公开(公告)号：KR100612127B1

公开(公告)日：2006-08-11

申请号：KR1020040075920

申请日：2004-09-22

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 신승만 ,  소병세 ,  서승진 ,  신희종

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/26 ,  G11C5/04 ,  G11C29/36 ,  G11C2029/3602

Abstract: 뱅크 억세스 순서를 외부에서 입력받아, 이를 적용하여 테스트 패턴 시퀀스를 생성하고 이에 따라 메모리 모듈에 대한 BIST를 수행하는 메모리 모듈의 테스트 방법 및 이를 위한 메모리 모듈의 허브가 개시되어 있다. 뱅크 억세스 순서에 따른 뱅크 어드레스들을 외부에서 순서대로 저장할 수 있도록 하여, 원하는 뱅크 억세스 순서대로 메모리 모듈의 테스트를 수행할 수 있다. 따라서, 메모리 모듈의 불량을 효과적으로 검출할 수 있다.

公开(公告)号：KR1020060046164A

公开(公告)日：2006-05-17

申请号：KR1020050043939

申请日：2005-05-25

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 신승만 ,  서승진 ,  신희종 ,  이종건 ,  한경희

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G06F11/267

Abstract: 메모리 시스템에 실장된 메모리 모듈이나 메모리 모듈상에 장착된 메모리들을 용이하게 테스트 모드로 진입시킬 수 있는 방법 및 이를 수행하기 위한 메모리 제어용 레지스터들의 구조가 개시된다. 메모리 제조사 마다 테스트 모드로 진입하기 위한 MRS 코드 및 진입 방법을 달리하므로, 메모리 제어용 레지스터에 메모리의 테스트 MRS 횟수를 입력하고, 테스트 MRS 코드를 설정한다. 또한 테스트 MRS 횟수를 결정하는 레지스터의 각각의 비트에는 테스트 MRS 코드들을 저장하고 있는 레지스터들이 할당되어 있다.

公开(公告)号：KR1020060027089A

公开(公告)日：2006-03-27

申请号：KR1020040075920

申请日：2004-09-22

Applicant: 삼성전자주식회사

Inventor： 신승만 ,  소병세 ,  서승진 ,  신희종

IPC: G11C29/00

CPC classification number: G11C29/26 ,  G11C5/04 ,  G11C29/36 ,  G11C2029/3602

Abstract: 뱅크 억세스 순서를 외부에서 입력받아, 이를 적용하여 테스트 패턴 시퀀스를 생성하고 이에 따라 메모리 모듈에 대한 BIST를 수행하는 메모리 모듈의 테스트 방법 및 이를 위한 메모리 모듈의 허브가 개시되어 있다. 뱅크 억세스 순서에 따른 뱅크 어드레스들을 외부에서 순서대로 저장할 수 있도록 하여, 원하는 뱅크 억세스 순서대로 메모리 모듈의 테스트를 수행할 수 있다. 따라서, 메모리 모듈의 불량을 효과적으로 검출할 수 있다.

Abstract translation: 一种测试存储器模块的方法，所述存储器模块从外部接收存储体访问序列，并且通过应用测试序列并且在存储器模块上执行BIST并为其存储器模块的集线器产生测试模式序列。 根据银行访问序列的银行地址可以从外部按顺序存储，并且存储器模块可以以期望的银行访问序列进行测试。 因此，可以有效检测存储器模块的故障。