晶片加工用带
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105694743A

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201510869333.2

    申请日:2015-12-02

    Abstract: 本发明提供一种晶片加工用带,其能够降低标签痕迹的产生,且能够降低空气(air)在粘接剂层与脱模膜之间的卷入。其特征在于,具有:长的脱模膜(11);粘接剂层(12),其设置在脱模膜(11)的第1面上、且具有规定的平面形状;粘合膜(13),其具有标签部(13a)和包围标签部(13a)的外侧的周边部(13b),标签部(13a)以覆盖粘接剂层(12)、且在粘接剂层(12)的周围与上述脱模膜(11)接触的方式设置,并且具有规定的平面形状;以及支承构件(14),其设置在脱模膜(11)的与第1面相反的第2面上、且设置在脱模膜(11)的短边方向的两端部,支承构件(14)具有粘接剂层(12)的厚度的0.3倍以上且小于1.0倍的厚度。

    晶片加工用带
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105694747B

    公开(公告)日:2019-07-12

    申请号:CN201510870431.8

    申请日:2015-12-02

    Abstract: 本发明提供一种晶片加工用带,其能够降低标签痕迹的产生,且能够降低空气(air)在粘接剂层与粘合膜之间的卷入。其特征在于,具有:长的脱模膜(11);粘接剂层(12),其设置在脱模膜(11)的第1面上、且具有规定的平面形状;粘合膜(13),其具有标签部(13a)和包围标签部(13a)的外侧的周边部(13b),标签部(13a)以覆盖粘接剂层(12)、且在粘接剂层(12)的周围与上述脱模膜(11)接触的方式设置,并且具有规定的平面形状;以及支承构件(14),其设置在脱模膜(11)的与第1面相反的第2面上、且设置在脱模膜(11)的短边方向的两端部,支承构件(14)具有粘接剂层(12)的厚度的1.0倍以上且4.0倍以下的厚度。

    晶片加工用带
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105694746B

    公开(公告)日:2018-10-16

    申请号:CN201510870410.6

    申请日:2015-12-02

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种晶片加工用带,其可以减少标签痕迹的产生、且可以减少在胶粘剂层与粘合膜之间卷入空气。其特征在于,具有:长的脱模膜(11);胶粘剂层(12),设置在脱模膜(11)的第1面上、且具有规定的平面形状;粘合膜(13),具有标签部(13a)和包围标签部(13a)的外侧的周边部(13b),标签部(13a)以覆盖胶粘剂层(12)、且在胶粘剂层(12)的周围与脱模膜(11)接触的方式设置,并且具有规定的平面形状;以及支承构件(14),设置在脱模膜(11)的与第1面相反的第2面上,且设置于脱模膜(12)的短边方向的任意一个端部、并且设置在与第1面中的标签部(13a)的接触于脱模膜(12)的区域所达到的区域对应的区域。

    晶片加工用带
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105694747A

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201510870431.8

    申请日:2015-12-02

    Abstract: 本发明提供一种晶片加工用带,其能够降低标签痕迹的产生,且能够降低空气(air)在粘接剂层与粘合膜之间的卷入。其特征在于,具有:长的脱模膜(11);粘接剂层(12),其设置在脱模膜(11)的第1面上、且具有规定的平面形状;粘合膜(13),其具有标签部(13a)和包围标签部(13a)的外侧的周边部(13b),标签部(13a)以覆盖粘接剂层(12)、且在粘接剂层(12)的周围与上述脱模膜(11)接触的方式设置,并且具有规定的平面形状;以及支承构件(14),其设置在脱模膜(11)的与第1面相反的第2面上、且设置在脱模膜(11)的短边方向的两端部,支承构件(14)具有粘接剂层(12)的厚度的1.0倍以上且4.0倍以下的厚度。

    晶片加工用带
    17.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105694745A

    公开(公告)日:2016-06-22

    申请号:CN201510870409.3

    申请日:2015-12-02

    CPC classification number: C09J7/20 C09J2203/326 H01L21/6836

    Abstract: 本发明的课题在于提供一种晶片加工用带,其可以减少标签痕迹的产生,且可以不论胶粘剂层的厚度如何地选择支承构件,同时可以减少在胶粘剂层与粘合膜之间卷入空气。其特征在于,具有:长的脱模膜(11);胶粘剂层(12),设置在脱模膜(11)的第1面上、且具有规定的平面形状;粘合膜(13),具有标签部(13a)和包围标签部(13a)的外侧的周边部(13b),标签部(13a)以覆盖胶粘剂层(12)、且在胶粘剂层(12)的周围与脱模膜(11)接触的方式设置,并且具有规定的平面形状;以及支承构件(14),设置在脱模膜(11)的与第1面相反的第2面上,并且在包含与胶粘剂层(12)对应的部分、且不包含与标签部(13a)的在所述脱模膜(11)的短边方向上的端部对应的部分的区域内,沿脱模膜(11)的长边方向设置。

    晶片加工用薄膜
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101814432B

    公开(公告)日:2012-03-21

    申请号:CN201010117459.1

    申请日:2010-02-20

    CPC classification number: H01L2224/29014

    Abstract: 本发明提供不增加材料成本或制造工序,能够以简单的结构,充分地抑制向粘接剂层的转印痕的发生的晶片加工用薄膜。将晶片加工用薄膜(10)的标记部(13a)预切割如下,即:在标记部的外周(13c)中,至少在晶片加工用薄膜(10)以辊状卷绕时与粘接剂层(12)重叠的外周转印区域(13d)中,从使粘接剂层(12)的中心部到所述外周转印区域(13d)的距离为最短的长度设为r时,外周转印区域(13d)的全长比半径为r的圆弧长度的外周转印区域的全长长,减轻施加于标记部(13a)的外周转印区域(13d)的应力,由此抑制转印痕的发生。

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