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公开(公告)号：CN113030599A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202011348959.6
申请日：2020-11-26
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够实施基于近场的OTA测试的电子部件操作装置。处理装置(2)是具备接触臂(21)的处理装置(2)，该接触臂(21)能够使具有设备天线(12a)的DUT(10A)移动，并将DUT(10A)按压于插座(60A)，接触臂(21)具备保持DUT(10A)的接触吸盘(22A)，接触吸盘(22A)具有测试天线(30)，该测试天线(30)接收从设备天线(12a)辐射的电波，并且向设备天线(12a)辐射电波。
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公开(公告)号：CN113030598B
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202011230806.1
申请日：2020-11-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3)，插座(5)具备：顶部插座(60)，其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置，能够与DUT(10)电连接；以及底部插座(70)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接，并且能够与顶部插座电连接，底部插座(70)具备：基部(71)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接；以及测试天线(73)，其与测试器(3)电连接，并且配置为与设备天线(12)对置。
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公开(公告)号：CN111796177B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202010008891.0
申请日：2020-01-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供能实现低成本化的中介板以及插座。插座(20)具备：第一接触探针(21)，其具有能与DUT(90)的第一端子(91)接触的第一端部；第二接触探针(22)，其具有能与DUT(90)的第二端子(92)接触的第二端部；以及内侧壳体(23)，其以第一端部和第二端部实质上位于同一假想平面(VP)上的方式保持第一以及第二接触探针(21、22)，第二接触探针(22)的长度(L2)短于第一接触探针(21)的长度(L1)。中介板(30)具备：基板(31)，其具有能供第一接触探针(21)插入的贯通孔(311)；以及布线图案(32)，其设置于基板(31)，布线图案(32)具有能供第二接触探针(22)接触的焊盘(321)。
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公开(公告)号：CN118974573A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202280094030.6
申请日：2022-03-24
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
Abstract: 插座组装体(50)为用于对具有设备天线(12)的DUT(10)进行测试的电子部件测试装置(1)的插座组装体，其具备：插座(51)，其供DUT(10)安装；推动器(53)，其设置于天线单元(52)与插座(51)之间，将DUT(10)朝向插座(51)按压，天线单元(52)具有与插座(51)对置的测试天线(52b)；以及框架(54)，其与推动器(53)重叠，对推动器(53)进行加强，构成推动器(53)的材料的介电常数比构成框架(54)的材料的介电常数低。
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公开(公告)号：CN111796177A
公开(公告)日：2020-10-20
申请号：CN202010008891.0
申请日：2020-01-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供能实现低成本化的中介板以及插座。插座(20)具备：第一接触探针(21)，其具有能与DUT(90)的第一端子(91)接触的第一端部；第二接触探针(22)，其具有能与DUT(90)的第二端子(92)接触的第二端部；以及内侧壳体(23)，其以第一端部和第二端部实质上位于同一假想平面(VP)上的方式保持第一以及第二接触探针(21、22)，第二接触探针(22)的长度(L2)短于第一接触探针(21)的长度(L1)。中介板(30)具备：基板(31)，其具有能供第一接触探针(21)插入的贯通孔(311)；以及布线图案(32)，其设置于基板(31)，布线图案(32)具有能供第二接触探针(22)接触的焊盘(321)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113030589B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202011306079.2
申请日：2020-11-19
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够使从DUT的设备天线或测试天线辐射的电波透过的窗构件，恒温槽具备形成于该恒温槽的壁面的开口，电波暗室具备配置于该电波暗室的内壁的电波吸收件、和朝向测试天线的电波的收发方向开口的开口，恒温槽和电波暗室以开口与开口对置的方式连接，窗构件封闭开口。
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公开(公告)号：CN114167149B
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202110389500.9
申请日：2021-04-12
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现在器件的上表面具有天线的DUT的试验的低成本化的电子部件按压装置。为此，电子部件按压装置(6)用于具有器件天线(12)的DUT(10)的试验，能够与具有接触臂(21)的电子部件处理装置(2)连接，并且能够连接装配有插座(5)的测试头(32)，其具备：保持板(61)，其载置由接触臂(21)输送的DUT(10)；输送单元(62)，其使DUT(10)在保持板(61)与插座(5)之间移动；顶推件(631)，其能够对载置于插座(5)的DUT(10)进行按压；以及天线单元(64)，其具有与载置于插座(5)的DUT(10)的器件天线(12)对置的测定天线(641)。
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公开(公告)号：CN114167149A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202110389500.9
申请日：2021-04-12
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现在器件的上表面具有天线的DUT的试验的低成本化的电子部件按压装置。为此，电子部件按压装置(6)用于具有器件天线(12)的DUT(10)的试验，能够与具有接触臂(21)的电子部件处理装置(2)连接，并且能够连接装配有插座(5)的测试头(32)，其具备：保持板(61)，其载置由接触臂(21)输送的DUT(10)；输送单元(62)，其使DUT(10)在保持板(61)与插座(5)之间移动；顶推件(631)，其能够对载置于插座(5)的DUT(10)进行按压；以及天线单元(64)，其具有与载置于插座(5)的DUT(10)的器件天线(12)对置的测定天线(641)。
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公开(公告)号：CN113030598A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202011230806.1
申请日：2020-11-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3)，插座(5)具备：顶部插座(60)，其配置为与DUT(10)的上表面(11a)对置，能够与DUT(10)电连接；以及底部插座(70)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接，并且能够与顶部插座电连接，底部插座(70)具备：基部(71)，其与DUT(10)的下表面(11b)抵接；以及测试天线(73)，其与测试器(3)电连接，并且配置为与设备天线(12)对置。
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公开(公告)号：CN113030589A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202011306079.2
申请日：2020-11-19
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够使从DUT的设备天线或测试天线辐射的电波透过的窗构件，恒温槽具备形成于该恒温槽的壁面的开口，电波暗室具备配置于该电波暗室的内壁的电波吸收件、和朝向测试天线的电波的收发方向开口的开口，恒温槽和电波暗室以开口与开口对置的方式连接，窗构件封闭开口。
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