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公开(公告)号：CN116774750A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310061891.0
申请日：2023-01-18
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现DUT的温度调整中的响应性的提高的温度调整装置。为此，温度调整装置(8)具备：热交换构件(82)，其与DUT(300)接触；第八流通孔(821)，其通过热交换构件(82)的内部；以及连接部(817)，其使流体的流动回转而形成回转流(SF2)，将回转流(SF2)供给至第八流通孔(821)，回转流(SF2)是以第八流通孔(821)的中心轴(CA5)为中心而沿着第八流通孔(821)的内周面(821e)回转的制冷剂的流动。
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公开(公告)号：CN109387800B
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN201810770844.2
申请日：2018-07-13
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明提供一种磁传感器试验装置，所述磁传感器试验装置能够防止由于向磁传感器施加的热量，电磁铁的性能发生大的变化。在磁传感器试验装置中，具备向磁传感器施加磁场的电磁铁(50)、(60)、向磁传感器局部施加热量来调整磁传感器的温度的调温器(30)、(40)、以及控制电磁铁(50)、(60)及调温器(30)、(40)的控制部，在由调温器(30)、(40)向磁传感器施加热量的同时并由电磁铁(50)、(60)向磁传感器施加了磁场的状态下，控制部对磁传感器进行试验。
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公开(公告)号：CN1138897A
公开(公告)日：1996-12-25
申请号：CN95191197.X
申请日：1995-10-05
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01B11/24
CPC classification number: H05K13/08
Abstract: 一种最适用于检验或观测极微小而精密器件外观的照明装置，和一种使用该照明装置的器件外观自动检验装置。该照明装置包括一个具有排列在照相机透镜周围的许多个亮度可控的发光元件的照射构架和一个用于控制每个上述发光元件的亮度的照度控制机构；而该器件外观自动检验装置除了包括该照明装置外还包括一个用于将拍摄的图像转换成许多个像素数据并将其输出的CCD(电荷耦合器件)照相机之类照相机、一个用于将像素数据转换成图像数据的图像处理机构、一个用于测量待测试器件的外观特定部位的尺寸和位置等的操作处理机构，以及用于接收从图像处理机构来的图像数据并显示与其对应的图像的显示机构。通过根据照相机拍摄的结果操作照度控制机构以控制每个发光元件的亮度从而使器件特定部位上的照度达到最佳值，可以容易地完成待测试器件的特定部位外观的高精度检验。
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公开(公告)号：CN113030589B
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202011306079.2
申请日：2020-11-19
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够使从DUT的设备天线或测试天线辐射的电波透过的窗构件，恒温槽具备形成于该恒温槽的壁面的开口，电波暗室具备配置于该电波暗室的内壁的电波吸收件、和朝向测试天线的电波的收发方向开口的开口，恒温槽和电波暗室以开口与开口对置的方式连接，窗构件封闭开口。
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公开(公告)号：CN113030589A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202011306079.2
申请日：2020-11-19
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够使从DUT的设备天线或测试天线辐射的电波透过的窗构件，恒温槽具备形成于该恒温槽的壁面的开口，电波暗室具备配置于该电波暗室的内壁的电波吸收件、和朝向测试天线的电波的收发方向开口的开口，恒温槽和电波暗室以开口与开口对置的方式连接，窗构件封闭开口。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1711478A
公开(公告)日：2005-12-21
申请号：CN200380102965.1
申请日：2003-11-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2887
Abstract: 一种位置侦测装置，适用于侦测一具有端子的电子零件的位置，包括：一影像取得部，取得端子的一影像、一端子区域侦测部，由影像取得部所取得的影像侦测端子的区域，以及一电子零件位置侦测部，根据端子区域侦测部所侦测的端子区域，及预设的电子零件的端子资讯，侦测电子零件的位置。
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公开(公告)号：CN1138898A
公开(公告)日：1996-12-25
申请号：CN95191215.1
申请日：1995-10-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/308
Abstract: 一种能在与单独测量器件电学特性所花费的时间大体相同的时间内同时测量器件电学特性并精确检验器件外观的自动操纵装置和一种利用该自动操纵装置的器件测量方法。在该操纵装置内组合一种紧凑而高精度的器件外观自动检验装置，后者包括一个具有多个亮度可控的发光元件的照明装置和一个将拍摄的图像转换成待输出的像素数据的CCD照相机之类的照相机。接受了电学特性测试的器件中被分类为需要检验外观的器件在检验装置中检验其外观。在电学测试和外观检验的数据基础上将器件分类，而后输送到相应的器件存放机构内。由于在一次通过中不但能测试器件的电学特性，还能自动和准确地实现外观检测，外观检查所费的时间可大大减少，导致生产率提高和测试成本的降低。
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公开(公告)号：CN116893702A
公开(公告)日：2023-10-17
申请号：CN202211690907.6
申请日：2022-12-28
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 菊池有朋
Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现DUT的冷却效率的提高的温度调整装置。为此，温度调整装置(40)是在对具备具有入口(132)以及出口(133)的空间(131)以及配置于空间(131)内的裸片(110)的DUT(100)进行试验时调整该DUT(100)的温度的温度调整装置。该温度调整装置(40)具备：流通孔(41)，其具有与DUT(100)的空间(131)的入口(132)连接的连接口(411)；以及流体供给系统(50)，其与流通孔(41)连接，向DUT(100)的空间(131)供给温度调整用的流体。
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公开(公告)号：CN109387800A
公开(公告)日：2019-02-26
申请号：CN201810770844.2
申请日：2018-07-13
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R35/00
CPC classification number: G01R33/0023 , G01R33/09 , G01R33/093 , G01R35/00
Abstract: 本发明提供一种磁传感器试验装置，所述磁传感器试验装置能够防止由于向磁传感器施加的热量，电磁铁的性能发生大的变化。在磁传感器试验装置中，具备向磁传感器施加磁场的电磁铁(50)、(60)、向磁传感器局部施加热量来调整磁传感器的温度的调温器(30)、(40)、以及控制电磁铁(50)、(60)及调温器(30)、(40)的控制部，在由调温器(30)、(40)向磁传感器施加热量的同时并由电磁铁(50)、(60)向磁传感器施加了磁场的状态下，控制部对磁传感器进行试验。
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公开(公告)号：CN113030599A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202011348959.6
申请日：2020-11-26
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够实施基于近场的OTA测试的电子部件操作装置。处理装置(2)是具备接触臂(21)的处理装置(2)，该接触臂(21)能够使具有设备天线(12a)的DUT(10A)移动，并将DUT(10A)按压于插座(60A)，接触臂(21)具备保持DUT(10A)的接触吸盘(22A)，接触吸盘(22A)具有测试天线(30)，该测试天线(30)接收从设备天线(12a)辐射的电波，并且向设备天线(12a)辐射电波。
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