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公开(公告)号：CN106157981B
公开(公告)日：2018-08-24
申请号：CN201610285006.7
申请日：2016-05-03
Applicant: 日本发条株式会社
IPC: G11B5/48
CPC classification number: G11B5/486 , G11B5/484 , G11B5/4853
Abstract: 一弯曲结构(10)，用于在上面安装多个再生装置(4a，4b)，包括一金属基体(20)和一互联部分(30)。金属基体(20)包括一第一区域(21)，以及形成于一窗口部分(26)内的一第二区域(22)。互联部分(30)包括一绝缘层(31)，绝缘层(31)包括覆盖第一区域(21)的一第一通道和覆盖第二区域(22)的一第二通道(36)，连接一记录装置(3)的一写入磁道对(40)，设置于第二通道(36)上以面对窗口部分(26)并分别与再生装置(4a，4b)连接的读取磁道对(51，52)，以及设置于两个邻近的读取磁道对(51，52)之间并在两个端部(71a，71b)处设置有接地点的一接地磁道(71)。
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公开(公告)号：CN102565133A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201110406518.1
申请日：2011-12-08
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 用于检测压电元件中裂纹的方法和设备。一种在介于一对电极之间并且根据通过所述一对电极施加到其上的电压变形的压电元件中检测一个或多个裂纹的方法。所述方法包括以下步骤：至少在所述压电元件的谐振频率下将电压通过所述一对电极施加到所述压电元件；测量在所施加的电压下所述一对电极之间的介电损耗角正切；和根据所述测得的介电损耗角正切检测是否所述压电元件中存在裂纹。所述压电元件的介电损耗角正切在谐振频率下根据所述压电元件是否具有裂纹而具有大峰值或没有峰值。因此，所述方法根据在谐振频率下测得的所述压电元件的介电损耗角正切容易地并且确定地检测是否所述压电元件具有裂纹。
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公开(公告)号：CN101887731B
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201010183515.1
申请日：2010-05-14
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 荒井肇
CPC classification number: G11B5/4833 , G11B5/484
Abstract: 第一导体件(55)包括放大器侧第一导体(55a)、磁头侧第一导体(55b)、以及第一和第二交错导体(61，62)。第二导体件(56)包括放大器侧第二导体(56a)、磁头侧第二导体(55b)、以及第三和第四交错导体(63，64)。第二交错导体(62)通过第一跨接导体(91)与放大器侧第一导体(55a)连接。第四交错导体(64)通过第二跨接导体(92)与磁头侧第二导体(56b)连接。跨接导体(91，92)通过部分蚀刻金属基部(50)而形成。跨接导体(91，92)分别相对于沿每个所述交错导体(61-64)的接线方向延伸的轴线(X)成小于45°或更小的角度。
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公开(公告)号：CN101826331B
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN201010134362.1
申请日：2010-03-04
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 荒井肇
CPC classification number: G11B5/486 , G11B5/4846
Abstract: 本发明涉及盘片驱动器的柔性件。一种柔性件(40)包括金属基底(50)、绝缘层(52)以及第一和第二导体(55)和(56)。第一和第二开口(65)和(66)形成为相对于金属基底(50)沿纵向延伸。这些开口(65)和(66)相对于金属基底(50)沿纵向以预定的间隔(P1)形成。金属基底(50)包括沿其纵向连续的接地区域(60)和(61)、相对于金属基底(50)沿横向延伸的梯状部分(67)以及形成在开口(65)和(66)之间的带状部分(68)。带状部分(68)设置成当从上方沿厚度方向垂向观看金属基底(50)时与导体(55)和(56)之间的间隙(G)交叠。带状部分(68)沿着导体(55)和(56)相对于金属基底(50)沿纵向延伸。在接地区域(60)和(61)与带状部分(68)之间形成接合部(80)和(81)。
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公开(公告)号：CN101887731A
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN201010183515.1
申请日：2010-05-14
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 荒井肇
CPC classification number: G11B5/4833 , G11B5/484
Abstract: 第一导体件(55)包括放大器侧第一导体(55a)、磁头侧第一导体(55b)、以及第一和第二交错导体(61，62)。第二导体件(56)包括放大器侧第二导体(56a)、磁头侧第二导体(55b)、以及第三和第四交错导体(63，64)。第二交错导体(62)通过第一跨接导体(91)与放大器侧第一导体(55a)连接。第四交错导体(64)通过第二跨接导体(92)与磁头侧第二导体(56b)连接。跨接导体(91，92)通过部分蚀刻金属基部(50)而形成。跨接导体(91，92)分别相对于沿每个所述交错导体(61-64)的接线方向延伸的轴线(X)成小于45°或更小的角度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1825434A
公开(公告)日：2006-08-30
申请号：CN200610008346.1
申请日：2006-02-17
Applicant: 日本发条株式会社
CPC classification number: G11B21/16 , G11B5/10 , G11B5/4853 , H05K1/0259 , H05K1/056 , H05K1/167
Abstract: 本发明提供磁头悬挂装置，其不使用静电清除器或不增加制造工序的数量而可防止读元件的静电放出损坏。磁头悬挂装置具有负载梁以向从硬盘读数据和向硬盘写数据的磁头(21)加载，由导电薄衬底制成的挠曲部分(7)连接到负载梁上并支撑磁头，由挠性树脂制成的绝缘基层(35)形成于挠曲部分的衬底上，写导线(29)和读导线(31)连接到磁头且形成于绝缘基层上，绝缘覆盖层(41、43)覆盖绝缘基层上的写和读导线。绝缘覆盖层(41、43)由微导电挠性树脂制成。
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公开(公告)号：CN117405930A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202310857376.3
申请日：2023-07-13
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 本发明的探针座保持分别在长度方向上的两端部与接触对象的电极接触的接触探针，具备：第一层叠部件，其由多个部件层叠而成；以及第二层叠部件，其由多个部件层叠而成，并与第一层叠部件接合，第一层叠部件和第二层叠部件分别具有：第一部件，其由介电常数低的材料构成；第二部件，其设置在第一部件的一个表面上，并具有比该第一部件高的硬质性；以及第三部件，其设置在第一部件的另一个表面上，并具有比该第一部件高的硬质性，探针座将第一层叠部件及第二层叠部件的第三部件彼此接合而成，形成有保持孔，其在第一层叠部件和第二层叠部件的层叠方向上贯穿，并第二部件侧呈直径缩小的带台阶孔状。该探针座能够抑制在高频时的损耗增大。
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公开(公告)号：CN103093764B
公开(公告)日：2016-03-09
申请号：CN201210430657.2
申请日：2012-11-01
Applicant: 日本发条株式会社
Inventor： 荒井肇
CPC classification number: G11B5/4846 , G11B5/1272 , G11B5/4826 , G11B5/484 , G11B5/486 , H05K1/0245 , H05K1/0277 , H05K1/0298 , H05K1/056 , H05K1/18 , H05K1/189 , H05K3/0011 , H05K3/18 , H05K2201/05 , H05K2201/09245 , H05K2201/097 , H05K2201/2009 , Y10T29/49194
Abstract: 本发明涉及一种包括挠曲件的磁头悬架的布线结构。所述挠曲件支撑磁头并附接到给磁头施加负载的负载梁，所述布线结构包括形成在挠曲件上并连接到磁头的写布线和读布线，每个都具有相反极性的导线。该布线结构还包括堆叠交错部件，堆叠交错部件具有电连接到写布线的各个导线的段，该段通过电绝缘层堆叠在导线上并面对它，从而面对的导线和段具有相反的极性。
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公开(公告)号：CN102446514B
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201110310139.2
申请日：2011-09-30
Applicant: 日本发条株式会社
Abstract: 一种挠曲件的布线结构，其包括布线，其包含第一极性的迹线和第二极性的迹线，其传输信号至磁头和从磁头传输信号，所述磁头被挠曲件以及布线支持，将数据写入记录介质以及从记录介质读取数据；和交错部分，其至少部分地形成在所述布线中，在交错部分，每个所述迹线分为子迹线，所述子迹线在所述布线的宽度方向上交替，在所述交错部分的每一侧上，每个所述迹线的所述子迹线相互连接，每个所述迹线的外部子迹线比相同迹线的内部子迹线更窄。所述布线结构减少在交错部分的布线的信号传输损耗的频率特性(频损特性)中的局部下降。
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