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11.

发明授权
电子部件操作装置、电子部件测试装置以及插座有权

公开(公告)号：CN113030599B

公开(公告)日：2024-08-20

申请号：CN202011348959.6

申请日：2020-11-26

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 汐田夏基 , 菊池有朋

IPC: G01R29/10 , G01R1/04

Abstract: 本发明提供一种能够实施基于近场的OTA测试的电子部件操作装置。处理装置(2)是具备接触臂(21)的处理装置(2)，该接触臂(21)能够使具有设备天线(12a)的DUT(10A)移动，并将DUT(10A)按压于插座(60A)，接触臂(21)具备保持DUT(10A)的接触吸盘(22A)，接触吸盘(22A)具有测试天线(30)，该测试天线(30)接收从设备天线(12a)辐射的电波，并且向设备天线(12a)辐射电波。

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