调节孔上。通过设置的多组调节孔来实现对不同频率和尺寸的天线的安装，从而实现天线装置的通用性设计。
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公开(公告)号：CN108802501A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201810352901.5
申请日：2018-04-19
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
CPC classification number: G01R29/0871
Abstract: 本申请公开了一种紧缩场扫描装置，解决使用现有技术的扫描架测量误差大的问题。装置包含扫描架、激光准直仪；所述扫描架包含方位调节机构、俯仰调节机构、水平扫描架、竖直扫描架、补偿机构；所述激光准直仪包含发射装置和接收装置；所述发射装置位于地面上方固定点，用于产生与场平面平行的激光束；所述接收装置固定于所述运动筒的端部，用于接收所述激光束。所述接收装置接收到激光束后，检测出偏移量；所述控制单元接收所述偏移量，控制所述补偿机构，使所述偏移量减小。本申请的装置提高紧缩场平面波相位检测精度，避免了手动、效率低、速度慢等缺陷。
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公开(公告)号：CN104535858B
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201410796746.8
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度，在紧缩场暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。通过对这些区域添加高性能的吸波材料或移去这些干扰反射源，减小这些区域反射对待测目标反射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN104567672B
公开(公告)日：2017-07-04
申请号：CN201410827936.1
申请日：2014-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种大型紧缩场扫描架系统，它包括激光平面准直仪、高精度平台和大型紧缩场扫描架；一种大型紧缩场扫描架系统空间几何量的调整方法，其步骤如下：步骤一、调整高精度平台至水平；步骤二、测量得到标尺的位置线与理论参考线的夹角；步骤三、调整标尺位置线与理论参考线重合；步骤四、产生参考激光平面；步骤五、使光学接收靶标可以接收到激光平面发生器发射出的激光信号；步骤六、设置直线运动模块达到要求的水平度；步骤七、测量得到直线运动模块的位置线与理论参考线的夹角；步骤八、使得直线运动模块的位置线与理论参考线重合；步骤九、调整光学接收靶标处于参考激光平面内；本发明可以保证扫描平面具有很高的平面度精度，为紧缩场静区测量提供关键技术支撑。
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