公开(公告)号：CN102954765A

公开(公告)日：2013-03-06

申请号：CN201210285463.8

申请日：2012-08-10

Applicant: 大塚电子株式会社

Inventor： 山崎雄介 ,  冈本宗大

IPC: G01B11/06 ,  G01N21/21

CPC classification number: G01B11/06 ,  G01B11/0625 ,  G01B11/0641 ,  G01N21/211 ,  G01N2021/213

Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置以及光学特性测量方法。光学特性测量装置(100)具备光源(10)、检测器(40)以及数据处理部(50)。数据处理部(50)具备建模部、分析部以及拟合部。将多个膜模型方程式联立，假设包含在多个膜模型方程式中的光学常数相同来进行规定的运算，通过进行将算出的膜的膜厚以及光学常数代入膜模型方程式而获得的波形与由检测器(40)获取的波长分布特性的波形的拟合来判定包含在多个膜模型方程式中的光学常数是否相同，由分析部算出的膜的膜厚以及光学常数是否为正确的值。

公开(公告)号：CN308733796S

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202330656345.2

申请日：2023-10-11

Applicant: 大塚电子株式会社

Designer： 佐野弘幸 ,  下田健作 ,  冈本宗大 ,  后藤秀平 ,  中岛健

Abstract: 1.本外观设计产品的名称：立体显微镜的主体。
2.本外观设计产品的用途：要求保护的局部外观设计所在的整体和要求保护的局部外观设计均用于观察、测定、分析试样等。
3.本外观设计产品的设计要点：在于要求保护的局部的形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
5.其他需要说明的情形其他说明：涂敷红色的部分为不请求保护的局部，未涂敷红色的部分为请求保护的局部。

公开(公告)号：CN308680682S

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN202330656355.6

申请日：2023-10-11

Applicant: 大塚电子株式会社

Designer： 佐野弘幸 ,  下田健作 ,  冈本宗大 ,  后藤秀平 ,  中岛健

Abstract: 1.本外观设计产品的名称：立体显微镜的台部。
2.本外观设计产品的用途：要求保护的局部外观设计所在的整体用于观察、测定、分析试样等，要求保护的局部外观设计用于载置试样等。
3.本外观设计产品的设计要点：在于要求保护的局部的形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
5.其他需要说明的情形其他说明：涂覆红色的部分为不请求保护的局部，未涂覆红色的部分为请求保护的局部。