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公开(公告)号：KR101113046B1
公开(公告)日：2012-02-27
申请号：KR1020090118888
申请日：2009-12-03
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01J5/08
Abstract: 본 발명의 일실시예에 따른 고온 반투명 또는 투명시료의 복사율, 투과율, 반사율 특성 동시 측정 방법은, 흑체의 복사량(L
b )에 의거하여 실험장치의 민감도(R)를 산출하는 단계; 고복사율을 가지는 기판 물질(A)의 복사율(ε
A ) 및 저복사율을 가지는 기판 물질(B)의 복사율(ε
B )을 산출하는 단계; 상기 고복사율을 가지는 기판 물질(A)을 반투명 또는 투명시료의 뒷면에 위치하게 하여 소정 온도(T)에서의 반투명 또는 투명시료의 복사량(S
A )을 산출하는 단계; 상기 저복사율을 가지는 기판 물질(B)을 상기 반투명 또는 투명시료의 뒷면에 위치하게 하여 상기 소정 온도(T)에서의 반투명 또는 투명시료의 복사량(S
B )을 산출하는 단계; 상기 산출된 상기 실험장치의 민감도(R), 상기 고복사율 기판 물질(A)의 복사율(ε
A ), 상기 저복사율 기판 물질(B)의 복사율(ε
B ), 상기 고복사율 기판 물질(A)에 대한 상기 소정 온도(T)에서의 시료의 복사량(S
A ), 및 상기 저복사율 기판 물질(B)에 대한 상기 소정 온도(T)에서의 시료의 복사량(S
B )를 이용하여 상기 반투명 또는 투명시료의 투과율(t
S )을 산출하는 단계; 상기 산출된 상기 투과율(t
S )을 이용하여 상기 반투명 또는 투명시료의 복사율(ε
S )을 산출하는 단계; 및 상기 산출된 상기 투과율(t
S ) 및 상기 복사율(ε
S )을 이용하여 상기 반투명 또는 투명시료의 반사율(r
S )을 산출하는 단계를 포함한다.
광학적 특성, 고온 반사율, 고온 투과율, 고온 복사율, 고온 코팅재, 고온 반투명시료, 고온 투명시료, 복사열, 적외선, 흑체, 기판, 고반사율 기판, 저반사율 기판, 고복사율 기판, 저복사율 기판, 접촉식 가열법-
公开(公告)号：KR1020110061158A
公开(公告)日：2011-06-09
申请号：KR1020090117715
申请日：2009-12-01
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01J1/02
CPC classification number: G01J1/02 , G01J1/0295 , G01J2001/0481 , G01J2001/061 , G01J2001/4247
Abstract: PURPOSE: An integrating-sphere photometer and measuring method of the same are provided to effectively correct errors due to a self-screening effect and self-absorption when measuring the total luminous flux of a surface light source even if a general standard lamp is used. CONSTITUTION: An integrating-sphere photometer comprises an integrating sphere(70), a photometer(10), a main light shielding film(20), a target light source(30), a secondary light source, and a secondary light shielding film(60). The integrating sphere comprises a left hemisphere(70a) and a right hemisphere(70b). The photometer is arranged on the central surface of the right hemisphere. The main light shielding film is arranged before the photometer at an interval. The target light source is arranged on the central area of the integrating sphere and radiates light at least to the radiating area of the left hemisphere. The secondary light source is arranged near the interface of the left and right hemispheres and radiates light to the radiating area.
Abstract translation: 目的：提供一种积分球形光度计及其测量方法，以便即使使用通用标准灯来测量表面光源的总光通量时，由于自屏效应和自吸收有效地校正误差。 构成：积分球型光度计包括积分球（70），光度计（10），主遮光膜（20），目标光源（30），二次光源和次级遮光膜（ 60）。 积分球包括左半球（70a）和右半球（70b）。 光度计布置在右半球的中心表面。 主光屏蔽膜间隔布置在光度计之前。 目标光源布置在积分球的中心区域上，并且至少辐射到左半球的辐射区域。 二次光源配置在左右半球的界面附近，向散射区域照射光。
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公开(公告)号：KR101008733B1
公开(公告)日：2011-01-18
申请号：KR1020080128306
申请日：2008-12-17
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01J3/02
Abstract: 본 발명은 분광복사율 측정을 위한 측정대상물 내장형 측정케이스에 관한 것이다.
본 발명의 측정케이스는, 측정대상물이 위치되는 측정물투입공간이 형성되어 있고, 흑체설치구가 형성되어 있는 케이스본체; 흑체가 형성되어 있으며, 상기 케이스본체에 결합되어 있되 흑체설치구와 흑체가 일직선상에 위치되도록 설치되어 있는 흑체형성몸체; 케이스본체에 분리, 결합 가능하도록 되어 있고 결합되었을 때 측정물투입공간이 밀폐될 수 있도록 측정물투입공간을 차단하며, 흑체와 일직선상에 위치되는 측정홀이 천공되어 있는 덮개; 측정대상물을 고정하는 클램프를 가지며, 측정대상물이 측정홀과 일직선상에 위치되도록 할 수 있고, 흑체와 측정홀이 일직선상으로 소통되도록 할 수도 있는 홀더; 흑체설치구가 밀폐될 수 있도록 덮개의 측정홀을 차단하되 분광기를 연결하여 측정홀 전방에 위치되는 측정대상물의 열과 흑체의 열을 측정할 수 있도록 투명한 부분을 갖는 측정홀차단몸체; 측정물투입공간이 진공상태가 되도록 할 수 있는 진공수단; 케이스본체와 흑체형성몸체와 덮개를 가열하여 동일한 온도가 되도록 하는 온도설정수단;을 포함하여 구성된다.
복사율, 분광복사율, 측정, 검출, 케이스-
公开(公告)号：KR100978246B1
公开(公告)日：2010-08-26
申请号：KR1020080096406
申请日：2008-10-01
Applicant: 한국표준과학연구원
CPC classification number: G01J1/08 , G01J1/02 , G01J1/0271 , G01J1/0295 , G01J1/16 , G01J2001/4247
Abstract: 본 발명은 발광소자의 광학적 특성 중 하나인 전광선속(total luminous flux)을 측정하는 장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 적분구 내부에서 전광선속 표준광원과 측정대상인 발광소자를 비교하여 측정하는 과정에서 다수의 발광소자를 동시에 점등하여 근사적으로 균일한 공간출력분포를 형성함으로써 공간응답 오차의 보정을 생략할 수 있도록 한 발광소자의 전광선속 측정 장치 및 방법에 관한 것이다.
이를 위하여 본 발명은 구형의 적분구 내에서 전광선속 표준광원과 비교하여 발광소자의 전광선속을 측정하는 방법에 있어서,
(a)표준광원을 적분구 내부 중앙에 설치하고 점등하여 적분구 내부 조도에 따른 전기 신호를 검출하고, 이를 전광선속 단위로 교정하여 교정계수를 산출하는 단계와;
(b)표준광원이 설치되었던 동일한 위치에 전구소켓을 장착한 다음, 다수의 발광소자가 서로 다른 방향을 향하도록 상기 전구소켓에 설치하고, 각 발광소자를 동시에 점등하여 적분구 내부 조도에 따른 전기 신호를 검출하는 단계와;
(c)상기 교정계수를 이용하여 발광소자들의 전기 신호를 전광선속 단위로 교정하는 단계와;
(d)상기 적분구 내부의 동일한 위치에 각 발광소자를 순차적으로 설치 및 점등하여 전광선속에 비례하는 상대적인 광출력 비율을 측정하는 단계와;
상기 (c)단계에서 측정된 발광소자들의 전광선속의 합과 (d)단계에서 측정한 각 발광소자의 상대적인 광출력 비율을 이용하여 각 발광소자의 전광선속을 산출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광소자의 전광선속 측정 방법을 제공한다.
전광선속, 적분구, 공간응답, 오차, 보정, 발광소자, 전구소켓-
公开(公告)号：KR1020080000145A
公开(公告)日：2008-01-02
申请号：KR1020060057498
申请日：2006-06-26
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01J1/28
Abstract: An apparatus and a method for seasoning measurement standard LEDs are provided to measure characteristics according to the temperatures and aging times simultaneously by correcting a function of indicating voltage dependency and extracting a function of indicating time dependency of LED luminosity. Current having a predetermined current value is continuously applied to LEDs(S20). A voltage value applied to the LEDs and the luminosity of the LEDs are measured for predetermined time(S30). The voltage value and the luminosity of the LEDs are stored. A function of indicating voltage dependency of the LED luminosity is extracted by linear-analyzing distribution of the luminosity value of the LEDs(S70). A function of indicating time dependency of the LED luminosity is extracted by correcting the function of indicating the extracted voltage dependency(S80). When an error of the functions exceeds a predetermined threshold, the LED is excluded from standard LEDs.
Abstract translation: 提供一种用于调节测量标准LED的装置和方法，通过校正指示电压依赖性的功能并提取指示LED亮度的时间依赖性的功能来同时测量根据温度和老化时间的特性。 具有预定电流值的电流连续施加于LED（S20）。 在预定时间内测量施加到LED的电压值和LED的亮度（S30）。 存储LED的电压值和亮度。 通过线性分析LED的亮度值分布来提取指示LED亮度的电压依赖性的功能（S70）。 通过校正指示提取的电压依赖性的功能来提取指示LED亮度的时间依赖性的功能（S80）。 当功能的误差超过预定阈值时，将LED从标准LED中排除。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1020180062555A
公开(公告)日：2018-06-11
申请号：KR1020160161949
申请日：2016-11-30
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: 본발명은진공방전관을이용한압력센서에관한것으로서, 본발명의일 실시예에따른압력센서는내부가중공된원기둥형상으로형성되고, 일면에형성된제 1 결합홈및 상기제 1 결합홈과대향하고, 타단에형성된제 2 결합홈을포함하는진공플랜지; 상기진공플랜지의중공된내부에배치되며, 상기제 1 결합홈에결합되는제 1 전극및 상기제 2 결합홈에결합되는제2 전극을포함하고, 상기제 1 전극및 제 2 전극에고전압이가해지면방전을일으키는진공방전관; 및상기진공방전관내부의압력을측정하는제어부를포함하되, 상기제어부는진공방전관내부의발생된방전의색, 모양, 및방전전류중 어느하나에기초하여상기진공방전관내부의압력을산출하는것을특징으로한다.
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公开(公告)号：KR101507378B1
公开(公告)日：2015-03-31
申请号：KR1020130051056
申请日：2013-05-07
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: F21V13/02 , F21V13/12 , F21V5/04 , G02F1/01 , B63B51/00 , H01S3/101 , F21W111/04 , F21Y101/02
Abstract: 본 발명은 등명기를 제공한다. 이 등명기는 레이저 광원, 레이저 광원의 출력광을 제공받아 2차원적으로 스캐닝하는 스캐닝 소자, 스캐닝 소자를 제어하는 스캐닝 제어부, 및 스캐닝 소자로부터 제공받은 광을 평행하게 출력하는 렌즈를 포함한다.
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公开(公告)号：KR1020140000804A
公开(公告)日：2014-01-06
申请号：KR1020120068115
申请日：2012-06-25
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01R31/02
Abstract: The present invention relates to a short-circuit current measuring method for a solar cell and a short-circuit current measuring device for a solar cell. The short-circuit current measuring method for a solar cell comprises a step of emitting light to make one solar cell to be measured in a solar cell module connected in series have first radiance (Es) and the other solar cell have second radiance (Eb); and a step of measuring the short-circuit current of the solar cell module. The first radiance (Es) is lower than the second radiance (Eb).
Abstract translation: 本发明涉及太阳能电池的短路电流测量方法和太阳能电池的短路电流测量装置。 太阳能电池的短路电流测量方法包括发射光以在串联连接的太阳能电池模块中测量的一个太阳能电池具有第一辐射（Es）并且另一个太阳能电池具有第二辐射（Eb）的步骤， ; 以及测量太阳能电池模块的短路电流的步骤。 第一辐射（Es）低于第二辐射（Eb）。
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公开(公告)号：KR1020130043505A
公开(公告)日：2013-04-30
申请号：KR1020110107692
申请日：2011-10-20
Applicant: 한국표준과학연구원
Abstract: PURPOSE: A temperature measuring device using a thermoelement and a temperature measuring method are provided to enable to remove changes in the temperature of a surface of the thermoelement caused by an air current with an infrared ray absorption window so that the thermoelement enables to output stable signals and the infrared ray absorption window enables to prevent the thermoelement from being polluted. CONSTITUTION: A temperature measuring device(100) using a thermoelement(140) comprises a body part(122) and a temperature measuring part(110). The body part includes an opening(126) facing a target(172) and a cavity(124) connected to the opening. The thermoelement is arranged at a position facing the opening inside the cavity and absorbs infrared rays radiated by the target. The temperature measuring part measures output signals of the thermoelement, thereby measuring the temperature of the target. The thermoelement includes a hot junction plate, a cold junction plate, and a thermoelectric structure. The cold junction plate is arranged separately from the hot junction plate. The thermoelectric structure is interposed between the hot and cold junction plates. [Reference numerals] (AA,BB) Hot blast;
Abstract translation: 目的：提供使用热电偶的温度测量装置和温度测量方法，以便能够消除由红外线吸收窗口产生的气流导致的热电偶表面的温度变化，使得热电偶能够输出稳定的信号 并且红外线吸收窗使得能够防止热电偶被污染。 构成：使用热电偶（140）的温度测量装置（100）包括主体部分（122）和温度测量部分（110）。 主体部分包括面向目标（172）的开口（126）和连接到开口的空腔（124）。 热电元件布置在面向腔内的开口的位置处，并吸收由靶辐射的红外线。 温度测量部件测量热电偶的输出信号，从而测量目标温度。 热电元件包括热接合板，冷接合板和热电结构。 冷接板与热接线板分开布置。 热电结构介于热连接板和冷接合板之间。 （附图标记）（AA，BB）热风;
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公开(公告)号：KR101237958B1
公开(公告)日：2013-03-26
申请号：KR1020100093965
申请日：2010-09-28
Applicant: 한국표준과학연구원
IPC: G01N25/00
Abstract: 본 발명은 시료의 적외선 광학 특성 동시 측정방법에 관한 것으로, ⅰ) 흑체의 복사량(L
b )을 측정하여 장치의 민감도(R(λ))를 산출하는 단계, ⅱ) 제1기판의 제1복사율(ε
sub1 ) 및 제2기판의 제2복사율(ε
sub2 )을 산출하는 단계, ⅲ) 상기 제1복사율을 갖는 상기 제1기판을 히터 및 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 소정 온도에서 상기 시료의 제1복사량을 산출하는 단계, ⅳ) 상기 제2복사율을 갖는 상기 제2기판을 상기 히터 및 상기 측정 대상 시료 사이에 위치시켜 상기 소정 온도에서 상기 시료의 제2복사량을 산출하는 단계, ⅴ) 상기 제1기판의 제1 겉보기 복사율(ε
*
1 ) 및 상기 제2기판의 제2 겉보기 복사율(ε
*
2 )을 산출하는 단계 및 ⅶ) 상기 제1복사율(ε
sub1 ), 상기 제2복사율(ε
sub2 ), 상기 제1 겉보기 복사(ε
*
1 )율 및 상기 제2 겉보기 복사율(ε
*
2 )을 이� �하여 상기 시료의 복사율(ε
s ), 투과율(T
s ) 및 반사율(r
s )을 산출하는 단계를 포함한다.
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