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公开(公告)号：CN106526652B
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201610964269.0
申请日：2016-11-04
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01T1/202
Abstract: 本发明提供一种基于ZnO材料的超快脉冲辐射成像系统，包括暗箱、光学反射镜、光学变焦镜头、高速成像设备和计算机，还包括ZnO成像屏和低温制冷系统；低温制冷系统包括接触式低温传导模块、低温制冷循环模块、温度监测及控制模块、真空室以及真空泵；ZnO成像屏与接触式低温传导模块耦合；低温制冷循环模块对接触式低温传导模块以及ZnO成像屏制冷；温度监测及控制模块监控接触式低温传导模块以及ZnO成像屏的温度。相对于传统成像系统，本发明利用ZnO材料的发光衰减时间快以及低温下光产额提升的特点，使得系统能够在保持高图像质量的情况下对脉冲辐射场的动态过程进行高时间分辨成像，实现对脉冲辐射场一系列快物理过程的诊断。
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公开(公告)号：CN119779635A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411928888.5
申请日：2024-12-25
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种光学组件的参数检测方法，具体涉及一种像增强器孔栏时间的快速测量方法，目的是解决现有激光脉冲扫描法在检测大规模的像增强器孔栏时间τ时，存在耗时耗力的问题。本发明包括：1)获得X个像增强器中Y个的孔栏时间τ；2)获得Y个像增强器的S11‑f关系图；3)获得Y个S11‑f关系图中发射频率f均为Z时所对应的频域反射参数S11的值；4)获得τ‑S11关系图；5)获得剩余X‑Y个像增强器的S11‑f关系图；6)获得剩余X‑Y个S11‑f关系图中发射频率f均为Z时所对应的频域反射参数S11的值；7)利用τ‑S11关系图和X‑Y个S11的值，获得剩余的X‑Y个像增强器的孔栏时间τ。本发明具有节省测量时间、准确度高的有益效果。
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公开(公告)号：CN114567772B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202210168100.X
申请日：2022-02-23
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明提供一种像增强器光学门控时间特性的测量方法及测量系统，主要解决现有像增强器门控时间测量方法存在测量过程比较繁琐、数据处理较为复杂以及无法获取较为全面准确的像增强器门控时间的问题。该系统和方法基于超短激光脉冲扫描方法，采用光电探测器替换后端CCD相机记录系统，利用激光器单次触发输出具有固定时间间隔的2个激光脉冲，用第1个光脉冲作为触发源，触发像增强器的门控快门脉冲电路，获得第2个激光脉冲在像增强器不同开门时刻的曝光图像积分信号，从而得到像增强器的光学门控时间特性，具有更高的同步触发时间精度。
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公开(公告)号：CN118197883A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410321472.0
申请日：2024-03-20
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种像增强器及其成像方法，为解决现有像增强器难以突破最短选通脉宽，应用场景受限的问题，而提供一种缩短门控型像增强器及其成像方法。本发明包括沿光路传播方向依次设置的输入窗、光电阴极、微通道板、荧光屏和输出窗；输入窗包括输入面和输出面，用于透过光信号；光电阴极镀设在输入窗的输出面上；微通道板包括输入面和输出面，其上设有多个通孔，且其输入面和输出面均镀设有导电金属薄膜，其中输入面上还镀设有电子过滤膜；光电阴极与微通道板的输入面之间设置有可选通的电压U。本发明在微通道板的输入面上镀设有电子过滤膜，可以大量过滤低能量的光电子，同时大量透过高能量的光电子。
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公开(公告)号：CN117119321A
公开(公告)日：2023-11-24
申请号：CN202311074380.9
申请日：2023-08-24
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: H04N25/532 , G01T1/00 , G01T1/20
Abstract: 本发明涉及百keV脉冲X射线源高帧频多分幅成像系统及方法；解决单次不可重复百keV脉冲X射线源多画幅二维时间序列图像获取技术问题，其中成像系统包括BC408闪烁体、反射镜、第一镜头、透射式编码版、宽狭缝、中继镜头、大面阵球面光阴极条纹管、像增强器、第二镜头、CMOS相机、金属暗箱、脉冲信号发生器；BC408闪烁体将百keV脉冲X射线源图像转换为可见光图像，经反射镜折返并由镜头聚焦至可调狭缝处编码版上，编码图像由中继镜头传像至大面阵球面光阴极条纹管，扫描电压将不同时刻编码图像偏移至条纹管荧光屏不同位置，经像增强器增强后由CMOS相机记录偏移编码图像的时间积分图像。本发明还提出基于上述系统的成像方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114567772A
公开(公告)日：2022-05-31
申请号：CN202210168100.X
申请日：2022-02-23
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 本发明提供一种像增强器光学门控时间特性的测量方法及测量系统，主要解决现有像增强器门控时间测量方法存在测量过程比较繁琐、数据处理较为复杂以及无法获取较为全面准确的像增强器门控时间的问题。该系统和方法基于超短激光脉冲扫描方法，采用光电探测器替换后端CCD相机记录系统，利用激光器单次触发输出具有固定时间间隔的2个激光脉冲，用第1个光脉冲作为触发源，触发像增强器的门控快门脉冲电路，获得第2个激光脉冲在像增强器不同开门时刻的曝光图像积分信号，从而得到像增强器的光学门控时间特性，具有更高的同步触发时间精度。
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公开(公告)号：CN112945205A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110116156.6
申请日：2021-01-27
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明属于图像探测技术领域，提供了一种超快多幅二维图像探测方法及装置，解决了利用图像转换结构和条纹相机组合实现二维图像探测时获取图像的有效像素数量受限问题，条纹管通过第一图像耦合结构接收输入图像，通过第二图像耦合结构输出图像到相机并被记录，本发明增设了图像转换结构和条纹管控制电路，二维图像经图像转换结构接收并重新排列为n排一维图像输出，条纹管控制电路控制条纹管对n排一维图像进行选通和扫描控制，n排一维图像在特定时间内的连续序列图像从条纹管输出，条纹管输出图像被相机记录并上传到计算机，计算机记录的图像按图像转换结构的二维和一维图像的各像素一一对应关系进行还原，得到特定时间内的连续多幅二维图像序列。
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公开(公告)号：CN106526652A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610964269.0
申请日：2016-11-04
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01T1/202
CPC classification number: G01T1/2023
Abstract: 本发明提供一种基于ZnO材料的超快脉冲辐射成像系统，包括暗箱、光学反射镜、光学变焦镜头、高速成像设备和计算机，还包括ZnO成像屏和低温制冷系统；低温制冷系统包括接触式低温传导模块、低温制冷循环模块、温度监测及控制模块、真空室以及真空泵；ZnO成像屏与接触式低温传导模块耦合；低温制冷循环模块对接触式低温传导模块以及ZnO成像屏制冷；温度监测及控制模块监控接触式低温传导模块以及ZnO成像屏的温度。相对于传统成像系统，本发明利用ZnO材料的发光衰减时间快以及低温下光产额提升的特点，使得系统能够在保持高图像质量的情况下对脉冲辐射场的动态过程进行高时间分辨成像，实现对脉冲辐射场一系列快物理过程的诊断。
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公开(公告)号：CN104931997A
公开(公告)日：2015-09-23
申请号：CN201510364137.X
申请日：2015-06-26
Applicant: 西北核技术研究所
IPC: G01T1/16
Abstract: 本发明涉及X射线能量的平场图像测量装置及方法。包括射线探测组件与信号记录组件；述射线探测组为CCD、CMOS、胶片、成像板或闪烁体，用于将X射线转变成相应的平场图像；当射线探测组为CCD或CMOS时，信号记录组件包括用于将平场图像电信号收集、放大、量化的电信号读出系统；当射线探测组为胶片或成像板时，信号记录组件用于实现平场图像信号显影过程；当射线探测组为闪烁体时，信号记录组件包括平场图像的光学成像系统；光学成像系统包括反射镜、镜头和相机。本发明提供了一种系统规模小、可以在一次测量中，同时获得射线的强度与能量且适用于稳态射线源的能量测量的X射线能量的平场图像测量装置及方法。
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公开(公告)号：CN118018875A
公开(公告)日：2024-05-10
申请号：CN202410165085.2
申请日：2024-02-05
Applicant: 西北核技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于联合约束的压缩成像系统，属于计算成像技术领域，其包括第一分光镜、第一镜头、透射式编码板、宽狭缝条纹相机、第二分光镜、第二镜头、窄狭缝条纹相机、反射镜、第三镜头、ICMOS相机、动态光源、动态光源控制器、脉冲信号发生器和光学暗箱。还提供了一种基于联合约束的压缩成像方法，包括采集光学分辨卡图像、采集静态编码板图像、宽狭缝条纹相机与窄狭缝条纹相机时间关系标定、采集动态压缩编码图像和约束图像、基于压缩感知算法重建二维时间序列图像的过程。该发明压缩成像系统，可同时获取同一动态光源的动态压缩编码图像、一维强度随时间变化图像和二维强度时间积分图像。
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