표적핵산의 검출방법
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:KR101820440B1

    公开(公告)日:2018-01-22

    申请号:KR1020160080961

    申请日:2016-06-28

    Abstract: 본발명은표적핵산의비표지검출방법에관한것으로, 보다상세하게는특이적증폭반응으로부터얻어지는표적핵산의증폭산물을질량분석을이용하여효과적으로분석하는비표지검출방법에관한것이다. 본발명에따른질량분석기반의비표지표적핵산검출방법은분석방법이편리하고정확할뿐 아니라반응종료점에서의분석을이용하기때문에, 다양한바이오센서의플랫폼으로유용하게사용될수 있다. 또한, 다중표적핵산분석이가능한장점이있어다양한표적핵산분석을통한질병의예방, 조기진단및 개인맞춤의약품개발과처방에유용하게사용될수 있다.

    빛의 산란을 이용한 근접장 제어 장치 및 방법
    13.
    发明公开
    빛의 산란을 이용한 근접장 제어 장치 및 방법 有权
    用于使用散射控制来处理近场的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020150003077A

    公开(公告)日:2015-01-08

    申请号:KR1020130123823

    申请日:2013-10-17

    CPC classification number: G01Q60/22 B82Y35/00 G01Q10/065

    Abstract: 광원으로부터나오는빛이산란층을통과하여나오는면의근접장빛을제어하는장치가개시된다. 본발명은상기면의근접장을제어하기위해서빛의산란을이용하여목표지점에보강간섭을만드는입사하는빛의위상을찾는방법이개시된다.

    Abstract translation: 公开了一种用于操纵通过散射层从表面出来的近场光的装置。 本发明提供了一种用于找到入射光的相位的方法,其通过使用散射光对目标点产生建设性的干扰,以便操纵表面的近场。

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