一种分幅图像探测装置及方法

    公开(公告)号:CN112945204A

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN202110114845.3

    申请日:2021-01-27

    Abstract: 本发明提供了一种分幅图像探测装置及方法,装置包括第一图像耦合结构、光纤束传像结构、第二图像耦合结构及像增强型相机,被探测光学目标经第一图像耦合结构成像到光纤束传像结构的像面,光纤束传像结构可通过空间采样或非共轴成像方式接收并传递输出图像,实现对输入图像的分幅和延时处理,具有不同光延时的各分幅图像经第二图像耦合结构成像到像增强型相机,像增强型相机同时记录下不同时刻的多分幅图像。本发明解决了对光图像的分幅和延时处理,实现了单台像增强型相机单次探测多分幅具备精确相对时间关系的图像,同时解决了系统的紧凑性和单台相机的利用效率问题。

    一种分幅图像探测装置及方法

    公开(公告)号:CN112945204B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202110114845.3

    申请日:2021-01-27

    Abstract: 本发明提供了一种分幅图像探测装置及方法,装置包括第一图像耦合结构、光纤束传像结构、第二图像耦合结构及像增强型相机,被探测光学目标经第一图像耦合结构成像到光纤束传像结构的像面,光纤束传像结构可通过空间采样或非共轴成像方式接收并传递输出图像,实现对输入图像的分幅和延时处理,具有不同光延时的各分幅图像经第二图像耦合结构成像到像增强型相机,像增强型相机同时记录下不同时刻的多分幅图像。本发明解决了对光图像的分幅和延时处理,实现了单台像增强型相机单次探测多分幅具备精确相对时间关系的图像,同时解决了系统的紧凑性和单台相机的利用效率问题。

    一种百keV脉冲X射线源高帧频多分幅成像系统及方法

    公开(公告)号:CN117119321A

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202311074380.9

    申请日:2023-08-24

    Abstract: 本发明涉及百keV脉冲X射线源高帧频多分幅成像系统及方法;解决单次不可重复百keV脉冲X射线源多画幅二维时间序列图像获取技术问题,其中成像系统包括BC408闪烁体、反射镜、第一镜头、透射式编码版、宽狭缝、中继镜头、大面阵球面光阴极条纹管、像增强器、第二镜头、CMOS相机、金属暗箱、脉冲信号发生器;BC408闪烁体将百keV脉冲X射线源图像转换为可见光图像,经反射镜折返并由镜头聚焦至可调狭缝处编码版上,编码图像由中继镜头传像至大面阵球面光阴极条纹管,扫描电压将不同时刻编码图像偏移至条纹管荧光屏不同位置,经像增强器增强后由CMOS相机记录偏移编码图像的时间积分图像。本发明还提出基于上述系统的成像方法。

    一种基于联合约束的压缩成像系统和方法

    公开(公告)号:CN118018875A

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202410165085.2

    申请日:2024-02-05

    Abstract: 本发明提供了一种基于联合约束的压缩成像系统,属于计算成像技术领域,其包括第一分光镜、第一镜头、透射式编码板、宽狭缝条纹相机、第二分光镜、第二镜头、窄狭缝条纹相机、反射镜、第三镜头、ICMOS相机、动态光源、动态光源控制器、脉冲信号发生器和光学暗箱。还提供了一种基于联合约束的压缩成像方法,包括采集光学分辨卡图像、采集静态编码板图像、宽狭缝条纹相机与窄狭缝条纹相机时间关系标定、采集动态压缩编码图像和约束图像、基于压缩感知算法重建二维时间序列图像的过程。该发明压缩成像系统,可同时获取同一动态光源的动态压缩编码图像、一维强度随时间变化图像和二维强度时间积分图像。

    一种双能段脉冲中子图像探测装置及方法

    公开(公告)号:CN112946725B

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202110115202.0

    申请日:2021-01-27

    Abstract: 本发明提供了一种双能段脉冲中子图像探测装置及方法,解决难以获得可以用于精确比对的两个能段中子图像的问题,中子图像经图像转换屏、第一图像耦合结构、像增强器、第二图像耦合结构传递到相机并被记录。本发明增设空间响应均匀性标定和时间触发系统,包括脉冲均匀辐射源和触发控制单元,利用脉冲均匀辐射源标定图像探测系统空间响应均匀性,使图像探测系统提供精确的入射中子通量空间分布;利用触发控制单元可以精确触发相机和控制像增强器的开门时间和增益系数,以达到更短时间间隔的两幅图像的获取;同时,可控制两幅图像获取过程中像增强型相机系统的灵敏度,以保证两幅图像都有合适的曝光灰度。

    一种能量阈值可选的契伦科夫探测阵列屏

    公开(公告)号:CN116047574A

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202310191262.X

    申请日:2023-03-02

    Abstract: 本发明涉及高能射线成像技术,具体涉及一种能量阈值可选的契伦科夫探测阵列屏,为解决现有技术中契伦科夫辐射体对应的能量阈值的调整范围非常有限的不足之处。本发明的能量阈值可选的契伦科夫探测阵列屏包括转换体阵列结构以及外部封装,转换体阵列结构包括平行排布的金属毛细管形成的阵列以及金属毛细管中填充的二氧化硅气凝胶,相邻金属毛细管之间密封不透光;金属毛细管作为二氧化硅气凝胶的包层,用于提高射线转换为次级带电粒子的效率,其中二氧化硅气凝胶的折射率为1.01‑1.2。

    一种双能段脉冲中子图像探测装置及方法

    公开(公告)号:CN112946725A

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN202110115202.0

    申请日:2021-01-27

    Abstract: 本发明提供了一种双能段脉冲中子图像探测装置及方法,解决难以获得可以用于精确比对的两个能段中子图像的问题,中子图像经图像转换屏、第一图像耦合结构、像增强器、第二图像耦合结构传递到相机并被记录。本发明增设空间响应均匀性标定和时间触发系统,包括脉冲均匀辐射源和触发控制单元,利用脉冲均匀辐射源标定图像探测系统空间响应均匀性,使图像探测系统提供精确的入射中子通量空间分布;利用触发控制单元可以精确触发相机和控制像增强器的开门时间和增益系数,以达到更短时间间隔的两幅图像的获取;同时,可控制两幅图像获取过程中像增强型相机系统的灵敏度,以保证两幅图像都有合适的曝光灰度。

    一种基于光学成像的单粒子能量测量装置及方法

    公开(公告)号:CN106094004B

    公开(公告)日:2019-06-07

    申请号:CN201610624040.2

    申请日:2016-08-02

    Abstract: 本发明涉及核技术应用领域,尤其涉及一种基于光学成像的单粒子能量测量装置及方法。本发明提出一种基于光学成像的单粒子能量测量装置及方法,利用单丝气体闪烁正比结构中的强电场将单粒子在气体闪烁体中产生的荧光倍增,再通过高灵敏高量子效率的成像装置对倍增强度的径迹荧光成像,就能得到单粒子的径迹发光图像,从图像提取径迹特征信息,进而实现单粒子能量的测量。

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